Для контроля погрешности формы осиили
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
САН И РЕТЕНИ Сова СоеетскикоциалистическиРеспублик СВИДНЕДЬСТВУ АВТОР СК Зависимое от авт, свидетельства1 Х.1964 ( 928701/25-28) явле с присоединением заявкиКомитет оо делам аооретений и открыти ори Совете Министров СССРриорит убликовано 12.Х.1966. Бюллетеньта опубликования описания 17.Х.19 бб Авторыизобретени И. Шмунис, Е. И, Цуканов, С. А. Мезенцев, И. Х. Бурд Я, М. Богаковский и М. Э. Вайнштейнаявит УСТРОЙСТВО ДЛЯ КОНТРОЛЯ ПОГРЕ ИЛИ ВЗАИМНОГО РАСПОЛО СТИ ФОРМЫ ОСИИЯ ОСЕЙ На чертеже изображено предложенное устройство.Оправка 1 с помощью подшипника 2 скольжения и пружинной мембраны 3 подвешена к цептрирующему столику. 4, который крепится па проверяемой детали 5. Другой конец оправки несет базовый радиальный и вспомогательный упоры б и 7, На оправке закреплены датчики 8 (например, индуктивные), наконечники которых лежат в основной плоскости, проходящей через базовый упор б. Каждый датчик включен в схему самопишущего прибора. Оправку прокручивают на один оборот, сохраняя контакт опор с проверяемой поверхностью. Все полученные круглограммы совмещают до совпадения центров вращения и начальных радиусов. Центры окружностей строятся с исключением местных погрешностей. Их размещение на чертеже характеризует взаимлое расположение проверяемых осей или отклонение оси от прямолинейности. Устроймы оси инесенныхоправку,ры, контастью, и нтроля погрешности форо расположения осей разей вращения, содержащее ые на ней радиальные упос проверяемой поверхнопример индуктивные, наство для к ли взаимно поверхнос закреплен ктирующи датчики, иСуществующие конструкции микропрофилометров для контроля погрешности формы осиили взалмного расположения осей разнесеннх поверхностей вращения пригодны лишьпри сравнительно небольших размерах проверяемых изделий; кроме того, они сложны поконструкции, а изготовление их с требуемойточностью затруднено,Известны устройства для контроля погрешности формы оси или взаимного расположения осей разнесенных поверхностей вращения,содержащие оправку, закрепленные на нейрадиальные упоры, контактирующие с проверяемой поверхностью, и датчики, напримериндуктивные, наконечники которых также контактируют с проверяемыми поверхностями нрасположены в одной осевой плоскости с базовыми радиальными упорами (например, приложение 2 к ГОСТб - бЗ),Однако они не позволяют исключить из результатов измерения ошибки из-за местных погрешностей формы, что недопустимо, например, при исследовании поверхностей точныхшпинделей и их. опор.Для повышения точности и полноты контроля предложенное устройство снабжено центрирующим столиком, базируемым по детали, ккоторому сферическим шарниром, выполненным, например, в форме мсмораны и подшипника скольжения, прикреплен конец оправки. 3 Предмет изобретенияЗаказ 3038ЦНИИПИ 3 Тираж 110 омитета по д Формат бум. 60 Х 90/алам изобретений и открыМосква, Центр, пр. Серов л. Подписное пистров СССР ипогра пр. Сапуио конечники которых также коптактир ют с проверяемымип поверхностями и расположены в одной осевой плоскости с базовыми радиальными упорами, отличающееся тем, что, с целью повышения точности и полноты коnтроля, опо снабжено цептрируюп 1 им столиком, оазпруемым по детали, к которому сферическим шарниром, выполненным, например, в форме мембраны и подшипника скольжения, при.5 креплен конец оправки. Объем О,3 издий при Совете Ма,д 4
СмотретьЗаявка
928701
Г. Шмунис, Е. И. Цуканов, С. А. Мезенцев, И. Бурда, Я. М. Богаковский, М. Э. Вайнштейн
МПК / Метки
Метки: осиили, погрешности, формы
Опубликовано: 01.01.1966
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-186140-dlya-kontrolya-pogreshnosti-formy-osiili.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Для контроля погрешности формы осиили</a>
Предыдущий патент: Устройство для измерения длины движущегосяпроката
Следующий патент: Прибор для контроля диаметров
Случайный патент: Прибор для установления разности или суммы