Способ измерения деформаций
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
Союз Советских Социалистических РеспубликЗависимое от авт, свидетельстваЗаявлено 1 О,11,1969 1 1312809/25 Кл. 421(, 45/О с присоединением заявкиПриоритет ПК С 01 Ь 7/16 комитет по деламбретений и открыти Опубликовано 19.Х 1.1970. Б 1 оллетен УДК 621.382,2:681.2.0 ,8:531.787,913 т,088.8) и Совете Минист СССР, Головко, В. С, Щадри Г. М, Новотна Новосибирский электротехнический инстит явител ОБ ИЗМЕРЕНИЯ ДЕФОРМАЦИЙ Известны способы измерения деформаций 11 ри п 0 м 0 щп кремниевых тензодатчиков, в которых выходным параметром, меняющимся от нагрузки, является сопротивление чувствительного элемента.Предложенный способ отличается от известных тем, что измеряют изменение емкости р - д-перехода датчика, Это позволяет повысить точность измерения при переменных температурах.1На 1 ертен(е изображен график изх 1 ененп 11 емкости р - тт-перехода от величины одноосной деформации сжатия,Способ измерения деформаций при помощи кремниевых полупроводниковых тензодатчиков 1 заключается в том, что тензодатчик жестко соединяют с исследуемой деталью, нагружают деталь и измеряют изменение емкости р - и-перехода датчика.Лабораторные исследования показали, что 2 датчиков лин сжатии, а коэ достигает ма женин смеще фициент тенз ное значение до +150"С.Таким обра ний обладает ных температ ри однооснов ствительност 1 тя при напря турный коэф меет постоян ратур от - 50 еино возрастает п ффициент тензочув кспмального значен ния 0,6 в. Темпера очувствительности и в диапазоне темпе зом способ измерения деформавы:окой точностью при переменрах. чмет изобретен Способ пзкремниевыхков, заключасоединяют сдеталь и израметров даПЕЛЬЮ ПОВЫременн 1.1 х теемкости р - т мерения деформаций п пол. проводниковых ющийся в том, что дат исследуемой деталью,1 еряют один из электртчпка, отличатошийсящения точности измере мпера гурах, измеряют1-перехода датчика,РИ ПО.1 ОЩИ тензодатчичик жестко нагружают тческих патем, что, с тий при тте- изменение тносительное увеличение емкости р - и-иСехода кремниевых полупроводниковых тенз О П И С А Н И Е 287386ИЗОБРЕТЕНИЯК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ.1 НИИПИ 1(омитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССМосква, Ж, Раушская наб., д, 475
СмотретьЗаявка
1312809
В. Г. Головко, В. С. Щадрин, Г. М. Новотна Новосибирский электротехнический институт
МПК / Метки
МПК: G01B 7/16
Метки: деформаций
Опубликовано: 01.01.1970
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-287386-sposob-izmereniya-deformacijj.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ измерения деформаций</a>
Предыдущий патент: Способ получения координатной сетки внутри плоских образцов
Следующий патент: Способ передачи сигналов от датчиков,
Случайный патент: Сливное устройство