183282

ОП ИСАНИ Е 183282ИЗОБ ВЕТЕН ИЯК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Сока Советских Социалистических РеспубликЗависимое от авт. свидетельстваКл. 21 е, 36/04 Заявлено 12,111.1965 ( 94711826-24 рисоединецием заявки1 ПК С 01 Комитет пс лелгм изобретений и открытий при Совете Министров СССРриоритст УЛК 621.317.799: ;621-503.53 (088.8)СпубликовгИо 17 Л 1,1966. Бюллетень1 Лата опубликования описания 24.И 11,19 О ф с. савторызобретеииР овкин и Б евцов Заявител ТРОЙСТВО ДЛЯ ОПРЕДЕЛЕНИЯ КЛАССА ТОЧНОСТИ ЭЛЕМЕНТОВ СЛЕДЯ 1 ЦИХ СИСТЕМИзвестны устройства для определения класса точности элементов следящих систем, основа 1 шые ца принципе электромагнитной асимметрии. Оци содержат оптические делитель. цые головки с ручным приводом и измерительный прибор (милливольтметр). Но эти устройства не дают возможности автоматизировать процесс определения класса точности элемента цо электромагнитной асимметрии.Особенность пред;ожепного устройства для определения класса точности элементов, например сельсинов, заключается в том, что подвижные пластины емкостцых датчиков соединены с кварцевым генератором и расположены на диске, жестко связанном с ротором испытуемого элемеР 1 та, Г 1 С 110 двР 1 жцая часть ем- КОСТНЫХ Датс 1 ИКОВ СОСТОИТ ИЗ ДВУХ ПЛаСТИН И соединена с входами запоминающих блоков схемы определения среднеарифметического значения отклонений характеристик испытуемого элемента, например сельсица, от теоретического значения характеристик в фиксируемых точках, Зто позволяет автоматизировать процесс измерения отклонений минимума характеристик элементов следящих систем от теоретических точек и определения класса точности элементов по электромагнитной асимметрии. Иа чертеже изобраРкеца блок-схема описываемого устройства.Подвиж Ые пластиныех 1;(остЫх датчиковрасположены ца вращаОщемся диске 2 и за 5 цитыва 1 отся синусоидальным напряжением сгенератора 3. Общая неподвижная часть ем- КОСТПЫХ ДсТ 1 ИКОВ СОСТОИТ ИЗ ДВУХ СаМОСТОЯ- тельных пластин, следователшю по отношению 1( подИжным имеет нн 1 тра,11 ь, н каРкдую 10 отдегцну;о неподвижную пластину можно считать положительной и отрицагельно 1 т 1. СигнаЛЫ 0 ВЕ.1 ИЧИПЕ ЕМКОСТ СЦИМс 1 ОТСЯ ОДЦОВРЕ- мен 1 О с гОлож 11 тельцоЙ и отрицатель 1 гой частей цеподшжной пластины и подаются ца 15 входы двух каналов, схемы для определениясреднеарифметического значения., состояшей 3 ух 1 ОРкителеЙ Ф и д, запот 1 И 1 а 10 цгнх устройств б и 7 и влчцслнтельцого устройства Ь.Запомтшаюц;ис устройства запомшаот толь ко максимальные анасСция поступивших сцгПа;10 В СО ВСЕХ КОЦТРОЛЬЦЫХ ТОЧЕК, а ВЬс 1 ЦСЛИ- тельное устройство определяет абсолютную величину их среднеарифметического значения.Выходной сигнал устройства 8 определяет 25 класс точности элемента по электромагнитнойасимметрии. Схема сравнения, состояцая из мультпвибраторов 9, 10 и 1 и генератора ОПОРНОГО ЦсПРЯРКЕЦИЯ 12, КЛаССИфИЦИРУЕт ЭтОГ сигнал по к;ассам и выдает сигнал ца цнди183282 Предмет изобретения Вив 0 нвй сигнал Составитель В. В. Мардинедактор П. И, Шлайн Техред А. А. Камышникова Корректор Л, В. Тюняева Заказ 2294/9 Тираж 1525 Формат бум. 60 Х 90% Объем ЦНИИПИ Комитега по делам изобретений и открытий приМосква, Центр, и р, Серова, д. 4 6 изд. л. Подписнос вете Министров СССР Типография, пр. Сапунова кацию, соответствующую классу точности испытуемого элемента, например сельсина,Устройство для определения класса точности элементов следящих систем, например сельсинов, по электромагнитной асимметрии, состоящее из емкостных датчиков, расположенных на вращающемся диске, кварцевого генератора, схемы для определения среднеарифметического значения и схемы сравнения, отличающееся тем, что, с целью автоматизации измерения отклонений минимума характеристик элементов следящих систем, например сельсинов, от теоретических точек и определения класса точности элементов, в нем подвижные пластины емкостных датчиков соединены с кварцевым генератором и расположены на диске, жестко связанном с ротором испытуемого элемента, а неподвижная часть емкостных датчиков, состоящая из двух пластин, соединена с входами запоминающих блоков схе мы определения среднеарифметического значения отклонений характеристик испытуемого элемента, например сельсипа, от теоретичсского значения характеристик в фиксируемых точках.