Способ измерения 3jiektph4eckhx свойств диэлектриков

286003 О П И С А Н И ЕИЗОБРЕТЕНИЯК АВТОРСИОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз Советсккз Соцкалистическиз РеспубликЗавис мое от авт. свидетельстваКл 21 а, 71 аявлено 29, Ъ.1( 958002/26 присоединением заявки МПК 6 01 г 15/00УДК 621.317.3:;621.317,374 (0%.8 ПриоритетОпубликовано 10.Х 1.;ч 70. В 1 олетень М 34 Дата опубликования описа;:ия 12,1,1971 ело Коетитетизобоетени откснтиЯ ори Сввете й 1 иннстсое СССРМ.зЛ.сзк.ВАТЕЮ Ь 1 ИВЛтт тт ТЕ 11,г;Автор зобретени я Л. Т. Тучк Заявитель ИЧЕСКИХ СВОЙСТОВ ПОСОБ ИЗМЕРЕН ИЯ Эл ЕКДИЭЛЕКТР втпл и=НЕП 411Изобретение относится к области радиотехнических измерений и может быть использовано для определения электрических свойств диэлектриков,Известные способы измерения электрических свойств диэлектриков на СВЧ, основанные на использовании радиометрических способов, не позволяют определять коэффициенты поглощения и преломления в условиях, приближающихся к естественным. 10Целью изобретения является определение коэффициентов поглощения и преломления исследуемого диэлектрика для последующего вычисления комплексной диэлектрической промышленности, характеризующей электрические 15 свойства этого диэлектрика.Для определения коэффициента поглощения согласно предлагаемому способу измеряют приращение антенной температуры при увеличении толщины образца испытуемого диэлек трика. а для измерения величины коэффициента преломления определяют величину приращения толщины плоского слоя испытуемого образца, вызывающего изменение фазы осциллирующего выходного напряжения радиомет рической станции на величину, кратную л, по которой находят длину волны в диэлектрике. По полученным данным определяют коэффициент поглощения х в образце, как отношение антенных температур ЬТ 1 и ХТ соответствую щих в двух измерениях приращению температуры вследствие увеличения толщины 1 испытуемого образца на одну и ту же велич ину Л 1, Вычисления производят по формуле где Й - угол высоты в слое диэлектрика толшиной М, являющийся функцией угла высоты, под которым производятся измерения электрических свойств излучающей среды. Влияние множителя зтпй на результаты определения коэффициента поглощения можно уменьшить, если радиометрические измерения производить под углом высоты, равным 90-1-, -Е 5 - :10. При этом максимальная погрешность определения коэффициента поглощения не превышает 0,5 О 1 о.Изменение фазы осциллирующего выходного напряжения на величину, кратную л, вызванного интерференцией в СВЧ-тракте радио- метрической станции фурье-компонент шумового напряжения, происходит при изменении величины Ыпй на величину, численно равную половине длины волны Х 1 в испытуемом диэлектрике. Наличие подобной зависимости поз10 Л Л 2 т22 Ы в 1 п й Составитель Н. Степанов Техред Л, В. Куклина Корректор О. С. Зайцева Редактор А. В. Корнеев Заказ 3792,3 Тираж 480 ПодписноеЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете М;шпстров СССРМосква, К, Раушская паб., д. 4,5 Типография, пр, Сапунова, 2 воляет по числу полных циклов т осцилляции выходного напряжения радиометрической станции, зарегистрированных при увеличении толщины диэлектрика на величину Ж, определить длину волны Л на основании зависимости: Зная рабочую длину волны Л 2 радиометрической станции, коэффициент преломления ю 1 для волны Л 1 вычисляют по формуле: Как и при определении коэффициента поглощения, при измерении коэффициента преломления следует производить прием излучения под углоМ высоты, близким к 90, что позволяет исключить влияние множителя з 1 пй на результаты измерений сред с малым значением диэлектрической проницаемости.Опыт измерений показывает, что для большинства диэлектриков лтвхвЛРз 1 пй, поэтому относительная диэлектрическая проницаемость в определяется зависимостью:2 Мв 1 п ЙПредложенный способ особенно полезен вслучаях, когда необходимо оценить электрические свойства диэлектрических сред, имеющихнеоднородную структуру.Предмет изобретения1. Способ измерения электрических свойствдиэлектриков на сверхвысоких частотах поданным радиометрических измерений, отли 15 чаюи 1 ийся тем, что, с целью определениякоэффициента поглощения, измеряют приращение антенной температуры при увеличениитолщины образца испытуемого диэлектрика,2. Способ по п. 1, отличающийся тем, что,.20 с целью измерения коэффициента преломления, определяют величину приращения толщины плоского слоя испытуемого образца, вызывающего изменение фазы осциллирующеговыходного напряжения радиометрической25 станции на величину, кратную л, по которойнаходят длину волны в диэлектрике,