Устройство для контроля качественных характеристик материала

ZIP архив

Текст

28 О 97 О ОПИСАНИЕИЗОБРЕТЕНИЯК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Сотов Советских Социалистических РеслублинЗависимое от авт. свидетельства42 к, 49,О, 421 з, 12,0 аявлецо 31,Х 11,1968 (М 129468 29-33) прцсоедшеггием заявкидел ом МП 1( 6 01 п 21/02 оритст ткрытий изобретенииликовапо 03.1 Х,инистро Дата опубликовани исанця 9.ХП.19 Авторыизобретения Э. С. Жучков, А, В. Косинский, Г. С. Вуберман, Р,Ю. М. Александров и В, Г. ДарсвскийВсесоюзный научно-исследовательский и ьоцструк технологический институт природных алмазов и инс Кохан,скоЗаявитель СТРО О ДЛЯ КОНТРОЛЯ КАт 1 ЕСТВЕННЫХРАКТЕРИСТИК МАТЕРИАЛА Изобретение относится к области исследования качества смешивания сыпучих материалов, например шихты, при производстве абразивных кругов на органической связке.Известно устройство для контроля каче. ственных характеристик, материала, включающее корпус, источник света, фокусирующую систему, приемник лучистой энергии,Целью изобретения является осуществление контроля качества смешивания сыпучего материала, например шихты.Достигается это тем, что приемник лучистой энергии выполнен с фотоэлементом, имеющим отвеостие по оптической оси и смонтированным с возможностью вертикального перемещения в нижней части корпуса устройства.Изобретение поясняется чертежом.Устройство для контроля качественных характеристик материала состоит из корпуса 1, внутри которого смонтирован источник света 2, фокусирующая система 3 и приемник лучистой энергии,Приемник лучистой энергии выполнен с фотоэлементом 4, имеющим отверстие по оптической оси и смонтированным с возможностью вертикального перемещения в нижней части корпуса.Устройство в процессе исследования перемещают по поверхности контролируемого материала,Во избежание попадания исследуемого материала на поверхность фотоэлемента в нижней части корпуса устройства установлено защитное стекло Б непосредственно контактпрующсе с поверхностью материала.Световой поток от источника света 2, направленный на исследуемую поверхность материала через отверстие в фотоэлементе 4, отражается от нее и попадает на чувствительный слой фотоэлемента.Отраженная энергия зависит от качества смешивания исследуемого материала.Б зависимости от величины энергии фотоэлемент 4 выдает различный ток, регистрируемый индикатором, в качестве которого может быть применен микроамперметр ца 50,тга, проградуированцый в процентном отношении компонентов, входящих в исследуемую смесь. Предмет изобретенияУстройство для контроля качественных характеристик материала, включаощее корпус,источппк света, фокусирующую систему,приемник лучистой энергии, отлц. тгогггеесг25 тем, что, с целхяо осуществления контроля качества смешивания сыпучего материала, например шихты, приемник, лучистой энергштвыполнен с фотоэлементом, имеющим отверстие по оптической осп и смонтированным с30 возможностью вертикального перемещения внижней части корпуса устройства,. Заказ 34347 Тираж 480 Подписпо ЦНИИПИ Комитета по делам пзобретений и открытий прп Совете.Министров ССС

Смотреть

Заявка

1294681

Э. Жучков, А. В. Косинский, Г. С. Буберг шн, Р. Ф. Кохан, Ю. М. Александров, В. Г. ДарсвскийТ, Всесоюзный научно исследовательский, конструкторско технологический институт природных алмазов, инструмент

МПК / Метки

МПК: G01N 21/85

Метки: качественных, характеристик

Опубликовано: 01.01.1970

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-280970-ustrojjstvo-dlya-kontrolya-kachestvennykh-kharakteristik-materiala.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Устройство для контроля качественных характеристик материала</a>

Похожие патенты