Установка для испытания материалов при высоких температурах
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
Сооз Советских Сонналистическил РеспубликЗависимое от авт. свидетельства Ло Кл, 421(, 34 05 Заявлено 06,т(111.1969 (Ло 1355224 25-28) с присоединением заявки Лс МПК 6 01 п 360ДК 620,172.251.2(088.8) ПриоритетОпубликовано ОЗ.Х 11.1970. Бюллетень Ло 36 Дата опубликования описания 28,1.19(1 Комитет па делам изобретений и открытий при Совете Министров СССРАвторыизобретения В. В. Гусаров, Г. ф, Зимин и Н. И. МихеевЗаявитель Научно-исследовательский и конструкторский институт испытательныхмашин, приборов и средств измерения масс УСТАНОВКА ДЛЯ ИСПЫТАНИЯ МАТЕРИАЛОВ ПРИ ВЫСОКИХ ТЕМПЕРАТУРАХИзобретение относится к области испытательной техники, предназначаемой для высокотсмпсратурцых испытаний материалов.Известна установка для испытания материалов при высокой температуре, содержащая захваты для крепления образца к нагрузкаО- щему устройству, устройство для радиационного нагрева образца в виде зеркальных концентраторов лучистой энергии и контрольноизмерительную аппаратуру.Предлагаемая установка отличается тем, то Оца снаб:кена вакуузтцой кахерой с Онами из кварцевого стекла, выполненными одно против другого перпендикулярно плоскости, проходящей чсрсз ось захватов на середине расстояния между ними; зеркальные концентраторы лучистой энергии установлены снаружи ВаСуухцой камеры напротиВ ка 2 кдого пз окон с возможностью качательного движения в той же плоскости, причем в качестве источпика лучистой энергии применены ксеноновыс лампы. Это позволяет получать более высокую чистоту среды при испытании в вакууме.На чертеже схематически изображена предлагаемая установка.Она имеет вакуумную камеру 1 с окнами 2 и 8 из кварцевого стекла, захваты 4 и 5 для крепления образца 6 к нагружающему устройству, устройство для радиационного нагрева образца в виде зеркальных концентраторов 7 и 8 лучистой эцерпш и коцтрольцо-измерительную аппаратуру. Окна 2 и 8 выполнены одно против другого перпендикулярно плоскости, проходящей через ось захватов 4 5 и 5 ца середине расстояния между ними, Концентраторы 7 и 8 установлены снаружи камерь напротив каждого из Окон с ВозхОкностьО качатсльцого двпжсцпя в той жс плоскости.В качестве исто цшков лучистой энсрпш прц мсцсцы ксецоновые лампы 9 и 10.Испы гуемый образец закрспляют в захватах 4 и э и помещают в рабочее пространство камеры. Последнюю гермстизпруют, вкло аВакууцс насосы, и п 0 достижении за данного вакуума включаот лампы 9 и 10.Поток энсрпш фокусируется концентраторами 7 и 8 п через окна 2 и 8 направляется ца образец. Для более равномерного нагрева образца концентраторы 7 и 8 покачивают.20Предмет изобретенияУстановка для испытания материалов прцтехперат рс, Содержащая захватыдля крепления образца к нагружаОщех уст ройству, устройство для радиационного нагрева образца в виде зеркальных концентраторов лучистой эцсрпш и контрольпо-измерительную аппаратуру, от,тичаюцаяся тем, что, с целью получения более высокой чистоты 30 среды при испытании в вакууме, она снаб288375 Составитель В. ШехтерРедактор Т. ф. Гаврикова Техред А. А. Камышникова Корректор Л. Л, Евдонов аказ 3995,12 Тираж 480 ПодписноеЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССРМосква, Ж, Раушская наб., д, 4,5 шографпя, пр. Сапунова,жсца вакуумной камерой с окцамц цз кварцевого стекла, выполненными одно против другого перпендикулярно плоскости, проходящей через ось захватов на ссредцне расстояния между ними, зсркальцыс коцпецтраторы лучистой энергии установлены снаружи ва.к"мной камеры напротив каукдого цз окоп с возможностью качатсльного движения в той же плоскости, а в качестве источника лучи стой энергии применены кссцоцовыс лампы.
СмотретьЗаявка
1355224
Научно исследовательский, конструкторский институт испытательных, машин, приборов, средств измерени масс
В. В. Гусаров, Г. Ф. Зимин, Н. И. Михеев
МПК / Метки
МПК: G01N 3/60
Метки: высоких, испытания, температурах
Опубликовано: 01.01.1970
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-288375-ustanovka-dlya-ispytaniya-materialov-pri-vysokikh-temperaturakh.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Установка для испытания материалов при высоких температурах</a>
Устройство для зажима трубчатых образцов при механических испытаниях
Номер патента: 247585
Опубликовано: 01.01.1969
Авторы: Гаврилов, Ганиева, Островский
МПК: G01N 3/04
Метки: зажима, испытаниях, механических, образцов, трубчатых
...поверхность которой имеет кольцевые впадины, устанавливаемые напротив выступов цангового патрона при зажиме образца.На чертеже схематичноваемое устройство в продолразрезах.Устройство содержит цанговый патрон 1, выполненный из корпуса 2, гайку 3, четыре наружных вкладыша 4, кольцо 5 и внутреннюю трубку в виде разжимной цанги б. Разжимная цанга б представляет собой вклады ши 7, наружная поверхность которых снабжена кольцевыми впадинами, а предварительный их прижим осуществляется затяжкой гайки 8 на шпильке 9. При подъеме шпильки внутренние вкладыши разжимаются. Штифты 10 и 11 предотвращают поворот внутренних вкладышей и шпильки при завинчивании гайки 8. Плоские пружины 12 служат для удобства установки разжимной цанги, а пружина 13...
