ZIP архив

Текст

Союз Саеетских Сациалистическид РесаубликЗависимое от авт. свидетельстваЬ, 12/02 лено 24,.1969 ( 130886625 вки с присоединением МПК б 01 ПриоритетОпубликовано 21.71,1970, Бюллетень26Дата опубликования описания 18.Х.1970 Комитет па деламизабретеиий и аткры ДК 531,715.2(088.8) ори Сосете Министра СССРАв бретени емие Заявител Одесский политехнический иисти ПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ВСКРЫТИЯ РАБОЧЕГО ЗАЗОРА В МАГНИТНОЙ ГОЛОВКЕИзвестен спосоо определения вскрытия раоочего зазора в магнитной головке, заключающийся в том, что шлифуют раоочую поверхность магнитной головки, подводят ее под металлографический микроскоп, освещают источником света и визуально определяют степень вскрытия рабочего зазора головки.Предлагаемый спосоо отличается от известного тем, что, с целью автоматизации, повышения точности и производительности процесса контроля, применяют фотоэлектрический амплитудный микроскоп, перемещают магнитную головку относительно оптической оси микроскопа, находят при этом на экране электроннолучевой труоки микроскопа действительну ю кривую, соответствующую максимальной величине размаха амплитуды, устанавливают по этой кривой середину рабочего зазора, затем наносят на экран эталонную кривую, полученную от аттестованной магнитной головки со 100% вскрытием рабочего зазора, и по совпадению действительной и эталонной кривых судят о степени вскрытия рабочего зазора.Предлагаемый способ осуществляется следующим ооразом.Фотоэлектрический амплитудный микроскоп устанавливают на стол шлифовального станка; магнитную головку, закрепленную в приспособлении, после определенного количества рабочих проходов стола станка подводятсвоей раоочей поверхностью под микроскоп.Рабочая поверхность магнитной головки освещается источником света. Проворачивая при 5 спосооление с магнитной головкой, находятмаксимальную величину размаха амплитудыкривой и ее Форму на экране электроннолучевой трх оки микроскопа,Размах амплитуды и форму действительной10 конвой сравниваются с эталонной кривой. нанесенной на экране трубки и полученной отаттестованной магнитной головки со 100%вскпытием рабочего зазора.При частичном вскрытии рабочего зазора15 магнитной головки размах амплитуды отличается от эталонного. Шлифование ведут дотех пор, пока не произойдет совпадения двухамплитуд - эталонной и действительной вэкране электроннолучевой трубки фотоэлект 20 рического амплитудного микроскопа.Предлагаемый способ ооладает высокой точностью (до +0,1 лт,и), производительностьо идостаточно легко может быть автоматизирован путем сравнения двух электрических сиг 25 палов - эталонного (соответств ет 100%вскрытию раоочего зазора магнитной головки) и действительного. полученного при измерении обрабатываемой магнитной головки.Прн равенстве двух сигналов процесс щтифо30 ва ння прекращается,279059 Предмет изобретения Составитель Л, Лобзова Корректор Л. В. Юшина Редактор Л, Г. Герасимова Заказ 331717 Тираж 486 ПодписноеЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССРМосква, )К, Раушская наб., д, 415 Типография, пр. Сапунова, 2 Способ определения вскрытия рабочего зазора в магнитной головке, заключающийся в том, что шлифуют ее рабочую поверхность, подводят ее под микроскоп и освещают источником света, отличающыйся тем, что, с целью автоматизации повышения точности и производительности процесса контроля, применяют фотоэлектрический амплитудный микроскоп, перемещают магнитную головку относительно оптической оси микроскопа, находят при этом на экране электроннолучевой трубки микроскопа действительную кривую, соответствующую максимальной величине размаха ампли туды, устанавливают по этой кривой середину рабочего зазора, затем наносят на экран эталонную кривую, полученную от аттестованной магнитной головки со 100% вскрытием рабочего зазора, и по совпадению действитель ной и эталонной кривых судят о степенивскрытия рабочего зазора.

Смотреть

Заявка

1308866

МПК / Метки

МПК: G01B 11/14

Метки: 279059

Опубликовано: 01.01.1970

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-279059-279059.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">279059</a>

Похожие патенты