Способ спектрального определения элементов в порошковых пробах

Номер патента: 603854

Опубликовано: 25.04.1978

Авторы: Коряков, Малышева

МПК: G01J 3/10

Метки: анализа, пробы, спектрального, фторирования

...ф об трудяние сос а фторируетсяяда, что упрошиспользовать рещением техниче тся спос ного анал путем с дного фто его вешес, полученноа, например ктральодов свобод- жашеНо этот способ сложен и требует больштрат времени,Бель иэобрете е способасокращение вре элект вии рсоде тания - упрошенимени анализа. Однако этот спосчает полностью влНаиболее близкик изобретению являпробы для спекгралзованием электродов присутствии свобого из фторсодержашфт ороплас та,Предлагаемый способ мож например, в дуге переменног шей между горизонтальными Полости электродов плотно э фторпластом, Проба в вид сыпается через разряд и про тографирование спектра. Проб непосредственно в зоне раэр анализ и дает воэможность таад просыпки, что в несколь вает...

Номер патента: 1603253

Опубликовано: 30.10.1990

Авторы: Артамонова, Бернардо, Гулецкий, Ежов, Ошемков, Петров

МПК: G01N 21/39

Метки: анализа, проб, спектрального, твердых

...теплового светового потока от пятна взаимодействия лазерного луча с пробой меняется лишь на 15-20 , т.е. устойчивее к вариациям мощности лазера примерно в 10 раз. В то время как вариации состава образцов приводили к изменению сигнала абсорбции в 2 - 3 раза, изменение отношения аналитического сигнала к величине теплового светового потока составило лишь 30 , т.е. оказалось устойчивее также примерно в10 раз.П р и м е р 2, Лазерную атомизацию исследуемого образца производили в вакуумной камере при остаточном давлении менее, 10 мм рт.ст, Прризводили облучение поверхности образца импульсным лазерным излучением с длительностью 20 - 10 нс, плотностью мощности на поверхности образца 10 - 10 Вт/см и в образующемся9 10 глазЕрном факеле с помощью...

Номер патента: 1059475

Опубликовано: 07.12.1983

Авторы: Егоров, Новикова

МПК: G01N 1/28, G01N 31/00

Метки: методом, подготовки, примесных, пробы, спектральным, цирконии, элементов

...смешивание окисленной. пробы сгалогенсодержащей добавкой, в качестве галогенсодержащей добавкииспользуют смесь фторвда висмута ихлорида натрия при следукщем соотношении компонентов мас.:Фторид висмута 7-9Хлорид натрия 7-9Окисленная проба ОстальноеСущнОсть способа заключается втом, что при введении добавки фто 1 рида висмута и хлорида натрия к пробе повышается стабильность условийфракционного испарения примесей ивозбуждения спектров атомов опреде-,ляемых примесных элементов, снижает 5 ся спектральный Фон и увеличиваетсяинтенсивность спектральных линийпримесных элементов.Использование одного фторида висмута или хлорида натрия, а также их10 смеси при соотношениях компонентовниже и выше указанных практически в3-10 раз снижается...

Номер патента: 690324

Опубликовано: 05.10.1979

Авторы: Гушанский, Ковтун, Наумов, Петухов, Самсонов

МПК: G01J 3/02

Метки: дуги, зоне, подачи, порошковых, проб

...анализа, можно дозировать во времени, то емкость 1 можно загружать порошковой пробой приблизительно, не всегда больше нормы на 30-150 мг.ЗОВозможность приблизительной загруз 6. ки емкости пробой снижает требования кточности при отмеривании объема или веса оператором для каждой пробы, чтое- уменьшает время на подготовку проб к35анализу, Простота подготовки проб к анализу и равномерность поступления пороши ковой пробы в зону дуги повышают качество анализа, что позволяет перейтив производственных лабораториях для мас 40,сового экспрессного анализа проб отполуколичественного спектрального анализа к количественному анализу. 35-85 к горизонтали, а устройство снабжено автоматическим захватом емкости,например электромагнитом с...

Номер патента: 1161852

Опубликовано: 15.06.1985

Авторы: Перевертун, Фатхудинов

МПК: G01N 21/67

Метки: анализа, порошкообразных, проб, спектрального, трудновозбудимые, элементы

...осажденной пробы.Кроме того, устройство для реализации способа, содержащее источник возбуждения и подключенные к источнику камерный электрод и противоэлек трод, противоэлектрод выполнен из металла с высокой эрозийной способностью с углублением в торце в виде полусферы, причем расстояние между электродами и радиус. полусферы равны и связаны с диаметром электрода соотношениями 0,5-1.На фиг. 1 изображены электроды,их расположение и выполнение; нафиг. 2 - спектры проб при импульсном 35воздействии; на фиг. 3, 4 - зависи-.,мость количества вышедшего порошка иинтенсивности линий,от величины про-,межутка. Способ осуществляется следующим образом (фиг, 1).Навеску анализируемой пробы 1 размещаеют в полом электроде 2, выполненном в виде...