Способ измерения величины спада плоской части импульсов напряжения

Номер патента: 687414

Опубликовано: 25.09.1979

Авторы: Бойцов, Жилевич

МПК: G01R 29/02

Метки: величины, вершины, импульсов, искажений, неравномерности, периодических, плоской, спада, фронта, части

...(для обеспечения измерения фронтов малой длительности) и приводит ам, плитуду начального уровня генератора 3в соответствие с нулевым уровнем амплитуды исследуемого импульса,Для того чтобы не произошло неправильного переключения блока 4 знака разности, используется блокировка первогоисследуемого импульса, поступающего навход блока знака разности благодаря чему на его вход поступают исследуемыеимпульсы лишь начиная со второго.Триггер 5 при включении питания устройства устанавливается в такое состояние, что ключ 6 оказывается закрытым,Спадом первого исследуемого импульсатриггер 5 перебрасывается, открываетключ 6 и на вход блока 4 знака разности начинают поступать, начиная со второго, исследуемые импульсы,При каком-то минимальном...

Номер патента: 234511

Опубликовано: 01.01.1969

Авторы: Голубев, Пашковский

МПК: G01R 29/02

Метки: величины, плоской, спада, частиимпульса

...амплитуду и абсолютную величину спада исследуемого импульса, а К - коэффициент, связывающий амплитуду исследуемого и нормированного импульсов.На диаграмме 11 показан вспомогательный импульс с аыплитудои /т с/н и длительно стью, равной длительности плоской части исследуемого импульса.На диаграмме П/ представлен результат сложения в противофазе нормированного и вспомогательного импульсов. Как видно из этой диаграммы, полученный в результате сложения отрицательный импульс имеет амплитуду У = КЛт/с,вх. Так как величина нормированной амплитуды импульса с/в известна, то измеряя с/, можно определить о - относительную величину спада исследуемого импуль - Квс.вхУ в Кв /вхУстройство, показанное из нормализатора 1, предс мер, усилитель с автомат...

Номер патента: 297005

Опубликовано: 01.01.1971

Авторы: Колбасов, Смирнов

МПК: G01R 29/02

Метки: импульса, нлоской, снада, части

...прибора б, например осциллографа, измерительного прибора 7 постоянного тока, резистора В нагрузки и источника 9 опорного напряжения постоянного тока.Измеряемый импульс, пройдя через нормализатор 1, поступает на пороговые схемы 2 и 3, управляемые напряжением источника 9,10 которое измеряется прибором 7. Пороговыенапряжения схем 2 и 3 незначительно отличаются одно от другого.Выходные импульсы схем 2 и 3 поступаютна входы формирователей коротких импуль 15 сов, соответствующих заднему фронту, Этнимпульсы смешиваются на резисторе 8 нагрузки и поступают на прибор б, регистрирующий момент резкого изменения временного интервала между ними. Шкала прибора20 7 градуируется в относительных или абсолютных величинах спада плоской части...

Номер патента: 532046

Опубликовано: 15.10.1976

Автор: Стрелков

МПК: G01N 29/04

Метки: величины, веществе, кристаллитов, методом, твердом, ультразвуковым

...рассеивается и отражается от его структурных неоднородностей, Отраженные сигналы (реверберационные шу 1 мы) подаются на усилитель 3 высокой частоты и через детектор 4 и блок отсечки 5:поступают на вход осциллографа, Компенсация потерь, связанных с,расхожде,нием и затуханием акустического импульса в среде, производится блоком 7 ВРЧ. Компенсацию потерь на рассеивание ультразвука, величины, переменной даже в пределах одного изделия, проводят следующим образом.Усиленный и продетектированный сипнал от реверберационных шумов поступает на интегратор 9, который формирует пилообразное напряжение, Это напряжение подается на один из первых каскадов усилителя 3 высокой частоты, изменяя его чувствительность по закону, обратному закону изменения...

Номер патента: 976291

Опубликовано: 23.11.1982

Авторы: Азаренков, Огольцов, Поляков

МПК: G01B 11/00

Метки: величины, объекта, перемещения, скорости

...ветви интерферометра приводят к перемещению зоны облучения на поверхности объекта 1 О,которая является диффузно рассеивающей, имеет место модуляции рассеянного объектом 10 излучения по интенсивности. Это приводит к модуляции, помехой амплитуды электрического сигнала на выходе полосового Фильтра 15,Глубина этой модуляции определяетсявеличиной отклонения оптической осиизмерительного луча от среднего пофРЕи(ЕЛ Где(+и 7 97 те действия дефпектора 8, и другими мешающими Факторами,;.На модулятор Ь подается напряжение от блока 20 формирования модулирующих сигналов. В соответствии с известным принципом синтеза в лазерном интерферометре фаэомодулированной (ФМ) поднесущей путем двухчастотной модуляции разности Фаз интерфеоирующих лучей блок...