Способ диагностики низкотемпературной плазмы
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
О П И С АН И Е ИЗОБРЕТЕНИЯ 315103 Союз Советских Социалистических РеспубликК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Зависимое от авт. свидетельства-Заявлено 31.111.1970 ( 1420932/26-25)с присоединением заявкиб 01 п 23/02 иоритет Комитет по делазобретеиий и открытийУДК 533.9.08(088.8) Опубликовано 211 Х,1971. Бюллетень28Дата опубликования описания 02.Х 1.1971 ри Совете Мииист СССРАвторы зобретения Н, Пятницкий В, Коробкин ергетический институт им. Г. М. Кржижановско аявитель СПОСОБ ДИАГНОСТИКИ НИЗКОТЕМПЕРАТУРНОЙ ПЛАЗМЫ Изобретение относится к способам диагностики плазмы с низкими значениями концентрации и температуры заряженных частиц методом рассеяния света.Известен способ диагностики плазмы методом рассеяния света, собранного под двумяразными углами рассеяния, заключающийсяв получении сигналов, пропорциональных интенсивности рассеянного света.Известный способ имеет тот недостаток,что, в случае низкотемпературной плазмы,при низких концентрациях и температурах заряженных частиц, паразитная засветка отцентральной линии, находящейся на линиизондирующего излучения и обусловленной наличием рассеяния на нейтральных и гетерогенных частицах, присутствующих в плазме,препятствует надежной регисграции электр яи;:й компоненты спектра рассеяния.Целью данного изобретения является усгранение этого недостатка.Достигается это тем, что регистрируют сигнал, пропорциональный разности интенсивностей спектров, рассеянных под разными углами. При этом углы рассеяния подбираюгтак, чтобы интенсивности спектров на частотезондирующего излучения были равны, а спектральные распределения электронных компонент в достаточной для регистрации степениотличались друг от друга.Предложенный способ основан на резуль.татах экспериментальных исследований, согласно, которым установлено, что в низкотемпературной плазме спектральное распределе ние электронной компоненты сильно зависитот угла рассеяния, тогда как спектр, обусловленный указанными паразитными засветками, с изменением угла рассеяния практически остается неизменным. Благодаря этому можно 0 подобрать такие два угла рассеянияпри которых разность спектров рассеяния будет состоять в основном из электронной компоненты. 15 Таким образом, способ измерения заключается в следу ющем, В соответствии с индикатрисой рассеяния света на нейтральных и гетерогенных частицах подбира;от такие углы рассеяния, при которых интенсивности указан ных видов рассеяния одинаковы. Из всех воз.можных пар углов используют такую, для ко.торой различие в спектральном распределении электронной компоненты при прочих ран ных условиях возрастает с увеличением раз.25 ницы между углами рассеяния. Затем регистрируют сигналы, пропорциональные разности интенсивностей спектров, рассеянных под двумя выбранными углами, и по спектру разности электронных компонент определяют пара метры элекгронов плазмы.315103 Предмет изо бретения Составитель Б. КононОВРедактор И, В. Квачадзе Техред 3. Н, Тараненко Корректор Л. А. Царькова Заказ 3154/4 Изд. М 1325 Тираж 473 Подписное ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР Москва, Ж 35, Раушская наб., д, 4/5Типография, пр. Сапунова, 2 Способ диагностики низко температурной плазмы методом рассеяния света, заключающийся в регистрации спектра рассеянного света, собранного под двумя разными углами рассеяния и получении сигналов, пропорциональных интенсивности рассеянного света, отличающийся тем, что, с,целью создания возможности регистрации электронной компоненты спектра рассеяния на фоне большой зас.ветки от рассеяния на гетерогенных частицах, присутствующих в низкотемпературной плазме, регистрируют сигнал, пропорциональный 5 разности интенсивностей спектров, рассеянныхпод разными углами, при этом углы рассеяния подбирают так, чтобы интенсивности спектров на частоте зондирующего излучения были равны,10
СмотретьЗаявка
1420932
Л. Н. тницкий, В. В. Коробкин Энергетический институт Г. М. Кржижановского
МПК / Метки
МПК: G01N 23/02
Метки: диагностики, низкотемпературной, плазмы
Опубликовано: 01.01.1971
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-315103-sposob-diagnostiki-nizkotemperaturnojj-plazmy.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ диагностики низкотемпературной плазмы</a>
Устройство для измерения рассеянного света в спектрах дифракционных решеток
Номер патента: 1000777
Опубликовано: 28.02.1983
МПК: G01J 3/18
Метки: дифракционных, рассеянного, решеток, света, спектрах
...решетки "духи" 14,образующие в совокупност рассеянныйсвет, вызванный ошибками деления.На фиг. 2 представлены "духи", соот-,ветствующие двум любым последователь.ным (К и ( К + 1)-йгармоникам вразложении функции случайных ошибокделения дифракционной решетки; результаты интерференции двух смежных"духов" 15 и 16 при различных положе.ниях прямоугольной диафрагмы 9 и относительно исследуемой дифракционной решетки 5. .ЭПредлагаемое устройство работаетследующим образом.При освещении входной щели 3 излу.чением.т источника 1 монохроматора2 с исследуемой дифракционной решеткой 5 образует в плоскости выходнойщели 6 спектраьное иэображение. Оносодержит спектральную линию 1 и суммарный фон, включающий в себя фонпомеху 12, обусловленную...
