305717

Номер патента: 775633

Опубликовано: 30.10.1980

Авторы: Загромов, Куликов

МПК: G01K 7/00

Метки: между, металлическую, нанесенного, поверхностями, подложку, покрытия, противоположными, разности, температур

...подложки безразмер.- у ная избыточная температуры поверхlности покрытия 9 р будет изменяться также, как и температура подлож 1 Уки 6 св случае, если таким же потоком действовать со стороны покрытия, т.е. будет выполняться тождество( 11К м А=Окоторое в размерном виде можно записать как3( о-):011 О,где д(Цх,С)-1 о) - избыточная температура образца.Помимо таких Факторов, как неодномерность температурного поля, зависимость теплофизкческих свойств от температуры, устраняемых общеизвестными способами, решающую роль в отклонении условий. эксперимента от теоретических играет конечность величины теплолроводности материала лодложки, оценка влияния которой сделана путем сравнения решения задачи для случая, когда теплолроводность материала...

Номер патента: 528603

Опубликовано: 15.09.1976

Авторы: Атспупенас, Рагульскис, Скучас

МПК: G11B 15/62

Метки: головки, зазора, записи, магнитной, между, носителем, поверхностью, рабочей

...следующим образом.При поступлении на вход блока 2 знакопеременного сигнала с изменяющейся амплитудой, воспроизведенного с магнитного носителя магнитной головкой 1, на выходе блока 2 получается однополярный сигнал, После дифференциирования однополярного сигнала блоком дифференциирования 14 и формирования его формирователем 15 получается сигнал, продолжительность которого равна половине очередной полуволны выходного сигнала блока 2, Этот сигнал поступает на управляющий вход блока слежения-хранения 4, на второй вход которого поступает выходной сигнал блока 2. При этом блок слежения-хранения 4 во время первой половичы каждой полуволны сигнала работает в режиме слежения, а во время второй половины при появлении сигнала с выхода...

Номер патента: 691675

Опубликовано: 15.10.1979

Авторы: Волошко, Иванова, Щеголев

МПК: G01B 5/14

Метки: двумя, зазора, между, поверхностями

...четыре подпружиненных штифта, каждый из которыхснабжен своим стопорсм 11110Однако наличие в таком устройствечетырех стопоров измерительных штифтов снижает производительностьизмерения и вносит погрешность в результат измерения эа счет различногоусилия зажима. Крсме того, в иэвестнсм устройстве отсутствуют ориентирыи базовые поверхности для правильнойустановки устройства относительноизмеряемых поверхностей.Цель изобретения - повышение точности и производительности измерения.Для этого стопор выполнен в видеразмещенных в корпусе контактирующиходними своими концами с измерительными штифтами подвижных стержней,секторов,взаимодействующих своими цилиндрическими поверхностями с другими .-концами стержней, и конического Фиксатора,размещаемого...

Номер патента: 977892

Опубликовано: 30.11.1982

Авторы: Аксельрод, Жабин, Коньшина, Шевченко

МПК: F16J 15/12

Метки: зазора, кольцевая, между, поверхностями, прокладка, уплотнения, уплотняемыми

...металлическим армирующимэлементом 2, выполненным в виде каа- та, диаметр поперечного сечения которого превышает зазор между уплотняемыми поверхностями в 1, 1-1,5 раза. Примеромиспользования прокладки является присоединение отвода к боковой поверхности трубы посредством стяжеке Приэтом радиуструбы меньше радиуса седлообразной выборки на торце отвода. Полость трубы иятся под избыточным давления ко цевая пр отвода нахОДкием,о Проютадтэом. едуюшим обработа Давление средыотвода стремится олостях трубы и ить ее в макси 4) КОЛЬБЕВАЯ ПРОКЛАДКА ДЛЯ УПЛОТНЕНИЯ ЗАЗОРА МЕЖДУ УПЛОТНЯЕМЫМИ ПОВЕРХНОСТЯМИ3 977892 1мальный зазоР междУ УплотнЯемыми по- ф о р м у л а и з о б р е т е н и яверхностями. При этом участок армирующего элемента 2 приближается к...

Номер патента: 1305538

Опубликовано: 23.04.1987

Авторы: Бручас, Маченис, Печкис

МПК: G01B 21/16

Метки: двумя, зазоров, которых, малых, между, одна, поверхностями, прозрачная

...кинематически связан с микрометрическим винтом 13,Устройство работает следующим образом.При вращении микрометрического винта 13 клин 10 перемещает по направляющим 12 пьезовибратор 8 и поверхность 35 7 вводит в зону измеряемого зазора. Излучаемый источником 1 света световой поток проходит через светоделитель 2 и направляется на зазор, образуемый поверхностями 6 и 7. Отраженные этими поверхностями интерферирующие лучи светоделителем 2 направляются через светофильтр 3, который пропускает свет определенной частоты на вход фотопри-. емника 4, сигналы от которого поступают на осциллограф 5. С помощью источника 9 питания подают напряжение на пьезовибратор 8 и наблюдают осциллограммы на экране осциллографа, т.е. количество переходов светового...