Способ многопараметрового контроля деталей из ферромагнитных материалов

Номер патента: 280666

Авторы: Гиршовичус, Кифер, Седова

ZIP архив

Текст

ОПИСАНИЕ Ссссо Соввтокил Содивлнстнческсц РеспубликИЗОБРЕТЕНИЯ висимое от авт. свидетельства М( 1226361/1 явлено 18,11,1 Кл. 21 е, 37/1 присоединением заявки Х ЪПК б 01 г 33/О Коскитет по деланзобретессисс и открытийпри Совете Министров сорцтет публиковацо 03.1 Х.1970. Бюллетень28 К 621,317.445(088 т 8) Дата опубликовашся описания 4.Х 11,1970 Авторыизобретения И. И. Кифер, С. Х. Гиршовичус и Е. Б. Седов явител СПОСОБ МНОГОПАРАМЕТРОВОГО КОНТРОЛЯ ЕТАЛЕЙ ИЗ ФЕРРОМАГИИТИЬХ МАТЕРИАЛО гг,т полно Изобретение относится к области магнитометрии, в частности к контролю качества деталей из ферромагнитных материалов.Известен способ контроля, основанный на сравнении петель перемагничиванпя эталонной и испытуемой деталей. Однако этот способ трудоемок и часто це дает необходимой точности.Сравнение же отдельных параметров (остаточной тсссдукции, коэрцптивной силы ц индукции пасыщецсся) петли гистерезцса даже для трех значений не полностсио опредселяет петлю перемагничиванця, особенно для деталей разомкнутой формы.Целью изобретения является создание способа одновременного определения нескольких параметров, полностью характеризующих петлю перемагничивания сердечников из ферромагнитных материалов, что позволяет увеличить скоросгь инадежность цх контроля.Для этого на деталь, помещенную в низкочастотное магнитное поле, кратковременно, в определенные моменты накладывают высокочастотное магнитное поле, амплитуда которого меньше амплитуды низкочастотного поля в 10 или более раз и по величине гысокочастотной э.д.с. судят о качестве детали,При этом моменты включения высокочастотного поля выбирают определенным образом так, чтобы возбуждаемая им э.д,с. характеризовала заданные участки ппзкочастотцой петли гсеремагсссссивассия, пртсчекс вьссоссочастотссое магнитное поле подают преимущественно в виде кратковременных серий колебаний для 5 удобства снятия результатов измерения.Сущность способа поясняется чертежом.Испытуемую дсталь помещают в переменноемагнитное поле низкой частоты постоянной амплитуды, обеспечивающей изменение маг нитного состояния детали по динамическойпетле церемагничивация а. В строго определенные моменты времени, например, когда мапситцое состояние детали в низкочастотном поле достигает вершины динамической петли 15 и близко к значеньио коэрцитцвной силы Нили остаточной индукции Вс, ца деталь кратковременно подают также высокочастотное поле с постоянной амплитудой, величина которой не менее чем в 10 раз меньше амплитуды 20 низкочастотного поля, причем частота высокочастотного поля на порядок или более выше частоты низкочастотного поля, При этом магнитное состояние будет изменяться но частным динамическим циклам соответственно б, 25 в и а. Если амплитуда высокочастотного поляпостоянна, э.д,с. измерительной обмоткой, помещенной на контролируемую деталь, пропорциональна значениям дифференциальной магнитной проницаемости 1.г .30 Выбранные три значения стПредмет изобретения Состги;тсль Н. М, Киселеваедактор Л. В. Корнеев Текред 3. Н. Тараненко Корректор В. В. Чаклина Подписное вете Министров СССРЗаказ 3443/10 Тираж 480Ц 11 ИИПИ Комитета по делам изобрегений и открытий при СМосква, 71(-35, Раугпскан па 5., д. 4,5 ипография, пр. Сапунова,рактеризуют низкочастотную петлю перемагничивания и ее основные параметры; наклон ее вершины (амплитудную проницаемость р), коэрцитивную силу Б, и остаточную индукцию В,. Применяя соответствующее переключающее устройство, указанные значения э.д.с, измеряют тремя раздельпымп селективными приборами п, сравнивая их значения с э,дх, эталонного образца (вручную нли автоматически), определяют пригодность испытуемой детали. Выбор амплитуд и частот низкочастотного и высокочастотного магнитных полей, а также моменты включения высокочастотного поля определяются конкретнымп объектами контроля, например, для эллиптической петли перемагпичнванпя достаточно получить параметры двух ее точек.Предлагаемый способ можно применить и в случаях сложных объектов контроля, когда не. обходнмо их испытать при двух-трех значениях амплитуды низкочастотного поля, например, по двум-трем динамическим петлям перемагничивания.5 Способ многопараметрового контроля дета лей из ферромагнитных материалов по динамической петле гистерезиса, отличающийся тем, что, с целью одновременного нахождения нескольких основных параметров, на контролируемую деталь, помещенную в ннзкочастот ное магнитное поле, накладывают высокочастотное магнитное поле с амплитудой меньше в 10 и более раз, чем амплитуда низкочастотного магнитного поля, и по величине высокочастотной э.д.с. судят о качестве детали.

Смотреть

Заявка

1226361

И. И. Кифер, С. Гиршовичус, Е. Б. Седова

МПК / Метки

МПК: G01R 33/14

Метки: многопараметрового, ферромагнитных

Опубликовано: 01.01.1970

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-280666-sposob-mnogoparametrovogo-kontrolya-detalejj-iz-ferromagnitnykh-materialov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ многопараметрового контроля деталей из ферромагнитных материалов</a>

Похожие патенты