Способ выборки чисел из долговременного запоминающего устройства
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 170200
Автор: Гутенмахер
Текст
702 ОО ОПИСАНИЕИЗОБРЕТЕНИЯК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз Советских Социалистических Республикависимое от авт. свидетельстваКл. 42 т, 14 о Заявлено 05.Ч.1962 ( 776908/26-24)с присоединением заявкиПриоритетОпубликовано 09.1 Ч.1965, БюллетеньГосударственный комитет по делам изобретений и открытий СССРМПК б 061УДК 681.142,83(088,8) Дата опубликован описания 8 Ч.196 г,Авторизобретения Гутенм Заявите СПОСОБ ВЫБОРКИ ЧИСЕЛ ИЗ ДОЛГОВРЕМЕННОГ ЗАПОМИНАЮЩЕГО УСТРОЙСТВА2 стах пересечения шин адресной сетки на емкостях С, происходит суммирование токов двух частот, Благодаря емкостной связи с шинами адресной сетки на выбранной шине Л, 5 образуется напряжение радиоимпульса, частота которого определяется разностью указанных частот (частота биения). Радиоимпульс разности частот с данной шины У, передается через электроды А (если была записана 1) на вы ходные шины В,. Считывание полученной информации осуществляют с помощью усилителей (на чертеже не показаны) и двух последовательно включенных фильтров, Информация на шинах В,. представляет собой гармониче ское колебание с частотой несущей (частотапервого источника), амплитуда которого изменяется с частотой, прямо пропорциональной разности частот первого и второго источников. 20 Первсущейв ание)частотофильтр25 Шиниметьсвязьспособтор до30 ства. Подписная группаПредлагаемый способ выборки чисел из долговременного запоминающего устройства позволяет упростить дешифровку заданного адреса. Для этого выборку искомой числовой шины осуществляют двумя радиоим пульсами различных частот, а съем информации - путем фильтрации частоты несущей, выпрямления ее и фильтрации биений. Описываемый способ поясняется чертежом, Запись информации в долговременном запоминающем устройстве, с которого осуществляется выборка по описываемому способу, произведена печатным методом путем размещения круглых или прямоугольных электродов А в местах пересечения шин Е, и считывающих (выходных) шин В, . Отсутствие этих электродов (в данном случае образующих элементарную емкость) означает запись О. Шины 2, соединены емкостями С,. соответственно с координатными шинами Х и У адресной сетки, Выборку искомой числовой шины производят подачей в координатные шины радиоимпульсов от двух отличных по частоте источников (не показаны).Ток одного из этих источников коммутируется одним дешифратором и направляется последним по одной из шин Х,. адресной сетки; ток второго источника - другим дешифратором и направляется по одной из шин У,. В меый фильтр производит фильтрацию не- частоты и ее выпрямление (детектироНа его выходе образуется колебание с й биений, которое фильтруется вторым ом,ы Х, и У, и выходные шины В, могут не только емкостную, но и индуктивную ли связь сопротивления, Описываемый выборки позволяет упростить дешифралговременного запоминающего устройК оставитель А. ХохловТехред Л. К, Ткаченк ектор Т. С. Дрожжина Редактор Н. А. Д гет аказ 888/5 Тираж 950 Формат бум. 60)(901 е Объем О,1 изд. л. Цена 5 ЦНИИГ 1 И Государственного комитета по делам изобретений и открытий СССР Москва, Центр, пр. Серова, д. 4 пография, пр. Сапунова, 2 Способ выборки чисел из долговременного запоминающего устройства, отличающийся тем, что, с целью упрощения дешифровки заданного адреса, выборку искомой числовой шины осуществляют двумя радиоимпульсами различных частот, а съем информации производят путем фильтрации частоты несущей, выпрям ления ее и фильтрации биений.
СмотретьЗаявка
776908
Л. И. Гутенмахер
МПК / Метки
МПК: G11C 17/00
Метки: выборки, долговременного, запоминающего, устройства, чисел
Опубликовано: 01.01.1965
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-170200-sposob-vyborki-chisel-iz-dolgovremennogo-zapominayushhego-ustrojjstva.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ выборки чисел из долговременного запоминающего устройства</a>
Предыдущий патент: Способопределения активной удельной поверхности
Следующий патент: 170201
Случайный патент: Устройство для отображения дефектов исследуемого объекта на экране электронно-лучевой трубки элт