Патенты с меткой «ал1плитуды»

Способ измерения длительности наносекундных импульсов известной ал1плитуды

Загрузка...

Номер патента: 177477

Опубликовано: 01.01.1966

Автор: Чурин

МПК: G01R 29/02

Метки: ал1плитуды, длительности, известной, импульсов, наносекундных

...устранить указанные недостатки.На фиг. 1 изобракена схема устройства, осуществляющего описываемый способ; 1 а фиг. 2 приведен калибровочный график определения длительности импульса.Схема состоит из миллиамперметра 1, шунтирующей емкости 2, туннельного диода 3, кнопки сброса 4 и индуктивцости 5. Она работает следующим образом.Миллиамперметром 1 определяется величина порогового тока смещения, при котором триггер сбрасывает от входного сигналао срабатывании схемы можно судить по уменьшению тока смещеия) и последующего определения длительности импульса по калибровочному графику. Величина шунтирующей емти 2 подбирается таким образом, чтобы крутизна - - на участке измерения была сгоа 7одной стороны достаточно малой для обеспечения...