Способ регистрации телпературы и температурной зависимости межплоскостного расстояния

М, -скм 4 мза й ФЬЮЮВ-жюЪВ:вв:чй 4 увиВФ 1, 277316 О П Е ИЗОБРЕТЕНИЯ Союз Советских Социалистических РеспубликК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ свидетельства9 ( 1308975/18-10) ависимое от ав Заявлено 06.л. 421, 12/01 присоединением явки011 с 2114 ПриоритетОпубликовано 22.Ч.970, БюллетеньКомитет по делам зобретений и открытий при Совете Министров СССРЧДК 536 5 082 54(088 8 Дата опублико я описания 2.Х 1.197 Авторыизобретения Н, Гриднев Гуревич, Л. Н. Лариков, В. Н, Минак В; И. Трефилов ститут металлофизики АН Украинской ССР аявител ПОСОБ РЕГИСТРАЦИИ ТЕМПЕРАТУРЬ ЗАВИСИМОСТИ МЕЖПЛОСКОСТНОГ ТЕМПЕРАТУРНОЙ АССТОЯН ИЯ Изобретение относится к области приборостроения и автоматизации научных исследований,Известные способы рентгеноструктур ного анализа с автоматической регистрацией температурной зависимости межплоскостного расстояния путем непрерывного слежения за максимумом ичтенсивности интерференционной линии сдвоенным счетчиком Гейгера -- Мюллера, установленным на рентгеновском 10 дифрактометре, трудоемки и не применимы для изучения быстропротекающих процессов. Кроме того, при изучении структур с более низкой сингонией, чем кубическая, или двухфазнь 1 х систем, возникают дополнительные 15 трудности, связанные с устройством двух или более следящих систем со счетчиками Гейгега - Мюллера.Предлагаемый способ не имеет этих недостатков и отличается от известных тем, что 20 определяют положение максимума интенсивности интерференционной линии на временной оси, напримерпо изменению знака произзодной моделирующего напряжения, измеряют и автоматически регистрируют смещение макси мума интенсивности линии ьо времени относи тельно, например, рсперного импульса под влиянием внешних параметров, пропорциональное, например, в случае кристаллической структуры с кубической симметрией периоду 30 решетки, и регистрируют одновременно изме. пения температуры и периода решетки.Кроме того, измерения производят по двум каналам и регистрируют одновременно на одном и том же регистрирующем устройстве смещение максимумов интенсивности нескольких интерференционных линий и изменения температуры. Это позволяет упростить методику и ускорить анализ результатов измерений.Сущность предлагаемого способа заключается в определении положения во времени максимума рентгеновской интерференционной линии, спектр которой получен сканированием линии щелями, относительно неподвижного детектОра излучения. ПОложение указзннОго максимума определяется, путем моделирования спектра линии импульсом напряжения при помощи интегрирующего устройства, дифференцирования этого импульса и определения голожения максимума по изменению знака производной моделирующего напряжения.В случае абсолютных измерений межплоскостное расстояние определяется измерением временного интервала между фиксированным во времени контрольным импульсом, соответствующим определенному углу, и максимумом интерференционной линии. При определении изменений межплоскостного расстояния производится измерение изменений временногоЗаказ 3159/19 тираж 480 ПодписноеЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССРМосква, Ж, Раугпская кгб., д. 4(5 Типография, пр, Сапунова, 2 интервала между двумя соседними максимум а ми. Регистрируется зависимость а =1 (т),В случае определения зависимости межплоскостного расстояния от внешних параметров, например температуры, давления и т, д., лснта 5 регистрирующего устройства перемещается синхронно с изменением влияющего параметра. Таким образом, непрерывное измерение временных интервалов с преобразованием в аналоговую форму моделирует изменение па раметра решетки в,случае кристаллической структуры с,кубической симметрией.В случае более сложных кристаллических структур, например теграгональной, гексагональной, а также двух- или многофазных си стем, производят измерение по двум или более каналам с применением двух или нескольких детекторов излучения, установленных в местах нахои(дения интерференционных линий, например различных фаз. 20 Предмет изобретения1. Способ регистрации температуры и температурной зависимости межплоскостного расстояния путем сканирования интерференцион ной рентгеновской линии щелями отиосительно неподвижного детектора излучения и измерения распределения интенсивностей и изменений температуры, от.гииаоаийся тем, что, с целью упрощения методики и ускорения анализа результатов измерений, определяют положение максимума интевсивности интерференционной линии на временной оси, например, по изменению знака производной моделирующ го напряжения, измеряют и автоматически регистрируют смещение максимума интенсивносги линии во времени относительно, например, реперного импульса под влиянием внешних параметров, пропорциональное, например, в случае кристаллической структуры с кубической симметрией периоду решетки, и регистрируют одновременно изменения температуры и,периода решетки,2. Способ по п, 1, от,гичаоцийся тем,. что, с целью уокорения анализа в случае более сложных кристаллических структур, например, тетрагональной а также двухфазных систем, производят измерения,по двум каналам и регистрируют одновременно на одном и том же регистрирующем устройстве смещение макси. мумов интенсивности нескольких интерференционных линий и изменения температуры.