Высокочастотный электромагнитный способ
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
О П Й С А Н"И Е ИЗОБРЕТЕНИЯ 3 ЗПФ Союз Советских Социалистических РеспубликК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Зависимое от авт, свидетельстваЗаявлено 02.Х 11,1967 ( 1200338/26-25)с присоединением заявкиПриоритетОпубликовано 31,Л 11.1971. Бюллетень ЛДата опубликования описания 18.Х.1971 МПК б 01 г 31/2 Комитет по деламизобретений и открытипри Совете МинистровСССР К 621.382:531.717.52 (088.8) Авторы изобретени Ю. К. Григулис и О. К, Альена ико-энергетический институт АН Латвийской Сявител ЫЙ ЭЛЕКТРОМАГНИТНЫЙ СПОСОБЩИНЫ МЕТАЛЛИЧЕСКИХ ПЛЕНОКНА НЕМЕТАЛЛАХ ВЫСОКОЧАСТОТИЗМЕРЕНИЯ Т влять измерение среднеи толщины между достаточно удаленными точками.Изобретение поясняется чертежом, на котором представлена схема измерения, где 1 - высокочастотный генератор, 2 - измерительный элемент, д - измерительный блок, 4 - металлическая пленка, 5 - основа пленки, б, 7 - электроды измерительного элемента,Высокочастотный генератор 1 возбуждает при помощи измерительного элемента 2, имеющего емкостную связь с контролируемым объектом, высокочастотный ток в контролируемом покрытии 4. Пластину 5 с покрытием 4 кладут на один из электродов б измерительного элемента 2, при этом между электродом 7 и покрытием имеется емкостная связь. С помощью стрелочного прибора, находящегося в измерительном блоке 3, измеряют выходное напряжение, характеризующее изменение полного сопротивления (импеданса) измерительного элемента от толщины покрытия. дмет изобретен тй способ пленок нас целью покрытий странения икповения Высоизмеренеметаизмерена полвлияни Изобретение относится к области пленочной микроэлектронной техники, в частности, к области контроля и измерения толщины тонких металлических пленок, нанесенных на полупроводниковые или диэлектрические структу ры.Известен высокочастотный электромагнитный способ контроля, когда поле создается электроиндуктивным датчиком. Недостатком этого способа измерения является значитель ная погрешность измерения как толщины пленок, нанесенных на полупроводниковые структуры с диффузионными слоями, так и средней толщины пленки, нанесенной на больших площадях пленок. 15Цель изобретения - создание бесконтактного способа измерения средней толщины тонких металлических пленок, нанесенных на больших площадях или полупроводниковых структурах и устранение влияния диффузион ного слоя на результаты измерения и возникновения гальванических токов.Для достижения цели используют токи высокой частоты, которые создаются полем электродов емкостного датчика. Поскольку поле 25 обеспечивает возникновение поверхностных высокочастотных токов, то имеется возможность подавления влияния диффузионного слоя и устранения причин возникновения гальванических токов. При этом можно осупдест(очастотныи электромагнитн ия толщины металлических лах, отличатощийся тем, чт ия толщины металлических проводниковых пластинах, диффузионного слоя и возиЗаказ 2895/4 Изд.1201 Тираж 473 Подписное1 НИИПИ Комитета по делам изобретений и окрытий при Совете Министров СССРМосква, )К, Раушская наб., д. 4/5 Типография, пр. Сапунова, 2 гальванических токов, возбуждают высокочастотный ток в тонком поверхностном слое при помощи электродов с емкостпой связью, определяют напряжение на измерительном элементе, характеризующее пзмспспис импедапсаизмерительного элемента от толщины покрытия, и по величине импеданса из: еряют толщину покрытия.
СмотретьЗаявка
1200338
Ю. К. Григулис, О. К. Альена Физико энергетический институт Латвийской ССР
МПК / Метки
МПК: H01L 21/66
Метки: высокочастотный, электромагнитный
Опубликовано: 01.01.1971
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-313179-vysokochastotnyjj-ehlektromagnitnyjj-sposob.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Высокочастотный электромагнитный способ</a>
Предыдущий патент: Установка для испытания выключателей на отключающую способность
Следующий патент: Измеритель электрофизических свойств полупроводниковых слоев
Случайный патент: Устройство для решения дифференциальных уравнений