Устройство для измерения характеристик переходов полупроводниковых приборов
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 304864
Авторы: Иванов, Нуров, Пиорунский, Федоров
Текст
фОР тируемый электронным прерывателем 4, и операционный усилитель 5 с внешнимирезистороми 6 и 7 вырабатывают прям 7 оугольнве напряжение, наложенное на постоянную составляющую, причем отношение, амплитуды прямоугольного напряжения к постоянн 7 ой сос тавляю 1 цей всегда одно и то же. Зго напряжение через резистор 8 подается на второй операционный усилитель 9, в цепи обратной связи которого имеются клеммы 1 О для О включения испытуемого р-т 1 перехода, Величина тока через испытуемый р-т 1 переход определяется выходным напряжением Операци" онного усилителя 5 и сопротивлением резистора 8. Выходное напряжение операционного б усилителя 9 (ь О) представляет собои постоянную составляю 1 цую прямого падения напряжения на испытуемом переходе, обуслов-., ленную рабочим током. д и. йалаже 1111 ое йаБее прямоугольное напряжение, обусловленное 1,Яг1 приращениемтока 671; коэффициент Отклоне 1 ния 13 13 И = - --- фУт Ь 1Прямоугольное йапряжение 6 7 через конден-б сатор 11 поступает на усилитель прямоугольного напряжения 12 с калиброванным коэффициентом усиления и измеритель напряжения 13, шкала которого проградуирована непоаред. ственгно в значения коэффициента отклонения 36 1 г 1. При коэффициенте усиления усилителя :К =40, отношении - =0,1 и температуреЬ 13окружающей среды 300 С К (37 =25 мв ; Ф показание измер.1 теля напряжения. 13 Ои) составляет: . бИ.=ц= т",т, е. можно получить прямой отсчет коаурй-. циента т 11., 1-.1 пиалкагоне Пря;,111рез о - т 1 перехэд От 3 0 наноа 1.,11, -, - ,;.-,погрешность измерения 11 оафф 171.и 81- тпревышает 3%,ПрИМСН 8111.8 ОЯИС.1 т:718 лго - ., 81серийном произьодстве 7 эволит о:-:; 1 де 7:;1надежность полупроводниковых ,р-, .эв идаст.возможность исследовать за:; --ф"= 14 1 й .-"1 т -т 7- ф) УСТРОЙ.-.ТВО 17 ИЗ 11881 тис -ы,.ат,г трпереходов 11 олупроводнико 1:ыэ; 1 аи. напримср козффиииента Откло 11811 и.:. 8:-.1 г -,.Л 7 воль 1 амперн;7 й 1 арактерИС 1 икирот идеальнэй диффузиОнной ха 1 э., содержапее задающий генератор . -. напряжения 7 два 11871 иб 1 Ованньх, параллельно од 71 ом;,7 из котэрых:;:Як 8; 1 трон 1 гый прерыватель, и измерител.- .Опео:-= ний напряжения 1 п 1 р- и переходе,- л ,. ч а ю ш 8 е с я тем, что, с целыс 7 Обе,. чения непосредственно 18 Отсчет 11 оаюфьд.", в :ьта Отклонения по шкапе 1 змер,.те:.,7.:1 о ра ь инфок. м д:;адаеэ 1.8 рабеВЫШ 8 НИЯ ТОЧНОСТИ Ъ.=1, 1.:58 НИ 1"., Ж,ШИЙ р дтОр выполп 81 в ".,8118 ра 11 н; ляна входе,ИО 1-:1 э:эгэ 7 Э 11 11 Очепы171 . реЗИСТ 7 ЭрЫа у гд 1171 ИТ 871 Ь .рЯМО жения и измеритель на 11 ряжения;Од.:;пю 1811, через переходной конденсатор к вь 1 ходу дру . гого операционног- усидителл., цепь Обрат.;.Ой СВЯЗИ КОТОРОГО 11118,. .;Л 8 ММЫ а,г; 1;:,7 К 11;.:-" ния испы Гуемо 1 э р л пер еэ Ода7
СмотретьЗаявка
1440943, 19.06.1970
НУРОВ Ю. Л, ПИОРУНСКИЙ А. Н, ФЕДОРОВ Б. Е, ИВАНОВ В. М
МПК / Метки
МПК: H01L 21/66
Метки: переходов, полупроводниковых, приборов, характеристик
Опубликовано: 05.08.1976
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-304864-ustrojjstvo-dlya-izmereniya-kharakteristik-perekhodov-poluprovodnikovykh-priborov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Устройство для измерения характеристик переходов полупроводниковых приборов</a>
Предыдущий патент: Устройство для регулирования хода ползуна механического пресса
Следующий патент: Способ градуировки датчика погружного типа электромагнитного расходомера
Случайный патент: Установка для нанесения двухкомпонентных материалов