Способ определения плотности гололеда
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
Республик Зависимое от авт. свидетельства-Заявлено 03.11,1970 ( 1401195/18-10)с присоединением заявкиПриоритетОпубликовано 25 Х.1971, Бюллетень17Дата опубликования описания 12 Л 11.1971 МПК б 01 ж 1/14 Комитет по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССРУДК 551.508.768(088.8) Авторыизобретения Б. И. Солдатов и Е. А. Пенчев Заявитель СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПЛОТНОСТИ ГОЛОЛЕДА 20 Предмет изобретения Предлагаемое изобретение относится к области метеорологических измерений и может быть использовано на практике в качестве основы для разработки и конструирования различных датчиков плотности отложений твердых гидрометеоров.Известен способ определения плотности любых веществ, например горных пород, по обратному р-рассеянию. Зтот способ не может быть использован для определения плотности гололеда ввиду того, что для получения удовлетворительного результата необходимо значительное поглощение излучения веществом, что возможно только при больших толщинах исследуемого образца.Погрешности измерений резко увеличиваются при малых толщинах, так как при этом выходной сигнал является функцией не только плотности, но и толщины вещества.Известен способ определения толщины гололеда по его диэлектрической проницаемости. При этом используется емкостный датчик гололеда. Зтот способ не может быть использован для определения плотности гололеда, особенно в начальной стадии отложения, так как при этом изменение емкости не является однозначной функцией плотности.Сущность предлагаемого способа состоит в том, что с помощью конденсатора создают электрическое поле в гололеде, глубина рабочего участка которого меньше толщины исследуемого слоя гололеда и по изменению емкости конденсатора судят об искомом параметре.Зтот способ обеспечивает возможность из мереций в начальной стадии отложений гололеда.Для реализации способа рекомендуется использовать краевое поле плоского конденсатора, у которого расстояние мехкду электрода ми и их ширина обеспечивает глубину рабочего поля меньше минимальной толщины обложения гололеда,На чертеже представлена блок-схема устройства для реализации предложенного спо.15 соба, где 1 - чувствцтельньш элемент плот.ности гололеда, 2 - измерительный генератор, т - ограничитель, 4 - частотный дис.крцминатор, 5 - индикаторное устройство. Способ определения плотцостц гололеда пос о диэлектрической проницаемости, отлпчагопийся тем, что, с целью обеспечения воз можцости измерений в начальной стадии отложений гололеда, в нем создают с помощью конденсатора электрическое поле, глубина рабочего участка которого меньше толщины исследуемого слоя гололеда и по изменению ем кости конденсатора судят об искомом параметре.304536 Составитель С. Непомнящая Техред Е. Борисова Корректор 3. И, Тарасова 1 зедактор С. И. Хейфиц Тппографпл, пр. Санупр и, 2 Заказ 1796714 Изд. М 751 Тираж 473 ПодписноеЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР Москва, Ж-ЗЗ, Раушская иаб., д. 4,;5
СмотретьЗаявка
1401195
Б. И. Солдатов, Е. А. Пенчев
МПК / Метки
МПК: G01W 1/14
Опубликовано: 01.01.1971
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-304536-sposob-opredeleniya-plotnosti-gololeda.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ определения плотности гололеда</a>
Электроконтактный способ храмова измерения толщины стенок полых электропроводящих изделий и устройство для его осуществления
Номер патента: 1044961
Опубликовано: 30.09.1983
Автор: Храмов
МПК: G01B 7/06
Метки: полых, стенок, толщины, храмова, электроконтактный, электропроводящих
...вследующем.Активное сопротивление постоянному току электропроводящего изделия"оРЭЮгде р - удельное электрическое сопротивление изделия;- длина изделия;Я - площадь сечения иэделия.При переменном токе, когда длина волны соизмерима с линейными размерами сечения электропроводящегоизделия, в нем возникает поверхностный эффект. Он проявляется в изменении распределения плотности тока по сечению иэделия. Чем выше 50частота переменного тока и длина вол.ны и чем больше лйнейные Размеры сечения электропроводящего изделия,тем сильнее. в нем проявляется поверхностный эффект, тем выше концентрация тока у поверхности иэделия.для характеристики поверхностного эффекта используют специальныйпараметр - эффективнуюглубину проникновения переменного...
