324597

Номер патента: 175584

Опубликовано: 01.01.1965

МПК: H01J 47/00, H01J 49/44

Метки: анализатор, заряженных, кинетическим, частиц, энергиям

...создается тормозящее заряженные стицы поле. Внутренний электрод имеег кольцевые щели д и 4, расположенные на г котором расстоянии одна от другой по о прибора,Источник заряженных частиц 5 размещается на оси прибора, Он так же, как и внутренний электрод, находится под нулевым потенциалом. Взаимное расположение источника и кольцевых щелей выбирается таким образом, чтобы центральный луч ионного пучка, попадающий от источника через щель г в область между цилиндрическими электродами, образовал с осью Л прибора угол а=4220.Внешнему электроду сообщается потенциалЬ, абсолютная ьеличина которого должнаУ 1 нхбыть не менее, чем --- 1 где гг - зарядгчастицы, г - кпнематическая энергия частиц), а знак должен совпадать со знаком анализируемых частиц....

Номер патента: 1597968

Опубликовано: 07.10.1990

Авторы: Ашимбаева, Горелик, Жуков, Зашквара, Зверева, Трубицин

МПК: H01J 49/44, H01J 49/48

Метки: анализатор, заряженных, частиц, энергетический

...к их энергии у входной кольцевой прорези 3).Потенциалы Чф 1 и Чф 2 должны обеспечивать положение изображения источника вплоскости входной щели анализатора при различных степенях торможения электронов Сфокусированный пучок электронов с30 энергией, уменьшенной в М раз, через входную кольцевую прорезь 3 попадает в пространство между цилиндрическими электродами 1 и 2. Далее под действиемотрицательного потенциала Ч, поданного на35 внешний цилиндрический электрод 2 с источника 14, электроны отклоняются к внутреннему цилиндрическому электроду 1 ичерез выходную прорезь 4 и апертуру диафрагмы 12 попадают на вход приемника 1340 электронов,Анализатор имеет полосовую функциюпропускания, т,е. на вход приемника 13электронов попадают...

Номер патента: 1525754

Опубликовано: 30.11.1989

Авторы: Викулов, Пищулин, Соловьев

МПК: G01T 1/29

Метки: заряженных, пучка, сгруппированного, средней, частиц, энергии

...и при обеспечении равенства их чувствитель костей 8 и Я приведенную скорость определяют из соотношения для интен-., сивностей оптического излучения на вывыходе модулятора бегущей волны Д 6 и насф 25 ы п 1 1где ы= 2 ГГ,частота следования сгустков частиц;угол ввода оптического излучения в модулятор бегущей волны;скорость света;показатель преломления электрооптического кристалла модулятора бегущей волны. выходе модулятора стоячеи волныГ юи 13 е 1зп ------ -)-ьс совр Злектрооптнческий модулятор 11 бегущей волны и электрооптический модулятор 7 стоячей волны выполнены в виде волноводных оптических каналов 16 на поверхности электрооптического . кристалла 17, обеспечивая верхннюграничную частоту полосы пропусканиямодулятора до 20 ГГц,...

Номер патента: 293504

Опубликовано: 01.01.1971

Авторы: Коваленко, Поленов, Хазанов

МПК: G01T 1/17

Метки: анализатор, заряженных, частиц, электростатический

...характеристик и исключение влияния краевых полей на падающий,поток заряженных частиц.Для этого пластины отклоняющего конденсатора выполнены из полупроводящего материала, отклоняющее напряжение между которыми приложено со стороны выходного окна анализатора, а со стороны входного окна пластины заземлены.Предлагаемое изобретение поясняется чертежом.Анализатор состоит из пластин отклоняющего конденсатора 1, источника 2 питания и детектора 3,В анализаторе разность потенциалов междупластинами конденсатора и соответственно напряженность поля возрастает при движении частиц от входа к выходу анализатора. Вме сте с этим возрастает сила, действующая начастицы и, следовательно, уменьшается радиус кривизны траектории частиц. Условием прапускания...

Номер патента: 321165

Опубликовано: 05.10.1974

Авторы: Коваленко, Поленов, Ремизов, Хохлов

МПК: G01T 5/00

Метки: анализатор, заряженных, частиц, электростатический

...потока частиц, а после точки перегиба выполнен из сплошного полулроводникового материала, находящегося в точке А в электрическом контакте с сеткой, Внутренний электрод тора, находящийся в электрическом контакте с внутренней полусферой, до точки перегиба А выполнен из сплошного полупроводниколичивать угол поля зрения анализатора за счет увеличения зазора ф между электродами или их размеров нецелесообразно, поскольку увеличение зазора при сохранении величины среднего радиуса траектории частиц в анализаторе Яо приФ водит к увеличению отношения и, соответственно, к ухудшению энергетического разрешении пропорциональЕо, ного величине , а увеличение радиу- йй вого материала, а после точки перегиба довыходного окна - из электропроводного...