Способ измерения плотности газа в сверхзвуковом потоке при низких давлениях
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
Сооз Советских Социалистическ 1 х Республикг авт. свидетельства М Зависив Заявлено 25.11.1964889976/26-25 л. 42l, 2/03 1 ВКИ О ПРИСОСД 1 ШЕНИЕМ З 1 Г 1 К 6 0 оритст Коиитет па пооз 1 зобретений и отк.",зтий при Совете И 5 истров СССРУДК 621;384,5;621,317,3 1,088.81 966, Бюллетспь Ло 2 ошсан.я 16.Х 11.1966 Опубликовано 20.Х Дата опубликован авторИЗООРСТС 1 Ц 51с.,.,11 с у 11 с т.л) 151 В 11 ТСЛЬ СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ПЛОТНОСТИ ГАЗА В СВЕРХЗВУКОВОМ ПОТОКЕ ПРИ НИЗКИХ ДАВЛЕНИЯХЭлекгрическа 5 мощ рядном промежутке держания тлеоПего яркости, нсвелцка -ость, ьыдбиост ттосвеченият долей лясмая в разная для поднеобходимой атта до нссИзвестны сцосооы визуализации сверхзвуковых газовых струи с помощью свечения, создаваемого тлеющим разрядом. Для визуализации неоднородностей плотности, согласно аким способам, используют свечение положи тельного столба разряда.Цель изобр стени - повысить точность и расширить диапазон измерения плотности гга в сверхзвуковом потоке в сторону низких давлений. Для этого предлагается о плотно сти газа судить по градиенту ицтенсивности отрк;ательного свечения разряда.11 редл агаемый способ осуществляют следующим ооразом.В рабочей части аэродинамической трубы 1 ь низкого давления зажигается тлеюцИЙ разряд, Для визуализации используют свечение като)дных частей разряда. Катодпым электродом может служить сопло, формирующее сверхзвуковой поток. Строение катодных ча стей нс зависит от места расположения анодого электрода, поэтому его можно поместить в отдаленной области рабочей камеры аэродшамичсской трубы и прианодное свечение не будет вносить помех в наблюдение. При 2 э достаточно низком давлении столб разряда отсутствует, и все свечение сосредоточивается в приэлектродпых областях.Возбуокдецие свечения осуществляется при цеупруИх соударениях электронов, имеющих 3 энергио порядка величины катодного падения гОтснциал 1, с молскуламп газа.Резко выраженцьш направленный характер движения электронов в катодных частях разряда позволяет рассматривать это движение как электронный поток, подчиняюгцийся зако пам распространеш 1 в газовой среде. При прохожтенин эг 1 скт 1)оццого потока сквозь газ концентрация электронов в результате рассея- и падает по экспотенцнальному закону, причех степень падения концентрации зависит От плотности газа. 11 змснеццю концентрации электронов соотьстствует цзмененце интенсивности свечения. Таким образом, определение градиента штгенсш)цости свечения в направлглши распространения электронного потока позволяет измерить абсолютное значение плотцосги газа, а в случае неоднородностей плотности - относительные значенця плотности, соотвегствующце этим неоднородностям, Использование области прикатодного свечения лает возможность количественного определештя плотности газа в сверхзвуковом потоке и за скачком уплотнения у модели при низких тс )сниял)1 осква, Цетр, пр. Серова, д. 4 Типография, пр. Сап)попа, 2 КО, ПКИ 5; )с Г 101 И В;105 И 1 ИС РЗЗР 5 Дс И 1 Ис(Т.1)П ГНЗОПО 0 ПОТОКс):)1 сЛО,сКОП СИО.00 ИЗЛ 1 СРСИИ 51:ГОЖСГ ПРИсси)ГПС 51 П,ГОБОЛЫ 10 ШИРОКОЪ;ГпсЧГсЧЗОНЕ Да)ЛРПИ 1(.ИРИ(:0 ПРПИГКСПИР Дс 1 И 1 СПИ 51 С ПС,ПЧРПИС)Рсп 3.1 СРО) 00.1 аСТИ ИРИ 1,с 1 ТОДПОГО СБСс 1 СИИ 51 СИОсобстп ст 17 ас 1 пирспи 10 иол 51 псб)ПО,ГРПП 5. П)сДСЛ П)11)с)с И)ПОС ГИ СПОСООс СО СТОРОЛ Л с(1 Ы КсП.)С ИИ 11 ОПРС,ГСГ 5 С 1051 1 Г)сБППЪ ООРс)ЗОЛ ОТПОси "с,п ипм уис,Ичепие) ошибки из)1 срси)1ПРП КОРРсктпо 1 обРаботке РРЗУГптсТоп мотк(бы Гь дисдсп до 10 4 л(л 1 рт. ст.(,.ОСОб И 331 СРСИИ 5 И,10 ПОСП 1 сЗс 1 И С 1)СР:;11 г,О 1 О) 1:0 ОКР 1 Р 11 1113 КК .",сП,с 51; 1 О И 5(ПСИНОСИ СНС СИИ 5 171 РГОИГ(.ГО )сЗР 5 Лс), 3 с)- ск И ЧП,)ОГО П ПОТОКС, Па ПР И.;С), )1 С)к;1)с СООтт., (,)ОртИОПИ) ИОТк И С,т)ксГИЛ ИО Ы)СК с О,О )1, И с 10,10)1, 7 Л(1 сОЯ(с)1(3 с СМ, 1 ТО. ( ГС)11 О ИОП)ИПСИП 5 ТО 1 ПОСТИ И Рс)СПИ;)(ПИ 5 ДИ.10;)пс 30 пс ИЗЪСРСПИ П СТОРОН)с НИЗКИ;:;Гс 1 П,(. -ИИИ, 0 ИГОТИОСИ ГаЗс СД 51 Г ИО 1 РаДИС 11 Ип т( псипости о Гриатеси)ОГО сзечепи: ) 031)51,1).
СмотретьЗаявка
889976
К. ОГГ, В. М. Калугин
МПК / Метки
МПК: G01N 21/69
Метки: газа, давлениях, низких, плотности, потоке, сверхзвуковом
Опубликовано: 01.01.1966
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-188122-sposob-izmereniya-plotnosti-gaza-v-sverkhzvukovom-potoke-pri-nizkikh-davleniyakh.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ измерения плотности газа в сверхзвуковом потоке при низких давлениях</a>
Предыдущий патент: Прибор для изучения реологических свойств термопластичных материалов
Следующий патент: Способ количественного определения углерода
Случайный патент: Установка для крепления теплообменных труб в трубной доске