Устройство для магнитной дефектоскопии изделий
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 171638
Авторы: Бурцев, Зацепин, Техяическа, Щербинин
Текст
ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ . Союз СоветскихСоциалистическихРеспублик Зависимое от авт. свилетельстваКл. 42 К 46)з Заявлено 20.1,1964 ( 877328/25-28с присоединением заявкиПриоритет б 01 п Государственный омитет ло дела ДК 620.179.14 (088.8овано 26.Ч.1965. Бюллетен изобретен нститут физики металлов АН ССС явител УСТРОЙСТВО ДЛ ИТНО фЕКТОСКОП И ЕЛИЙ одтсная грцииа Л 3 17 Известны устройства магнитных дефектоскопов, в которых для возможности обследования всей поверхности намагниченного проверяемого изделия датчику-индикатору дефектов сообщается колебательное или вращательное движение относительно поверхности изделия. Само изделие при этом перемещается в направлении, перпендикулярном к направлению колебаний датчика.Особенность предложенного устройства, даюцего возможность избирательной регистрации дефектов, размеры которых превосходят установленную величину, заключается в том, что датчик снабжен контактным приспособлением, замыкающим при каклол колебании либо обороте датчика цепь электромагнита шагового переключателя, контакты которого служат для поочередного подключения к датчику обмоток ряда реле, Срабатывание последних происхолит пол дсйствиел сигнала дефекта так, чтобы регистрация последнего происходила только ири срабатывании устаиоплсни)го числа рслс.г 1 а чертекс приведена элсктричсская схе 3 а вклюсии 1 прел)ок(ии)г устроЙства.Гровср)смое излслис 1 приводится по пращсиис вокруг своей оси в направлении, указанном стрслкои. У иопсрхиости из;слия установлены датчик-индикатор 2 лсфсктв и контактное риси)с)блеяс 3, замыкакисе при каждом обороте изделия цепь обмотки элск.тромагнитного шагового персклочатсля .Контактные группы 5 и 6 шагового псрекло.чателя служат для поочерелного п)лкгиочсиия 5 .обмоток ряда реле 7 - 12 к выходу усилитсляИ сигналов датчика при каждом обороте излелия, Если во время одного оборота из.делия датчиком булет полан сигнал дефекта, произойдет срабатывание олного из рслс, 10 обмотка которого подключена к датчику контактами переключателя 4.После поступления сигнала от усилителя иареле оно блокируется одним из контактов, чем осуцест 3 ется режим триггера, Возврапс 1 Вс 15 реле в исхоЛное состояние осуиест)л 5)стс 51 3 В- лачей отрицательного полюса батареи питания через щетку переключателя с опережением на один шаг.Сигнализация о наличии дефекта срабо.20 тает в том случае, если сигнал датчика поиторится при каждом последующем оборотс изделия заданное число раз, что соотвстст.3)у ст у ста ио 3 лсииоЙ мииВм алии)ВВ Врот 51 жси ности (рзсра)В) дефекта.25 Для числа рслс, изобраксииых иа схеме,пл;Вча сигнала дефекта произйлт и слу.11)с послед 13 атсл)101 о за,Вок 1)В 13131 и 51 и 5 т 3 рслс.1:спи прии 5 ть скг3)сть 1)ра 3 си 151 излсля 30 О об,с.к, а скоросгь его линейВго иерсмсонии ии, ир. (:висиоив,щения порядка 5 см/сек, то дефектоскоп бу.дет регистрировать дефекты, размер которыхпревышает 2,5 сл,Устройство для магнитной дефектоскопии изделий, в котором датчику. индикатору дефекта сообщается колебательное либо вра щательное движение относительно поверхности изделия одновременно с поступательным перемещением в направлении, перпендикулярном к направленшо колебаний датчика, оглисатощееся тем, что, с целью избирательной регистрации дефектов, размеры которых превосходят установленную величину, датчик снабжен контактным приспособлением, замыкающим при каждом колебании либо обороте датчика цепь электромагнита шагового переключателя, контакты которого служат для поочередного подключения к датчику обмоток ряда реле, срабатывание которых происходит под действием сигнала дефекта так, чтобы регистрация последнего происходила только при срабатывании установленного числа реле.
СмотретьЗаявка
877328
Н. Н. Зацепин, Г. А. Бурцев, В. Щербинин Институт физики металлов СССР, ТЕХЯИЧЕСКА БЯБЛИОТГКА
МПК / Метки
МПК: G01N 27/82, G01N 27/87
Метки: дефектоскопии, магнитной
Опубликовано: 01.01.1965
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-171638-ustrojjstvo-dlya-magnitnojj-defektoskopii-izdelijj.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Устройство для магнитной дефектоскопии изделий</a>
Предыдущий патент: Полупроводниковый тензодатчик
Следующий патент: Магнитный дефектоскоп
Случайный патент: Кольцевой охладитель агломерата