Устройство для испытания ламп накаливания
Номер патента: 1138848
Опубликовано: 07.02.1985
Авторы: Гуракова, Намитоков, Соколов
МПК: H01H 9/50
Метки: испытания, ламп, накаливания
...лампы. Но так как омическое сопротивление ламп накаливания как правило неодинаково и нелинейно, подбор точной величины эквивалентного сопротивления, обеспечивающей омический баланссхемы измерения, невозможен.Целью изобретения является повышение точности измерения напряжения пробоя тела накала лампы.,Поставленная цель достигается тем,что в устройство для испытания лампнакаливания, содержащее регулируемыйисточник напряжения, тиристор, ограничительный резистор, соединенныйодним выводом с управляющим выводомтиристора, датчик пробоя, контактыдля подсоединения испытываемой лампыи измеритель напряжения, дополнительно введены нагрузочный резистор, кнопка пуска, первый и второй конденсаторы, второй тиристор, первый, второй и третий резисторы,...
Устройство для измерения объемных деформаций образцов при прочностных испытаниях
Номер патента: 1174737
Опубликовано: 23.08.1985
Автор: Лодус
МПК: G01B 7/16
Метки: деформаций, испытаниях, образцов, объемных, прочностных
...на перегородку 7. Усилие от испытательной машины передается на образец штоком12, Для наблюдения за уровнем жидкости 5 и 9 в боковой стенке корпуса 1 выполнено смотровое окно13, Однако в устройстве могут бытьиспользованы и другие типы измерителей уровня, например электроннооптические, ультразвуковые и т,д,Устройство работает следующимобразом,Образец 11 устанавливают на перегородку 7, Вращением механизма 4 устанавливают поршень 3 в положение, когда уровень жидкости 5 совпадает с верхней поверхностью,перегородки 7. Фиксируют положение поршня 3, Нагружают образец 11 до заданного усилия или заданной деформации. Вращением механизма 4 (привода) перемещают слой жидкости 9 в то сечение образца, в котором необходимо измерить площадь попе 174737...
Устройство для закрепления образцов при механических испытаниях
Номер патента: 1303935
Опубликовано: 15.04.1987
Авторы: Анастасенко, Боднарчук, Матийцив, Румянцев, Филиппов, Шпорин
МПК: G01N 33/38
Метки: закрепления, испытаниях, механических, образцов
...в направляющих 3 основания 1 и имеющей сквозной паз 11 для испытываемого образца 12, Кронштейн 5 смонтирован на винте 8 с помощью пружины 13 и гайки 14, а на основании 1 имеются риски .15 и 16, Углубление 4 основания 1 служит для опорной плиты 17 испытательного пресса, имеющего подвижную плиту 18Устройство работает следующим образом.При проведении испытаний основание 1 углублением 4 устанавливают и фиксируют на опорной плите 17 так, 1 чтобы риска 15 совпала с осью плиты 17. Пластину 10 вставляют в направляющие 3 основания 1 и перемещают до совпадения сквозного паза 11 пластины 10 с отверстием 2 основания 1. Ис 35 2пытываемый образец 12 устанавливают в сквозной паз 11 пластины 10 до касания опорной поверхности первого с опорной...
Установка для деформирования образцов материалов при испытаниях их демпфирующих свойств
Номер патента: 1675738
Опубликовано: 07.09.1991
Автор: Лодус
МПК: G01N 3/32
Метки: демпфирующих, деформирования, испытаниях, образцов, свойств
...включающий маятник со штангой 5 и грузам 6, ась 7 которого кинематически связана с захватами 2, 3 и приспособление 8 длл выведения маятника из положения равновесил.Установка снабжена направляющей 9, установленной на штанге 5, и двумя алектромагнитными катушками 10, 11 с автономным включением, установленными на концах направляющей :., При этом груз 6 установлен на направгяОщег 9 с возможностью перемещения вдоль не при взаимодействии с злектромагнитнь ми катушками 10, 11.Кинематическал связь маятника с захватами осуществляется пас,редствам зубчатога колеса 12, установленного на Оси 7 МаятНИКа, И рЕйКИ 13, ПргСПОСОблеНИ 8 8 дГГя выведения маятнла;з пожжения равновесия выполнено в виде тяги, леседки 14 и замка 15, Дгл фиксации...
Предыдущий патент: Способ испытания материалов на контактнуюусталость
Следующий патент: Установка для испытания нагруженных образцов на термостойкость
Случайный патент: Устройство для формирования слоя стеблей лубяных культур