Способ регулирования оптической плотности и толщины обводки знаков при струйной печати
Номер патента: 1163146
Опубликовано: 23.06.1985
Автор: Безруков
МПК: G01D 15/18
Метки: знаков, обводки, оптической, печати, плотности, струйной, толщины
...иэ отклоняющих пластин 19 с электростатическим полем отнапряжения Ц и удаленного на некоторое расстояние механизма 16 протягивания носителя информации, Этот блок предназначен для импульсно-координатного (матричного) знакоформирования с последовательной разверткой. При этом одна координата развертки осуществляется за счет отклонения заряженных капель и сателлитов постоянным электрическим полем (О ), а другая - эа счет относительного перемещения с постоянной скоростью носителя информации и печатающей головки (воэможно и стартстопное перемещение).Индивидуальную зарядку капель и сателлитов можно осуществить ионным путем (униполярным коронным разрядом) последовательно (одной иглой) или параллельно, когда количество коронирующих...
Способ и устройство для разделения тутового шелкопряда по полу на стадии бабочек
Номер патента: 93607
Опубликовано: 01.01.1952
МПК: A01K 67/04
Метки: бабочек, полу, разделения, стадии, тутового, шелкопряда
...них приемник.Отсюда Вытекает и оригина.ьность предлагаемого устройсгва для Осуществлсни 51 такого способа разделения тутового шелкопряда по полу. Оно характеризуется тем, что ВЫПОЛНЕНО В ВН,е ПОДВЕСНОН ИЛИ приставной к в.ртнкальному выводковому инвентарк металлическойрешетки, сосгоящеи из взаимно перпендикулярных 1 пироких гладких покрытых, например, минеральным маслом, пла)юк, образующих отверстия для выхода бабочек из коконов па повсрхпость планок. Р(.шетки Внизу се 1 аожепы приемником В Бггдс. кс)рыта для сбора неудержявгпих 5 па планках бабочек-самцов.На фиг. 1 Изображен вид продли гаемого устр(с Вгг, орппеппог выводковому инвентарю, а ня риг" - вид тогж( )(стройси сбоку.Устройскп рдставляет сбо и решс;тку, сссягцую из гризитал...
Способ измерения поверхностной плотности или толщины листовб1х материалов и пленок
Номер патента: 203271
Опубликовано: 01.01.1967
Авторы: Ольшвангер, Таксар, Федотов, Янушковский
МПК: G01B 15/02, G01N 23/02
Метки: листовб1х, пленок, плотности, поверхностной, толщины
...потока излучения при его прохождении через контролируемый материал, источник и детектор размещают с разных сторон контролируемого материала. Бывают случаи, когда этим способом нельзя воспользоваться из-за недоступности отдельных контролируемых узлов.Отличительной особенностью предлагаемого способа является использование для контроля поверхностной плотности или толщины различных материалов и пленок эффекта ослабления обратнорассеянного Р-излучения в воздушной среде, находящейся по другую сторону от исследуемого образца. Это позволяет расширить нижний предел измеряемых величин и упростить конструкцию устройств, осуществляющих данный способ, Последний заключается в следующем. 147метий Р, Р-излучение от источника при первоначальном...
Устройство для измерения поверхностной плотности или толщины листовых материалов и пленок
Номер патента: 203272
Опубликовано: 01.01.1967
Авторы: Ольшвангер, Таксар, Федотов, Янушковский
МПК: G01B 15/02, G01N 23/02
Метки: листовых, пленок, плотности, поверхностной, толщины
...качестве источника используют изотоп мягкого Р-излучения, например про метий РП,44 т, а В КаЧЕСтВЕ дЕтЕКтОра МОжЕт бЫтЬ применен торцовый галогенный счетчик или сцинтилляционный счетчик.Источник и детектор Р-излучения расп гают в измерительной головке устройства раллельно друг другу на расстоянии около20 им, а измеряемый материал - в непосредственной близости от них. Источник и детектор устанавливают на сканирующем устройстве, перемещающем их по ширине исследуемого образца, Чтобы повысить эффективностьизмерения, можно использовать несколькоприемников излучения. Источник излученияпомещают в защитный контейнер с коллима 10 тором, благодаря чему исключается попаданиепрямого и отраженного от исследуемого образца излучения на...
Предыдущий патент: Устройство для формирования отметок фазы
Следующий патент: Способ изготовления призмыbotcoiocimahпатйтгшяхш; енаябиблмот1: . а
Случайный патент: Установка для нанесения покрытий на плоские длинномерные изделия