Способ измерения фона при рентгеноспектральном флуоресцентном анализе

Номер патента: 295069

Авторы: Гурвич, Ком, Реше, Столин, Шаензон

ZIP архив

Текст

Союз Советских Социалистических РеспубликЗависимое от авт. свидетельстваЗаявлено 18.Л 1.1969 ( 1350537/26-25) МПК С 01 п 23/22 с присоединением заявкиКомитет ло делам ПриоритетОпубликовано 041971. Бюллетень7Дата опубликования описаштя 30.111.1971 изобретений и открытий при Совете Министров СССРУДК 543.422.8(088,8) Авторыизобретения Ю. М. Гурвич, Н. И. Комяк, С. С. Ленин, Ю. Н, Реше И. В. Сериков, В. И. Столин и В. И. Шаензон Заявитель СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ФОНА ПРИ РЕНТГЕНОСПЕКТРАЛЬНОМ ФЛУОРЕСЦЕНТНОМ АНАЛИЗЕ/са= - - 1,30 Изобретение относится к флуоресцентным способам ренггеноспектрального анализа веществ.Известен способ измерения фона при рентгеноспектральном флуоресцентном анализе путем измерения суммарной интенсивности излучения пробы при различном напряжении на рентгеновской трубке.Недостатком способа является необходимость неоднократного измерения напряжения на трубке, что приводит к нестабильности условий измерения, существенно удлиняет время анализа и затрудняет реализацию способа.Предлагаемый способ позволяет снизить влияние аппаратурных погрешностей на результаты измерения и улучшить порог чувствительности анализа.Способ заключается в том, что интенсивность аналитической линии плюс фон от пробы измеряют без фильтрации и с фильтрацией первичного излучения, а фон определяют расчетным путем из системы двух уравнений. Физической основой способа является различие в фильтрации эффективных длин волн возбуждающего первичного излучения и излучения фона на месте линии,С помощью детектора и пересчетного устройства на участке анализируемой длины волны попеременно регистрируют интенсивностьфлуоресцентного излучения, возбужденного без фильтрации, и интенсивность 1 з излученийс фильтрацией первичного излучения.Измеренные таким способом величины представляют собой сумму интенсивностей аналитической линии 1,и фона 1 ф.1, =1.-,+1 ф (1)12 - 1 и с фииьтроти+1 ф с фииьтрои1Экспериментально установлено, что 10 1 а с фпльтром = а 1 л, (2)1 ф с фильтрохт=- 1 т 1 ф+с (3)Подставляя выражения (2) и (3) в уравнение (1), найдем15 Параметры а, тт и с постоянны для заданных условий измерения (длпны волны, толщины рпльтра геометрии и т д )Для определения параметра а производят измерения на пробах с высоким содержанием определяемого элемента, когда величиной 1 ф можно пренебречь. Тогда выражения (2) и (3) преооразуются, соответственно, вЗаказ 729/8 Изд311 Тираж 473 Подписное ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР Москва, 5 К, Раушская наб., д. 4/5Типография, пр. Сапунова, 2 3Для определения параметров Ь и с производят измерения на пробах различного состава, не содержащих определяемый элемент. Строят график зависимости гф с фильтром=1(Ф) этому графику определяют параметры Ь и с.Предмет изобретенияСпособ измерения фона при рентгеноспектральном флуоресцентном анализе путем измерения суммарной интенсивности аналитической линии плюс фоп в различных условиях облучения с последующей линейной расчетной экстраполяцией до значения собственно фона, 5 огличагогггиггся тем, что, с целью повышениячувстгзительности анализа, измерение суммарной интенсивности плюс фон производят без фильтрации и повторно с фильтрацией.

Смотреть

Заявка

1350537

Ю. М. Гурвич, Н. И. КомС. С. Ленин, Ю. Н. Реше И. В. Сериков, В. И. Столин, В. И. Шаензон

МПК / Метки

МПК: G01N 23/223

Метки: анализе, рентгеноспектральном, флуоресцентном, фона

Опубликовано: 01.01.1971

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-295069-sposob-izmereniya-fona-pri-rentgenospektralnom-fluorescentnom-analize.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ измерения фона при рентгеноспектральном флуоресцентном анализе</a>

Похожие патенты