Раздельно-совмещенная искательная головка к ультразвуковому дефектоскопу

Номер патента: 1244481

Опубликовано: 15.07.1986

Автор: Радченко

МПК: G01B 11/24

Метки: объекта, поверхности, формы

...началу отсчета, источникизмерения посылает зондирующие световыеимпульсы на поверхность исследуемого объекта 12.Излучение источника света имеет коллимированный пучок с малой апертурой, в результате чего на исследуемой поверхностиформируется световое пятно небольшого размера. Первоначально приемная оптическаясистема 2 и источник 1 излучения установлены так, что их оси пересекаются на оси 5,относительно которой происходит вращениекронштейна 6 с измерительной головкой.Приемная оптическая система 2 строит наповерхности фотоприемника 3 изображениесветового пятна, спроектированного источником излучения на контролируемую поверхность объекта 12. При изменении расстоя 5 10 15 20 25 30 35 40 45 ния от оси 5 до точки на поверхности...

Номер патента: 489020

Опубликовано: 25.10.1975

Авторы: Заруба, Ямпольский

МПК: G01M 10/00

Метки: волнении, воспроизведения, жидкости, поверхности, формы

...тягах 9 с помощью упругих шарниров 10 подвешены дпф(рерснцпальные рычаги 11, на середины кото 1 О рых опираются нпжппмп концамп стержни12 с приклеенными наконечниками 13. Наконечники являются постоянными магнитами,они соединяются с пленкой, которая выполнена из эластичного материала с магнитным15 порошковым наполпителем - окисью железа.В конструкции предусмотрена направляющая14 (на фпг. 1 условно пс показана).Обмотки электромагнитов возбуждаютсячерез суммирующие усплитсли мощности -транзисторы 15 - суммой спнусоидальныхсигналов, которые снимаются со щеток 16многощеточных синусно-коспнусных потенциометров 17, вращаемых от раздельно регулируемых приводов (на чертеже не показаны),Питаются потенциометры через токосъемники 18. Соединение...

Номер патента: 709967

Опубликовано: 15.01.1980

Авторы: Заруба, Ямпольский

МПК: G01M 10/00

Метки: волнении, воспроизведения, жидкости, поверхности, формы

...короба 1, на верхнейчасти которого закреплена двойнаяпленка 2 с магнитным порошковым напслнителем, механизм создания волнс приводом 3, взаимодействующий сдвсйвой пленкой посредством стержня4 с наконечником 5, соединенного сприводом при помощи тяг б, дифференциальных рычагов 7 и траверс 8, Вконструкции предусмотрена направляющая 9, Привод ссдержит сильфоны 10,11 и 12, расположенные один над другим, Отсеки сильфонов соединены трубками с эадатчиками 13, выполненнымив виде корпусон с размещенными в нихпс окружности сильфонами 14, взаимо709967 Я-А 12 действующими с круговыми эксцентриками 15, установленными в центре корпусов с возможностью регулировки эксцентриситетаКаждый круговой эксцентрик снабжен индивидуальным приводом (на чертеже не...

Номер патента: 1065683

Опубликовано: 07.01.1984

Авторы: Казак, Чебакова

МПК: G01B 11/25, G02B 27/60

Метки: отклонения, поверхности, сложной, формы

...контроля отклоне 30 ний формы целесообразно использовать в качестве стадии технологического процесса формообразованияасферической поверхности без съемадетали со шпинделя станка. Если же35 при вращении детали 18 луч 20 описывает в обратном ходе окружностивокруг самого себя в прямом ходе,то при помощи юстировочных подвижексистемы 2 можно совместить в прост 40 ранстве оба хода луча 20, напримерпри визуа.льном наблюдении этого совмещения на полупрозрачной поверхности 13. Далее вводится в ход луча,20оптическая система 2, и ось этойсистемы 2 устанавливается сооснооси симметрии детали 18, причем положение соосности контролируетсятакже на указанной полупрозрачнойповерхности 13 по постоянству к:ртины совмещения луча 20 в прямоми обратном ходе,...

Номер патента: 1753237

Опубликовано: 07.08.1992

Авторы: Абубекеров, Баранов

МПК: G01B 5/20

Метки: детали, поверхности, формы

...операций; ускоренный подвод 10 15 20 25 30 35 40 измерительной головки к детали, торможение и медленный подвод головки к детали до контакта с нею щупа, затем отвод головки и выход на новую точку с повторениемвсего ряда выше описанных оп раций, чтб снижает производительность измерений.Цель изобретения - повышение производительности измерений.Указанная цель достигается эа счет того, что выбираютдополнительную систему координат измерительной головки КИМ, оси которой параллельны соответствующим осям координат КИМ или совмещены с ними, определяют положение точек поверхности в дополнительной системе координат, апри определении Формы поверхности учитывают алгебраическую сумму одноименных координат точек в обеих системахкоординатВ предложенном...