Магнитный способ контроля сварного шва

Номер патента: 789931

Опубликовано: 23.12.1980

Автор: Бледнов

МПК: G01R 33/02

Метки: вектора, геомагнитного, индукции, компонентов, магнитной, магнитных, носителях, поля

...известным значением горизонтальной составляющей геомагнитного поля.По данным измерений в прямоугольной системе координат (ось совпадает с направлением геомагнитного меридиана, осьу перпендикулярна этому направлению, плоскостьСОусовпадает с плоскостью горизонта) определяют величины составляющих собственного поля носителя (СПН). Затем определяют величину и направление вектора Г, Кроме этого нахос1 дят направление вектора Ч для каждого маКнитного курса, на котором в дальнейшем будут проводиться геомагнитные измерения (см. фиг. 1).На фиг. 1 приняты следующие обозначения:3 - вектор скорости носителя; К - магнитный курс носителя, К - компасный курс для данной точки, 17 с - вектор, величина и направление которого не зависят от магнитного курса...

Номер патента: 599240

Опубликовано: 25.03.1978

Авторы: Маркин, Теренько

МПК: G01R 33/12

Метки: магнитно-твердых, магнитных, периодических, полях, характеристик

...ферромагнитного образца 3. Б общем случае ферромагнитный ооразец 3 может быть выполнен из любого магнитно-твердого материала.Измерительная катушка 1 связана с интегратором 4, выход которого через ключ 5 фазоврашателя 6 соединен с вхолоч импульсного вольтметра 7, выход которого присоединен к регистрирующему прибору 8, образуют канал измерения индукции В. Измерительная катушка 2 связана с интегратором 9, выход которого через ключ 1 О фазовраисателя 6 соединен с импульсным вольтметром1, выход которого присоединен к регистрируюсцему прибору 12, осразуют канал измерения напряженности поля Н. Фазоврашатель 6 совместно с интегра.торами 4 и 9 вылеляет мгновенные значения зю индукции и напряженности магнитного поля цз петли гцстерезцса,...

Номер патента: 1023265

Опубликовано: 15.06.1983

Авторы: Лисовский, Щеглов

МПК: G01R 33/12

Метки: анизотропии, легкого, магнитных, намагничивания, ориентации, оси, пленок, поля

...плоскости пленки,пленку устаавливают таким образом,цтобы. ось ее вращения совпадала сномалью к поверхности пленки, освещают пленку поляризованным светом ис помощью анализатора и микроскопанаблюдают зарождение доменной структуры, вращают пленку вокруг оси,совпадающей с нормалью к плоскостипленки, подбирают ориентацию и напряженность магнитного поля такимобразом, цтобы в момент зарождениядоменная структура имела полосовойхарактер, снимают зависимости продольной и поперечной (относительнооси вращения пленки) компонент напряженности магнитного поля, соответствующих моменту образования домен"ной структуры от угла поворота плен"гки, пред ста вляют полу ченную з ависимость в виде рядов Фурье и опреде,ляют константы и ориентацию...

Номер патента: 1161352

Опубликовано: 15.06.1985

Авторы: Матросов, Шихирев

МПК: B24B 31/10

Метки: вращения, магнитно-абразивной, полых, тел, типа

...в нерабочем положении меньше диаметра д. Известно, что обработка в магнитном поле ферропорошком поверхностей деталей типа тел вращения происходит в зоне между полюсными наконечниками и деталью на участке, ограниченном некоторой дугой цилиндра. При этом наиболее интенсивно обработка идет в плоскости, проходящей через оси детали и полюсных наконечников, в случае если рабочие поверхности полюсных наконечников имеют форму цилиндра либо плоскости. Поэтому для осуществления наиболее производительной обработки детали желательно обеспечить эквидистантное рас; положение магнитопроводной оправки ко всему участку, где происходит резание материала. Зона обработки изменяется главным образом в зависимости от соотношения размеров диаметров...

Номер патента: 558283

Опубликовано: 15.05.1977

Авторы: Минашин, Румянцев

МПК: G06G 7/48

Метки: дефектами, моделирования, полей, твэлах, температурных, трехмерных

...тепловыделения подсоединены к токовводам на боковой поверхности электролитической ванны в зоне моделирования дефекта твэла. Кроме того, устройство позволяет отдельно определять номинальную температуру в твэле без дефектов и перегрев, вызванный влиянием дефекта,На чертеже изображено описываемое устройство.Оно содержит электролит 1, залитый в электролитическую ванну 2 в виде трубы из диэлектрика, металлические токовводы 3, резисторы 4, сопротивление которых определяет сток тока на бездефектной области, резисторы 5, сопротивление которых определяет сток тока на дефектной области, резисторы 6, сопротивление которых определяет ввод электрического тока, токоввод 7 и источник переменного напряжения 8.Электролитическая ванна и размеры дефектной...