Патенты с меткой «царапанием»

Номер патента: 20367

Опубликовано: 30.04.1931

Автор: Койфман

МПК: G01N 3/46, G01N 3/58

Метки: декременту, качаний, маятника, прибор, твердости, царапанием

...к маятнику ЯЕ (фиг. 1 и 2), опирающемуся призмой на подвеску Р (фиг, 1) и снабженномууказателем К со шкалою в для отсчета и измерения амплитуд. Грузы О служат для уравновешивания маятника и приведения его к нулевой точке отсчетной шкалы в.Испытуемый образец устанавливается на столикукрепленный в супорте, перемещаемом с помощье микрометренных винтов в трех взаимно перпендикулярных направлениях, при чем столик может быть снабжен вращающейся водиет пате нта. бора для определения по декремеО выдаче патента опубликовано 3 няется на 15ОБРЕТЕНИЕ Действие патента распростра31 года. круг вертикальной оси пластинкой для прикрепления образцов. Вращение пластинки может быть также использовано для изменения направления царапания. Для...

Номер патента: 63164

Опубликовано: 01.01.1944

Автор: Койфман

МПК: G01N 3/50

Метки: декременту, качаний, маятника, прибор, твердости, царапанием

...2, явлчетсяшаро шкооб разное, цилиндрическоеилп с игольчатой, зубчатой или звездообразной поверхностью тело 3,свободно вращающееся в ципфе 4рычага 1, связанного шарниром 5 смаятником 6. Маятник колеблетсяна призме 7 (илп на шарнире), опирающейся на подставку 8.Рычаг 1, в цапфе которого вращается тело 3, нагружается с однойпли двух сторон съемными грузампо, 10. Стрелка 11 рычага 1 указь:вает на шкале 12 амп;штуды колебаний.При проведении испытаний рычагс телом 3 прижимается к испытуемому телу под определенной нагрузкоп, маятник отводится на определепну 1 о амплитуду и отпускается,При перекатывании по материалу 2 выступы тела 3 внедряются вповерхностные слои материала 2.В зависимости от прочности связки, расход энергии,...

Номер патента: 195686

Опубликовано: 01.01.1967

Авторы: Беркович, Емель

МПК: G01N 3/46, G02B 21/26

Метки: испытания, микротвердость, прибор, царапанием

...изображен описываемый при бор в двух проекциях.Прибор содержит измеригельный микроскоп 1, механизм 2 нагружения и предметный столик, перемещаемый в горизонтальной плоскости в двух противоположных направлециях, 2 Столик выпогонен в виде подпружиненных одна относительно другой в вертикальном направлении двух плит 3 и 4 ц снабжен неподви 5 кно закреп,тенИэ 5 х Ив верхней плите индексом3 Прибор работает следующим образом. После выбора по металломикроскопу б на образце 7 места для нанесения царапины головку 8 этого микроскопа поворачивают до упора так, что на место объектива 9 устанавливается механизм нагружения, и алмазная пирамида 10 строго располагается на выбранном месте образца для нанесения царапины. Затем арретируют шток 11. При...

Номер патента: 676908

Опубликовано: 30.07.1979

Авторы: Бердинских, Голего, Запорожец, Исак

МПК: G01N 3/46

Метки: прибор, твердости, царапанием

...электромагнитом 1,Кроме того, к датчику б подключены последовательно соединенные преобразователь 11 аналог-код, запоминающее устройство 12, амплитудно-частотный анализатор И, генератор 14 ортогональных функций.К амплитудно-частотному анализатору18 подключено запоминающее устройство15, к которому подключены схема 16 сравнения, регистрирующий прибор 17 и блок18 эталонных сигналов.Прибор работает следующим образом.При подъеме предметного стола 8 следящий рычаг 8 соприкасается с поверхностью образца 4 и начинает подниматься,а сигнал с датчика б уменьшается, Когдаопорный конец рычага 3 находится на одном уровне с индентором 2, пороговое устройство б срабатывает и выдает сигнал навключение источника 7 опорного напряжения и электродвигателя...

Номер патента: 1290143

Опубликовано: 15.02.1987

Авторы: Волчок, Колотилкин

МПК: G01N 3/46

Метки: испытания, царапанием

...2, колонной3 с измерительным микроскопом 4 иэлектроприводом 5 столика 2. Накронштейне 6 измерительного микроскопа закреплен нагружающий узел 7с грузом 8 и индентором 9. В качестве индентора использован ролик суглом заострения 105-110 С, установоленный с возможностью вращения вокруг своей оси. Электропривод соединен состоликом 2 разъемной муфтой 10. Вкачестве материала индентора 9 может быть использован твердый спеченный сплав;Устройство работает следующимобразом,Испытуемый образец устанавливаютна предметный столик 2 и фиксируютприжимами (не показаны). Перемещаястолик 2 в поле зрения измерительно-го микроскопа 4, выбирают место испытания. Поворачивают столик 2 на180 вокруг оси. При помощи разъемной муфты 10 соединяют его с...