257757

Номер патента: 1663428

Опубликовано: 15.07.1991

Авторы: Емельянов, Муромцев, Пудовкин, Чернышов, Чернышова

МПК: G01B 21/08

Метки: изделия, неразрушающего, пленочного, покрытия, толщины

...в центре площадки контакта поверхности с источником. При установившемся тепловом режиме эта температура становится постоянной, т,е. Т 1=сопэ 1. Затем помещают источник на поверхность изделия с покрытием, теПлоизолируют его, осуществляют нагрев поверхности и измеряют значение ину покрытия оп опреде полученной иэ анализа математической моде16 б 3428 ры нагретой поверхности изделия, затем осуществляют нагрев поверхности изделия с покрытием и измеряют значение избыточной температуры поверхности покрытия, а 5 толщину покрытия определяют с учетом иамеренных значений температур и теплопроводности материала. покрытия, о т л и ч а ющ и й с я тем, что, с целью повышения точности, нагрев поверхности осуществ ляют с помощью плоского...

Номер патента: 1733917

Опубликовано: 15.05.1992

Авторы: Пудовкин, Чернышов, Чернышова, Юдина

МПК: G01B 7/06

Метки: бесконтактного, изделия, неразрушающего, пленочного, покрытия, толщины

...неподвижном источнике температура была выше выбранных значений.Начинают перемещать источник 1 тепловой энергии вместе с термоприемником 2 над поверхностью изделия 3 с постоянной скоростью Чо, При этом на входы вычитаю- щего устройства 4 подаются сигналы от термоприемника 2 и сигнал с блока 5, соответствующий первому выбранному значению температуры Таад.1. Разностный сигнал Ь Т (Ч) с выхода вычитающего устройства через усилитель 6 мощности поступает на реверсивный двигатель 7, который в зависимости от знака и величины рассогласования перемещает в ту или иную сторону реохорд 8 потенциометра, который изменяет напряжение питания двигателя 10, тем самым изменяя число его оборотов. Двигатель 10 через механизм перемещения увеличивает или...

Номер патента: 1238009

Опубликовано: 15.06.1986

Автор: Котенко

МПК: G01R 33/02

Метки: магнитной, поверхности, структуры

...магнитной системы (стелларатора) инжектируют точечный пучок электронов вдоль силовой магнитной линии. Электронный пучок проходит в замкнутой камере магнитной системы .несколько оборотов. Фиксируют точки и порядок прохождения. электронного пучка через плоскость сечения камеры. В одной из точек плоскости, где на-. дежно зафиксировано прохождение элект ронного пучка, вновь инжектируют пучок электронов вдоль силовой магнитной линии. По порядку прохождения пучка через плоскость сечения камеры и координатам точек пересечения судят 45 о структуре магнитной поверхности,На Фиг. 1 и 2 изображены схемы реализации способа, где 1 - участок торроидальной вакуумной камеры, А и И - сечение камеры, 2-.3 - зонды б пушки для инжекции и измерения элект 09...

Номер патента: 1733928

Опубликовано: 15.05.1992

Авторы: Муромцев, Пудовкин, Чернышов, Чернышова

МПК: G01B 21/08

Метки: изделия, неразрушающего, пленочного, покрытия, толщины

...на изделии без покрытия, а затем - на изделии с покрытием, и замеряют значение избыточных температур в центре расположения источника и в точке, расположенной на заданном расстоянии от него, симметрично относительно его концов, и используют замеренные значения температур при определении толщины покрытия,поверхности изделия - в точке, расположенной на заданном расстоянии от источника теплоты и симметрично относительно его концов. Затем устанавливают источник на, д поверхность изделия с покрытием и также( сизмеряют установленную температуру Тз в центре источника тепла и температуру Т 4 на поверхности изделия также в точке, распо- ф" ложенной на заданном расстоянии от источ ника теплоты и симметрично относительно его концов. 00Искомую...

Номер патента: 1057901

Опубликовано: 30.11.1983

Авторы: Лухвич, Мелешко, Рудницкий, Шукевич

МПК: G01R 33/12

Метки: магнитных, поверхностных, слоев, толщины

...зависит от содержания 35магнитной Фазы в исследуемом металле 12 .Вследствие того, что конструкциямагнита не позволяет регулировать глу-,бину намагниченного слоя, на показания 40прибора при измерениях оказывает влия"ние ферромагнитная основа иэделий.Поэ-тому понижаются чувствительность иосо-бенно точность измерений в тонкихнаправленных слоях и ограничиваетсяобласть применения известного устройства,Цель изобретения - повышение точности измерения.Поставленная цель достигается ф ; 50 тем, что в устройстве для измерения толщины магнитных поверхностныхслоев, содержащем рычаг с уравно" вешенным противовесом постоянным магнитом и спиральную пРужину, пос тоянный магнит выполнен из двухчастей, установленных соосно одна иад другой на регулируемом...