Устройство для диагностики плазмы методом рассеяния света
Номер патента: 293497
Опубликовано: 01.01.1971
Авторы: Государственный, Коробкин, Тницкий, Хаустович
МПК: G01J 1/04
Метки: диагностики, методом, плазмы, рассеяния, света
...под разными углами с использованием одного эксикона. 25Для этого диафрагма с центральным отверстием заменяется кольцевой щелевой диафрагмой с защитными экранами.На фиг. 1 и 2 представлены два варианта устройства, содержащего параллельный пу дирующего излучения, ловушку 2 лаизлучения, эксикон 3, фокусирующую диафрагму 5 с кольцевым отверстиан 7 и регистратор 8.ыходящий из эксикона д под углом р ской оси, пересечет главную фокальскость фокусирующей линзы на расг=р/, где / - фокусное расстояние С другой стороны, нетрудно пока- угол р связан с углом рассеяния О, ксикона у и показателем преломлеатериала эксикона 3 соотношением Так как /, у и п - постоянные величины, то свет, рассеянный под одним и тем же углом, сфокусируется линзой 4 в...
Устройство для диагностики плазмы методом рассеяния света
Номер патента: 279812
Опубликовано: 01.01.1970
Авторы: Государственный, Коробкин, Тницкий, Хаустович
МПК: G01N 9/24
Метки: диагностики, методом, плазмы, рассеяния, света
...направлениях, то один из них (в данном случае луч 4) содержит весь полезный сигнал и вертикальную компоненту шума плазмы, а другой (луч 5) - только шум плазмы, точнее его горизонтальную компоненту. Каждый луч поступает на свой фотоумножитель 6 или 7,Так как обе компоненты шума плазмы в лучах 4 и 5 когерентны, то достаточно теперь вычесть из сигнала ФЭУ 6 сигнал ФЭУ 7, чтобы скомпенсировать шум плазмы и получить полезный сигнал, в значительной степени очищенный от шума плазмы. Обычно в радиотехнике такое вычитание сигналов производят после дополнительного усиления. Однако в данном случае этот способ является неудовлетворительным ввиду того, что сигнал от рассеяния очень мал по амплитуде, обычно он составляет порядка 10 - 14...
Устройство для диагностики плазмы методом рассеяния света
Номер патента: 1318860
Опубликовано: 23.06.1987
Автор: Голдинов
МПК: G01N 21/47
Метки: диагностики, методом, плазмы, рассеяния, света
...электрооптические элементы 9и 10 и анализаторы 11 и 12 составля - 35ют два ортогонально ориентированныхэлектрооптических затвора.Устройство работает следующим образом.В исходном состоянии (до прихода 40рассеяния) управляющий импульс напряжения на электрооптических элементах 9 и 10 (Фиг.2) отсутствует, врезультате чего электрооптическиезатворы в обоих плечах светоделительного блока (Фиг.2) оказываются перекрытыми для входного светового потока, что реализует работу фотоумножителя в импульсном режиме,В известный момент времени, предшествующий моменту появления полезного сигнала рассеяния, на электрооптические элементы 9 и 10 (фиг.2)одновременно подается,полуволновойимпульс напряжения на время сущест-6вования полезного сигнала (ь 10 с)Так...
Устройство для измерения индикатрис рассеяния света
Номер патента: 1481649
Опубликовано: 23.05.1989
Авторы: Коваленко, Столяров, Таразанов
МПК: G01N 21/01
Метки: индикатрис, рассеяния, света
...проходящими через центры зеркал 11 и 12 и ось симметрии кольцевых зеркал 8 и 9,При попадании отраженного зеркалом 10 нерассеянного потока излучения на оптический вход фотоприемника13 на его электрическом выходе возникает сигнал, пропорциональный интенсивности этого потока. Для регистрации величины нерассеянного потокасигнал фотоприемника 13 подается навторой вход коммутатора 28, на первыи вход которого поступает сигналфотоприемника 14 рассеянного иэлуче"ния. В процессе развертки по углуна электрических выходах приемников4 и 15 рассеянного излучения и вспомогательного канала возникают идентичные по амплитуде, но сдвинутыево времени, электрические сигналы,несущие информацию о рассеивающихсвойствах исследуемого объекта. Дляобеспечения...
Предыдущий патент: Интерферометр для диагностики плазмы
Следующий патент: Устройство для развертки изображений при рентгеновской дифракционной топографии монокристаллов
Случайный патент: Способ приготовления катализатора для окисления акролеина в акриловую кислоту