Широкоугольный светосильный объектив концентрического типа

Номер патента: 1043581

Опубликовано: 23.09.1983

Автор: Хеллригел

МПК: G02B 7/00

Метки: объективов, оптических, светосильных, центрирующее, элементов

...с соседствующей с ними лобовой поверхностью металлической оправы.Кроме того, в центрирующих устройствах с по меньшей мере двумя цилиндрическйми металлическими оправами проекционных оптических элементов, расположенных коаксиально геометрической оси полого цилиндра, обе металлические оправы вблизи их сосед-,них лобовых поверхностей охначены герметизирующим кольцом.Упругое герметизирующее кольцо препятствует прохождению сжатого воздуха между соседними проекционными оптическими элементами. Тем самым5 предотвращается осевое смещение соседних оптических элементов. Изменение показателя преломления из" за наличия сжатого воздуха между оптическими элементами исключено.На чертеже представлено центрирующее устрвйство для оптических элемен тов...

Номер патента: 559134

Опубликовано: 25.05.1977

Авторы: Кононенко, Коралова, Орманджиев, Потемпа, Ревенко, Цупко-Ситников

МПК: G01J 1/04

Метки: коэффициента, объекта, оптического, пропускания

...через ъект н ослабитель, третий поток - лаби тель. Для реализации способа измерения в устройстве дисковый модулятор выполнен с четырьмя измеря. тельными отверсгиями, трн нз которых раслоложе. ны на одинаковом расстоянии от центра, а четвертое расположено между одним нэ крайних отверстий н центром, .причем на четвертом отверстии и срегвгем из трех установлены ослабнтели.Обозначим интенсивность потока излучения Э, а коэффициенты пРопУсканиЯ длЯ объекта тоб, первого ослабнтеля твторого ослабителя т,. Начальное смешение характеристики приемника нз. лучения выразим через эквивалентную интенснв59134 ЦНИИПИ Закаэ 1438/116Тираж 1101 Подписное филиал ППП ффПатент", г, Ужгород, ул, Проектная, 4 3ность Зн, Тогда н выходе приемника...

Номер патента: 1112266

Опубликовано: 07.09.1984

Автор: Иванов

МПК: G01N 24/08

Метки: внутреннего, материальных, объектов, строения

...обеспечивающих прецессию всего ансамбля ядер в Аазе (путем предварительной поляризации образца, например, сильным внешним магнитным полем), прецессия может быть зафиксирована физическими: радиотехниче скими) методами. Этот принцип (зависимость частоты прецессии суммарного вектора намагниченности ансамбля ядер от внешнего магнитного поля) положен в в основу пре цизионных магнитометров 2.ЭААект прецессии вектора суммар" ной намагниченности ансамбля ядер во внешнем магнитном поле может быть использован для реализации способа наблюдения внутреннего строения материальных объектов, близкого по назначению рентгенологии.Суть предлагаемого способа состоит в том, что при помещении исследуемого объекта в сильное поляризующее поле Нп,...

Номер патента: 1177664

Опубликовано: 07.09.1985

Автор: Янышев

МПК: G01B 17/04

Метки: внутренних, контролируемого, напряжений, неупругих, объекта, составляющих

...нагревахарактеризует искомый режим, Параметры режима зависят от энергиинакопленных дефектов структуры,т.е,могут изменяться для определенногоматериала в широких пределах. Так,для Ст.45 они составляют : Т =560 С,= 140 мин, Б ( 120 С, Подвергают все образцы стабилизирующему отжигу на найденном режиме иподбирают для них режим механичес-кой обработки поверхности резанием, создающий в поверхностномслое взаимно компенсирующие дефектыструктуры.Обработка конструкционных материалов резанием сопровождаетсякак силовым,так и тепловым эффектом.Силовое воздействие вызывает сжимающие деформации, а тепловое - растягивающие. Это позволяет подобратьрежим чистовой обработки, при котором силовое и тепловое воздействиявзаимно компенсируются, т.е....

Номер патента: 1474462

Опубликовано: 23.04.1989

Авторы: Сидохин, Утенкова, Щербединский

МПК: G01B 15/06

Метки: внутренних, напряжений, объекте, поликристаллического

...точно опре 1делять внутренние напряжения в материале, так как систематические погрешности измерения параметров кристаллической решетки при этом взаимнокомпенсируются, а используемые длярасчета данные (кроме модуля упругости и коэффициента Пуассона) более25 точно отражают реальные свойства исследуемого материала.формула и з о б р е т е н и яСпособ определения внутреннихнапряжений в объекте из поликристаллического материала, заключающийсяв том, что исследуемый участок поверхности объекта облучают пучкомрентгеновских лучей, регистрируютдифракционную кривую, определяют35положение выбранного дифракционногомаксимума, а по нему - параметр решетки материала и по этим даннымопределяют сумму главных напряжений,о т л и ч а ю щ и й с я тем, что,...