Способ контроля качества пленочных резисторов

;стек 1"Ббио ио 34236 ОП КСАН ИЕИ ЗОБРЕТЕ Н ИяК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз Соеетсних Соииалистичесних РеспуолинЗаявлено 30.1.1970 ( 1402950/26-9 заявки Ъо с присоединение Комитет по асламоретеннй и отнрытийи Спеете йннистоцСССРбликовапо 07 та опубликования описания 27,Х 11.1971 Авторыизобретен В. Н. Гулящев и Н. М. Тихомирова Заявитель СПОСОБ КО 11 ТРОЛЯ КАЧЕСТВА ПЛЕНОт 1 НЪХ РЕЗИСТОРО Изобретение отноаится к изводства элементов радиоа жет быть, использовано для ва резистивной пленки и к одов ненарезанных неок торов. технологииппаратурыколтроля контакт,ныхашенных про- мо- чест- ере- зисИзвестен способ контроля качества пленочных резисторов путем сравнения, внешнего венда резистора с некотэрым эталоном.Целью изобретения является объективная оценка качества пленочных резисторов, позволяющая обнаружить дефекты денарезанных неокрашенных резисторов и их контактных переходов,Это достигается использованием четырехзондового метода измерения, когда токовые зонды электричеаки созмещают с контактными узлами резисторов, потенциальные зонды располагают,в пдоскосслнеперпендикулярной оси резистора, параллельно один другому, к токовым зондам прнхладывают определенное напряжение, резистсру придают вращательно-поступателыное движение с шагом, равным расстоянию между потенциальными зондами, с помощью которых непрерывно определяют градиент напряжения вдоль резгистивного элемента, резистора, а о дефекпности резистэра судят по величине отклонения папряжения аа потенциальных зондах от эталонного уровня,2На фнг. 1 изображена,схема контроля нснарезного неокрашенного резистора; на фланг. 2 - -схема контроля дефектов контактных переходов,резистора.Для обнаружения дефектов ненарезанного неокрашенного резистора токовые зонды 1 электрически совмещают с контактными узламги 2,резистора 3. Потенциальные зонды 4 устанавливают ва небольшом расстоянии друг от друга в плоскости, неперпендикулярной оси резистора, параллельно одид другому. Этэ положение потенциальных зондов позволяет обнаружить наиболее опасные дефекты 5, которыми являются неоднородноспи го направляющей цилиндрической поверхности резистора. Потенциальные зонды 4 приводят,в упругое соприкосновение с,резистивным элементом 6 резистора, к токэвым зондам прикладывают определенное напряжс. нис, а и потенциальным зэпдам - сэответствующее компенсациэнное напряжение. Резистору 3 придают вращательно-поступательное движение с шагом, раввым расстоянию между потенциальными зондами, что обеспечивает однократное прохождение каждого участ. ка резистивного элемента между этими зон. дами, По показаниям регистрирующего прлбора 7 судят о величине отклонения напря. жения на потенциалиых зондах от эталон. ного уровня, определяя тем, самым дефект.Заказ 5587 Изд. М 1235 Тираж 473 1 нодгпспоеЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Мгипсров С сМосква, Ж.35, 1 заушскаи, нао., д: 4/5 Загорска гипографпи цосгь рсзосгора, 11 рц кон ролс котак ных переходов,неокрашенного резистора обнаружение дефектов производят одноврсмснно,на обоих переходах. Для этого токовые зонды 1 и одцоимен,ныс,им потенциальные зонды 4 совмещают с контактными узлами 2, два дру,гих потеящиальных зонда 4 располагают ца резистивном элементе 6 у края соответствующего контактного перехода. К токовым зондам прикладывают соответствующее цапрязке 1 тие, к потенциальным - соответствуоцсс компснсационвое напряжение, а резистору 3 придают вращательное движе 1 нис. По показаниям реыетрируолго прибора 7 судят о ве- .1 чи 11 е отклонения напряжеция на каждой парс потенциальць 1 х зондов от эталонного уровня, определяя дефектность перехода. 1. Способ контроля качества пленочных резисторов, основанный на четырехзоцдовом методе измерения, отличающийся тем, что, с целью обнаружения дефектов ненарсзацных цсокрашецных резисторов, токовые зонды электрически ссвмещаот с контактными узлами резистора, потснцяалыные зонды располагают в плоскости, цспср 1 снд 11- кулярной оси резистора, параллельно одиндругому, к токовым зондам прикладываютопределегцное напряжение, резистору придают5 вращательно-поступательное,движение с шагом, равным расстоянию между потецциальными зондами, с помощью которых непрерывно определяют градиент напряжениявдоль резистивного элемента резистора, а о1 О дефектности резистора судят по величине отклонения цапряжения на потенциальных зондах от эталонного уровня,2. Способ по п. 1, отличающийся тем, что,с целью обнаружения дефектов контактных15 псрсходов неокрашенных резисторов, токовысц одноименные им потенциальные зонды совмещают с контактными узлами, два другихпотецциалыных зонда располагают нарезистивном элементе вблизи краев20 соответствующего контактного перехода, к токовым зондам прикладывают опредсленцое напряжение, резистору придают вращательное движение, а о дефектгности перехода судят по величине отклоцецгия цапряже 25 ция на каждой паре потенциальных зоцдовот эталонного уровня.