Способ измерения длительности наносекундных импульсов известной ал1плитуды

Номер патента: 177477

Автор: Чурин

ZIP архив

Текст

, гф ОПИСАНИЕ- ИЗОБРЕТЕНИЯ Союз Советских Социалистических РеспубликЗависимое от авт, свидетельства М 4392,26 присоединением заявки 1 ПК С 01 гДК 621.317.326(088.8) Приорнт ела митет крытий изобретений и при Совете М СССР. А. Чури аявитель ЕЛЬНОСТИ НАНОСЕКУНДНЫХСТКОЙ АМПЛИТУДЪ КОС е Пр ооретени ет сти наносекундлитуды при позмеряемого имО Тл 7 ЧтО 771171 СЯТОЧЦОСТИ И УПдлительность чине тока смсимпульса по длительно тцой амп жения и о схему,еличеция змерения т по велвходного нку. аявлепо 30.тТ 11.1964 ( ПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ Д ИМПУЛЬСОВ ИИзвестные способы измерения коротких импульсов трудоемки, не дают необходимой точности и обычно не рассчитаны на импульсы небольшой амплитуды. Кроме того, оци не позволяют измерять длительность одиночных импульсов,Описываемый способ, при котором используются свойства триггерной схемы на туннельном диоде, срабатывающей от входных импульсов тока с длительностью, большей определенной величины и зависящей как от тока смещения диода, так и от его параметров и амплитуды сигнала, позволяет устранить указанные недостатки.На фиг. 1 изобракена схема устройства, осуществляющего описываемый способ; 1 а фиг. 2 приведен калибровочный график определения длительности импульса.Схема состоит из миллиамперметра 1, шунтирующей емкости 2, туннельного диода 3, кнопки сброса 4 и индуктивцости 5. Она работает следующим образом.Миллиамперметром 1 определяется величина порогового тока смещения, при котором триггер сбрасывает от входного сигналао срабатывании схемы можно судить по уменьшению тока смещеия) и последующего определения длительности импульса по калибровочному графику. Величина шунтирующей емти 2 подбирается таким образом, чтобы крутизна - - на участке измерения была сгоа 7одной стороны достаточно малой для обеспечения точности измерения. а с другой - достаточно большой, что позволяет расширить диапазон измеряемых длительностей.Калибровочы график может быть постро либо зсперихецтяльных путем при испольовании генератора импульсов точной амплитуды с достаточно крутыми фронтами, либо путем теоретического расчета.Описываемьш способ позволяет измерять редко повторяющиеся и непериодические импульсы с автоматизацией процесса измерения, например при массовои разбраковке по врсме 1 ных характеристикам высокочястотньх полупроводниковых приборов. Способ измеренияцых импульсов извес мощи подачи нацря пульса ца триггерцу 5 тем, что, с целью уврощения процесса и импульса определяю щения диода и тока калибровочному граф177477 Рог 7 Заказ 7,5 Тираж 100 Формат бум. 6090/8 Объем 0,13 изд. л. ПодписноеЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий прн Совете Министров СССРМосква, Центр, пр. Серова, д, 4 Типография, пр, Сапунова, 2 Составитель М. СухаревРедактор Н, Джарагетти Техред Т. П, Курилко Корректоры: Т. Н. Костиковаи Л. В. Тюняева

Смотреть

Заявка

914392

Ю. А. Чурин

МПК / Метки

МПК: G01R 29/02

Метки: ал1плитуды, длительности, известной, импульсов, наносекундных

Опубликовано: 01.01.1966

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-177477-sposob-izmereniya-dlitelnosti-nanosekundnykh-impulsov-izvestnojj-al1plitudy.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ измерения длительности наносекундных импульсов известной ал1плитуды</a>

Похожие патенты