Устройство для защиты электролюминесцентногослоя

Номер патента: 1237970

Опубликовано: 15.06.1986

Авторы: Беспалько, Захаров, Твердохлебов

МПК: G01N 29/04

Метки: неразрушающего, покрытий, слоев, тонких

...помощью сильноточного ускорителя. 1 электронов облучают импульсным потоком частгггг через коллпиатор2 контролируемое изделие 9. Контролируемое изделие 9 размещают нормально пучку так, чтобы покрытие или поверхностный слой материала находилсясо стороны облучения. Возникающиеакустические сигналы регистрируютсяс противоположной облучаемой поверхности контролируемого изделия 9 широкополосным детектором гг, с акустической линией 3 задержки, предназначенной для разделения электромагнитных помех ускорителя 1 электронови акустических импульсов, Электрический сигнал с пьезодетектора дифференцируется шунтирующим сопротивлением 5 и регистрируется на экранескоростного осциллографа 7. При малой амплитуде акустического сигналавключается широкополосный...

Номер патента: 1728648

Опубликовано: 23.04.1992

Автор: Стринадко

МПК: G01B 11/06

Метки: слоев, толщины, тонких

...временного сдвига Ь получим 10 21Ь= - п 3 - п з 1 п а, (7)ггде 1 - толщина пленки (слоя);с - скорость света в вакууме.Составим систему для двух углов паде ния а 1 иаг 2 т ц= -(8) где пс - показатель пр щей среды, в которой и ния.Решение системы уравн 25 дит к результатуЬ 11 С еломления окружаюроиэводятся измереия (8) привод,Ь п - Ь па ЗО пг=пТаким образом, зная временные задержки сигнала Ь 1 и Ьтгдлядвухугловоблучения а 1 и аг, а также показатель преломления окружающей среды пс. по формулам (9) находим толщину исследуемой пленки (слоя) и показатель преломления, Временная задержка Ь т определяется из диафрагмы (фиг,З) по экспериментально измеренной величине 4 О Ьм, определяющей частоту биений регистрируемого сигнала. На фиг.За...

Номер патента: 845804

Опубликовано: 07.07.1981

Авторы: Гернот, Ханс-Петер, Хорст

МПК: G01B 11/06

Метки: слоев, толщиныоптически, тонких

...не показаны) подвижнав радиальном направлении относительнокорпуса 28. Соединение между приемниками излучения 16, 18 и корпусом выполнено с помощью штекеров 32, ЗЗ,Работе устройства заключается в следующем.Во время процесса напыления луч от источника 1 проходит через узел прерывания излучения 2 и попадает на светоделитель 3. Благодаря светоделителю3 часть измерительного луча под углом90 отклоняется и попадает на опорныйоцриемник 18, а прошедшая через свето- делитель часть измерительного луча проходит через окно 11 и попадает настекло 9, расположенное на оптическойоси системы. От объекта измерения частьизмерительного луча отражается и пооптической оси отклоняется обратно насветоделитель 3. От светоделителя приходящая из вакуумной камеры...

Номер патента: 199485

Опубликовано: 01.01.1967

МПК: G01N 30/90

Метки: подготовки, слоев, сорбентов, тонких

...мало изменяется в течение 30 мин при выдерживании его в атмосфере лаборатории, относительная влажность которой может ко. лебаться от 45 до 70%, Указанного времени вполне достаточно, чтобы нанести исследуе мые пробы на подготовленный слой и поместить его в камеру для хроматографирования,НКЙХ СЛОЕВ СОРБЕНТОВ Для стабилизирования окиси алюминия по активности в незакрепленных слоях (без связуощего компонента), слои готовят из хроматографической окиси алюминия 111 степени активности. Прп использовании окиси алюминия другой активности предварительно доводят влажность адсорбента до 5,5%, а затем уже готовят тонкие слои и помещают их в камеру для стабилизации по активности, Если в камере стабилизируют тонкие слои окиси алюминия, закрепленные...

Номер патента: 347799

Опубликовано: 01.01.1972

Авторы: Александров, Баранов, Кривохатский, Тутин

МПК: G21H 5/00

Метки: веществу, нанесения, поверхность, слоев, тонких

...обеспечивает перенос вещества малыми порциямц, т. с. минимальную зернистость в напыляемом слое; оолучаемое вещество и изделие в целом остаются холодными.На четскс изображена схема Установки 10 для осуществления предлагаемого способа.Источник Осколков 1, тонкцс металлическиецлсцкц 2 ц 3, спосооцые проп 1 скать Осколки деления, находятся под одним отрицательным потенциалом ц подсоединены к батарее эле ментов 4. Диафрагма 5 толщиной в один миллиметр цз изоляционного материала разделяет металлическую пленку 3 ц распыляемое вещество 6, которое находится под положительнымВ качестве источника осколков 20 был использован С 1--, а в качестве распылясмых веществ - соедцненця Рцоз", Рц-", Аптв 4, Сгпв 44.Осколки деления от источника 1...