Способ автоматической подналадки технологического процесса

Номер патента: 305342

Авторы: Гейлер, Маслов, Спиридонов

ZIP архив

Текст

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ ф Зависимое от авт. свидетельства М Заявлено 28.Х.1969 (Ле 1376372125-28) МПК 6 01 Ь 5,(08 исоецинением заявки Ме риоритет Комитет по деламизобретений и открыти УДК 531,7:621.9.08:658, ,562.62 (088,8) Опубликовано 04. 1971. Бюллетень Л при Совете 1 Уинистро СССРа опубликования описания 13 Л 11.9 Авторыизобретения Ш, Гейлер, Е. П. Маслов и В Спиридо Заявитель ститут автоматики и телемеханики (технической кибернет ПОС АВТОМАТИЧ ЕСКХНОЛОГИЧЕСКОГ ПОДНАЛАДКРОЦЕССА л+5 = а /а - 0 Л Изобретение относится к области управления технологическими процессами, например к размерной настройке металлорежущего станка. Изобретение может быть распрос ранено на управление теми видами технологических процессов, у которых измерение контролируемого параметра Хво времени представ. ляет су мму функционально-случайной ги собственно случайнойсоставляющих:Х = я+Известны способы автоматической полна- ладки технологического процесса, например размерной настройки металлорежущего станка, заключающиеся в том, что периодически измеряют контролируемый параметр Хформируют подналадочный импульс Ь, величину и знак которого определяют на основании сравнения результата измерения с некоторым заданным уровнем, и оказывают на процесс регулирующее воздействие, эквивалентное подналадочному импульсу, например перемещают исполнительный орган металлорежущего станка,Подналадочцый импульс принимают равнымгд+т = Хзад - аХВесовой коэффициент а выбирают, исходя из статистических характеристик процесса, стремясь обеспечить минимальное рассеивание контролируемого параметра. Благодаря применению автоматической подналадки возможно уменьшить рассеивание контролируемого параметра.Однако известные способы автоматической 5 подцаладки имеют пониженную точностьвследствие недостаточно полного учета пред.шествующей информации, так как при формировании подналадочного импульса С+, учитывают только информацию, полученную при 10 а-ном измерении, а всю предысторию процесса отбрасывают.Способы запоминания предшествующей информации на индивидуальных ячейках памяти не получили распространения вследствие 15 громоздкости реализующих пх устройств.Целью предлагаемого изобретения являетсяминимизация рассеивания контролируемого параметра.Это достигается тем, что подцаладочцый цм п 1 льс формир ют равным сумме отклонениярезультата измерения контролируемого параметра от заданного уровня и предыдущего подналадочцого импульса, взятых с соответствующими весовыми коэффициентами 25 Весовые коэффициенты а и Ь могут бытьопределены ца основании статистических ха рактеристик процесса,(4) где Л 2 е 2 2 2- 21 - е Предмет изобретения Составитель В, Романов Тскрсд Л. В. Куклина Корректоры. М. Коробова Л, Корогод1 сдактор О. Юркова Заказ 1915/17 Изд. Лов 820 Тираж 473 Под исиос ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР Москва, Ж, Раушская наб., и. 45 Типография, ир. Сапунова, 2 Выраженное двухзвенной формулой (1) рекурентнос соотношение позволяет учесть всю предыдущую информацию, поскольку оно эквивалентно равенствуСг- О(Л + ЙХп ъ + гс Х 2++ Й Х) (-) Описываемый сносоо автоматической подналадки технологического процессачается в том, что периодически измсргпот контролируемый параметр технологического процесса, например размер детали, обработанной на металлорежущем станке, сравнивают результат измерения с некоторым заданным уровнем, формируют подналадочный импульс в соответствии с соотношением 11), оказывает на процесс регулирующее воздействие, эквивалентное величине подналадочного импульса, например перемещают исполнительный орган металлорежущего ста.1 ка.Величины а и 6 в соотношении 1) определяют предварительно на основании имеющихся данных о статистических характеристиках регулируемого технологического процесса, Например, для технологических процессов, у которых функционально-случайная ри собственно случайная;составляющие распределены нормально с нулевыми средними значениями и дисперсиями соответственно о и2 Я и с корреляционной функцией для р вида -е - фп7где а - постоянный коэффициент;а, и - число изделий.Весовые коэффициенты а и О могут быть найдены как 4о / 2;,а =ед 1 - 2 з (1 - е - ") 1 (3) 15 Способ автоматической подналадки технологического процесса, например размерной настройки металлорежущего станка, заключающийся в том, что периодически измеряют контролируемый параметр процесса, резуль 20 тат измерения сравнивают с заданным уровнем, формируют подналадочный импульс переменной величины и знака в зависимости от результатов измерения и статистических характеристик регулируемого процесса и оказы 25 вают на процесс регулирующее воздействие, эквивалентное величине подпаладочного импульса, отличаоцийся тем, что, с целью минимизации рассеивания контролируемого параметра, величину подналадочного импульса оп 30 ределяют как сумму предыдущего подналадочного импульса и отклонения предыдущего результата измерения от заданного уровня, взятых с постоянными весовыми коэффициентами,35

Смотреть

Заявка

1376372

Институт автоматики, телемеханики технической кибернетики

Ш. Гейлер, Е. П. Маслов, В. Д. Спиридонов

МПК / Метки

МПК: G01B 5/08

Метки: автоматической, подналадки, процесса, технологического

Опубликовано: 01.01.1971

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-305342-sposob-avtomaticheskojj-podnaladki-tekhnologicheskogo-processa.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ автоматической подналадки технологического процесса</a>

Похожие патенты