Устройство для определения амплитудымаятникаколебаний

Номер патента: 1385121

Опубликовано: 30.03.1988

Авторы: Миронов, Яшин

МПК: G04D 7/12

Метки: амплитуды, баланса, колебаний, механических, часов

...(фиг.2 ж). Одновременно с запуском блоков 9 и 10 на первом входе первой логической схемы И 8 устанавливается уровень "1". Импульсы опорной частоты Йс блока 19 начинают проходить через логическую схему И 8 на счетный вход счетчика 18. Счетчик .18 начинает счет импульсов опорной частоты эа время, равное длительности лрямоугольного импульса, формирующегося на выходе триггера 7. При запуске ждущего мультивибратора 9 на его выходе формируется прямоугольный импульс длительностьюТн ( А Тмкс +.2 2 где- номинальный полупериод коТн2лебаний баланса;- максимально допустимое отклонение текущего полупериода колебаний балансаот своего номинальногозначений;С - время, необходимое для выполнения команд, поступающих с выходов блока 15управления...

Номер патента: 1469535

Опубликовано: 30.03.1989

Авторы: Букчин, Груша, Кирияйнен

МПК: H03B 5/32

Метки: автоматической, амплитуды, гармонических, генератор, колебаний, стабилизацией

...Б, которое совместно с напряжением смещения воздействует на элемент 11 и устанавливает активную часть 1 в режим 9., = 9, соответствующий Ц, При воздействии дестабилизирующих Факторов (изменение температуры, изменение питающего напряжения) угол отсечки 9. изменяется и отличается от Е. При 9 с 9(фиг. 2, точка 3) напряжение второй (И+1)-й гармоники возрастает, что приводит к увеличению отрицательного напряжения на выходе амплитудного детектора 5 и уменьшению управляющего положительного напряжения на элементе 11. Сопротивление элемента 11 возрастает, а напряжение на базе транзистора 2 активной части 1 уменьшается. Это приводит к уменьшению напряжения второй гармоники до величины, соответствующей фиг. 2, точка 1, а следовательно, и к...

Номер патента: 172064

Опубликовано: 01.01.1965

Автор: Бараш

МПК: G01H 9/00

Метки: амплитуд, колебаний, механических, синусоидальных

...зеркало, укрепленное на вибраторе, осциллограф, неподвижное зеркало, щель, фотоумножитель, катодный повторитель и микрометрический винт. Движущаяся интерференционная картина через щель подается на фотоумножитель, с выхода которого электрический сигнал подается на катодный повторитель фотоумножителя и далее на осциллограф.На чертеже изображена кривая, представляющая собой выходноп электрический сигналСоставитель Л. А, Колюбахинкина Текред Ю, В. Баранов Козлов едактор Б рректор 1 каз 6325 Тираж 650 Формат бум. 60;:;901,а Объем 0,16 изд. л, Цена Ь коп. ЦНИИПИ Государственного комитета по делам изобретений и открытий СССР Москва, Цепр, пр. Серова, и. 4 Типограф р. Сапунова,фотоумножителя, получаемый на экране осциллографа.Моменты 1 и 2...

Номер патента: 63164

Опубликовано: 01.01.1944

Автор: Койфман

МПК: G01N 3/50

Метки: декременту, качаний, маятника, прибор, твердости, царапанием

...2, явлчетсяшаро шкооб разное, цилиндрическоеилп с игольчатой, зубчатой или звездообразной поверхностью тело 3,свободно вращающееся в ципфе 4рычага 1, связанного шарниром 5 смаятником 6. Маятник колеблетсяна призме 7 (илп на шарнире), опирающейся на подставку 8.Рычаг 1, в цапфе которого вращается тело 3, нагружается с однойпли двух сторон съемными грузампо, 10. Стрелка 11 рычага 1 указь:вает на шкале 12 амп;штуды колебаний.При проведении испытаний рычагс телом 3 прижимается к испытуемому телу под определенной нагрузкоп, маятник отводится на определепну 1 о амплитуду и отпускается,При перекатывании по материалу 2 выступы тела 3 внедряются вповерхностные слои материала 2.В зависимости от прочности связки, расход энергии,...

Номер патента: 1379614

Опубликовано: 07.03.1988

Авторы: Ильин, Левковский, Нелюбин, Шерман

МПК: G01B 11/16

Метки: деформаций, изделия, поверхности

...лазерного луча изменяется, паз 345 деформируется, то отраженный луч смещается на экране 6, и по этому смещению судят о величине малых деФормаций.Деформация паза 3 может быть различной в зависимости, например, от дефектов, которые встречаются на пути упругой волны, Чтобы продефек-тоскопировать по всей длине иэделия, лазерный источник 5 смещается вдоль паза 3. Чтобы продефектоскопировать по высоте изделия, выполняют необходимое число пазов 3 по высоте иэделия и повторяют смещение лазерного источника 5, отмечая отклонения отраженного луча на экране 6 по отношению к нейтральному положению отраженного луча невозбужденного изделия 1. В процессе измерений анализируется также спектральный состав колебаний отраженного луча на экранеВ...