Способ плазменно-дуговой резки

Номер патента: 172501

Опубликовано: 01.01.1965

Автор: Зобретен

МПК: B07C 5/04

Метки: автомат, действия, многопозиционный, периодического, пластин, сортировки, толщине

...сортировать по толщине пластины одного типоразмера. К тому же такие автоматы 1 о контролируют и сортируют пластины строго определенных гаоаритных размеров.Описываемый автомат отличается тем, что в нем применена электропневматическая измерительная система из двух 8-контактных 15 датчиков, настроенных на различные диапазоны сортировки, что позволяет контролировать пластины двух размеров без перенастройки,Загрузочное устройство с регулируемым упором удерживает в захватах карусели по 20 центру пластины различных диаметров - ог 20 до 50 м.к, а трехплечий рычаг позволяет подавать в захваты негабаритные пластины вручную при сохранении автоматического цикла сортировки.25На фиг. 1 изображена кинематнческая схема автомата.Карх сель (чаег...

Номер патента: 363530

Опубликовано: 01.01.1973

Авторы: Вител, Горшков, Федотов

МПК: B07C 5/06

Метки: пластин, полуавтомат, сортировки, толщине, упругих

...1 под каждым приспособлением б расположены штоки 24, управляющие бесконтактными выключателями 25. Пластины подготавливаются к загрузке на столе 26 для ручной 15загрузки диска 1. Неподвижный клин 27 осуществляет возврат штоков 24 в исхсдное положение. Измерительная голодовка ссстэпт нзизмерительного ролика 28 со штоком 29 иэлектроконтактного датчика 30. 20Включение и выключение питания датчика 30 происходит прои помощи флажка 22включателя 23 в моменты входа ролика 28 напервую тарелку 12 и схода его с последней,Датчик 30 выдает два сигнала: выше и ннже номинальпого. Три электромагнита 31 запоминающего устройства срабатывают по сигналам от датчика 30 и выдвигают соответствующие штоки 24.Сортировочная система состоит из электро- ЗОвентиля...

Номер патента: 1381328

Опубликовано: 15.03.1988

Авторы: Гаврилюк, Ерошин, Купчик, Сацукевич

МПК: G01B 7/287

Метки: неплоскостности, пластин, толщины

...и толщины пластин за счет исключения по, ,решности деформации.На чертеже представлена схема устройст. а.Устройство для контроля неплоскостноститолщины пластин содержит основание 1, етыре датчика 2 и 3 перемещений, лектронный преобразователь 4, включаюий в себя блок 5 измерения толщины, 15 ходы которого соединены с выходами атчиков 2 и 3, блок 6 определения ба. овой плоскости, входы которого соедиены с выходами датчиков 3 и соответтвующими входами блока 5, блок 7 изерения неплоскостности, первый вход кото ого соединен с выходом блока 6, а второй -выходом датчика 2, щупы 8 трех ба. овых датчиков 3, расположенные равноерно по окружности, диаметр которой еньше контролируемой пластины 9, щуп 10 атчика 2 перемещений, расположенный в ентре...

Номер патента: 1441191

Опубликовано: 30.11.1988

Авторы: Ивашура, Коростелев, Попов, Пучинин

МПК: G01B 11/06

Метки: калориметрический, пластин, толщины

...х между датчиками 2,3 расстояниях между датчиком 2 и тепловым лучом 1 и толщина й пластины 4.Способ осуществляется следующим 20 образом.. Осуществляют нагрев поверхности пластины 4 коллимированным тепловым лучом 1 постоянной мощности, измеряют температуру с помощью двух датчиков 25 2,3, которые располагают в одной плоскости с тепловым лучом 1, так, чтобы расстояние между ними равнялось расстоянию от теплового лучадо ближайшего к нему датчика 2, пластину 4 перемещают с постоянной скоростью в направлении от датчиков 2,3 к лучу 1.В качестве коллимированного луча 1 используют лазерный луч. В качестве датчиков 2,3 используются бесконтактные датчики температуры, например радиометры с рабочим диапазоном Я 2- 20 мкм. Толщину й пластины...

Номер патента: 108582

Опубликовано: 25.07.1976

Автор: Иоффе

МПК: G01B 11/06

Метки: кристаллических, пластин, толщины

...температуру Т, Если развернуть кристалл А на угол 45, тоокажется, что он не участвует в образовании разности хода. Измеренная дробная часть порядка интерференции хд относится целиком к более тонкому кристаллу Б. Далее кристалл А поворачивают в первоначальное положение, а кристалл Б - на угол 90. Суммарная разностьхода Е теперь будет равна ЕА - Еь, При этом дробная часть порядкаинтерференции окажется равной х.Если бы пластина Б была точно в два раза тоньше, чем А, какэто требуется для идеального иптерференционно-поляризационного светофильтра, то разность хв - х была бы равна нулю, так как в обоихслучаях отсчитывали бы одинаковый угол поворота анализатора.Разность отсчетов указывает на отступление от кратности толщини дает...