Способ электромагнитной дефектоскопии изделий

Номер патента: 242469

Автор: Чуприн

ZIP архив

Текст

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕН ИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУСоюз Советских Социалистических РеспубликЗависимое от авт. свидетельства42 к, 46/03 1.196 (ЛЪ 1200815,/25-28) Заявлен с присоединением заявкиМПК 6 01 п Комитет оо делам изобретений и аткрыти ори Совете Министров СССРриорите ДК 620.179,14(088,8) Опубликовано 251 Ъ",1969, Бюллетень15 Дата опублико ния описания Я.П.196 3, В. Чуприняквательский институт по разработке неразруредств контроля качества материалов ПОСОБ ЭЛЕКТРОМАГНИТНОЙ ДЕФЕКТОСКОПИ ЕЛ Известен способ элект скопии изделий, заключа контролируемое изделие мали к его поверхности в виде двух индукционн расположены соосно одн кости, снимают сигнал датчика, по которым су ромагнитнои дефектоющийся в том, что на устанавливают по нордатчик, выполненный ых катушек, которые а другой в одной плосы с каждой катушки дят о наличии дефекся от извеушки распонии друг от ой катушки, по разности ает процесс азора,На чертеже и нии намагничен труба. Над поверхно чик, выполненн катушек 2, уста расстоянии дру через усилителиоперечном сечеяся дефектна тью трубы 1 расположен датй в виде двух индукционных овленных на фиксированном от друга. Сигналы с катушек 3 поступают на логарифмичеАвторизобретенияЗаявитель Всесоюзный научно-исследшающих методов и Предлагаемый способ отличает стного тем, что индукционные кат лагают на фиксированном расстоя друга, сигналы, снимаемые с кажд логарифмируют и судят о дефекте логарифмов сигналов. Это упрощ отстройки от влияния изменения з зображена в п ная вращающа2ские цепочки, состоящие из балластных сопротивлений 4 и логарифмирующих диодов 5.Сигнал, снимаемьш с выхода схемы, равенразности логарифмов сигналов датчика и пропорционален глубине залегания дефекта независимо от колебаний зазора между датчикоми поверхностью изделия,Пр едм ет изобретения10 Способ электромагнитной дефектоскопинизделий, заключающийся в том, что на контролируемое изделие устанавливают по нормалик его поверхности датчик, выполненньш в видедвух индукционных катушек, которые распола 15 гают соосно одна другой, снимают сигналыс каждой катушки датчика, по которым судято наличии дефектов, отличающийся тем, что,с целью исключения влияния колебаний зазора между датчиком и поверхностью контроли 20 руемого изделия на результаты контроля, индукционные катушки располагают на фиксированном расстоянии друг от друга, сигналы,снимаемые с каждой из катушек, логарифмируют и судят о дефекте по разности логариф 25 мов сигналов.242469 нус едакт Заказ 21 ГО/10 Тираж 480 ПодписноЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР Москва, Центр, пр. Серова, д. 4 Типография, пр. Сапунова,Составитель В, ехред Т. П, Ку ынов Корректор А. Б. Родионова

Смотреть

Заявка

1200815

Всесоюзный научно исследовательский институт разработке неразрушающих методов, средств контрол качества материалов

Э. В. Чуприн

МПК / Метки

МПК: G01N 27/90

Метки: дефектоскопии, электромагнитной

Опубликовано: 01.01.1969

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-242469-sposob-ehlektromagnitnojj-defektoskopii-izdelijj.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ электромагнитной дефектоскопии изделий</a>

Похожие патенты