Способ ультразвуковой дефектоскопии двуслойных материалов

Номер патента: 1677612

Автор: Липовко-Половинец

ZIP архив

Текст

(51)5 6 01 Л 29/О ИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕН ВТОРСКОМУ С ТЕЛЬСТВУ нститут фипри Ростовтете щего контро- ашиностроСС 9. Аотр падаюовых колебатка границы вязаны межГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТПРИ ГКНТ СССР(71) Научно-исследовательскийзической и органической химииском государственном универс(56) Приборы для неразрушаюля материалов и изделий, М,: Мение, 1986, т.2, с, 202,Авторское свидетельство Сй. 260262, кл. О 01 И 29/04, 196(54) СПОСОБ УЛЬТРАЗВУКОВОИ ДЕФЕКТОСКОПИИ ДВУСЛОЙНЫХ МАТЕРИАЛОВ (57) Изобретение касается неразрушающего контроля. Целью изобретения является Изобретение относится к области не- разрушающего контроля и может быть использовано при ультразвуковом контроле.Целью изобретения является расширение номенклатуры контролируемых материалов за счет контроля материалов, у которых акустическое сопротивление наружного слоя выше, чем у внутреннего слоя, и повышение точности определения размеров дефекта.Способ ультразвуковой дефектоскопии двухслойных материалов осуществляется .следующим образом.Излучают ультразвуковым преобразователем, протяженность ближней зоны излучения - приема которого превышает толщину наружного слоя исследуемого материала, со стороны этого слоя ультразвуковые колебания, Принимают отраженные от расширение номенклатур контролируемых материалов за счет обеспечения контроля материалов, у которых акустическое сопротивление наружного слоя выше, чем внутреннего, и повышение точности, Ультразвуковые колебания излучают ультразвуковым преобразователем, протяженность ближней зоны которого превышает толщину наружного слоя исследуемого материала со стороны этого слоя. Принимают отраженные от границы раздела слоев сигналы. измеряют амплитуды подающего и отраженного сигналов на контролируемом и заведомо бездефектном участках исследуемого материала, определяют коэффициенты отражения ультразвука от этих участков, по величине и знаку которых судят о наличии и размерах дефекта. границы соединения слоев сигналы, Измеряют амплитуды падающего и отраженного сигналов, измеряют фазу отраженного сигнала относительно падающего, которая может быть равной либо нулю, либо 7 т, Определяют коэффициент Я 1 отражения от контролируемого участка материала и коэффициент Яо отражения от границы бездефектного соединения слоев, а площадь Я дефекта определяют из выражения(1)Яо +1й поверхности где Яо - площадь излучающе преобразователя,Амплитуды сигналов Апад щих и отраженных ультраэву ний от контролируемого уч раздела слоевсоответственн ду собой соотношением:1677612 Как следует из выражения (1), соотношение акустических сопротивлений наружного и внутреннего слоев исследуемого материала не влияет на результат измерений, что повышает их точность и расширяет область применения способа,Составитель В.СорокинТехред М.Моргентал Корректор О.Кравцова Редактор О.Спесивых Заказ 3110 Тираж Подписное ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР 113035. Москва, Ж, Раушская наб., 4/5 Производственно-издательский комбинат "Патент", с. Ужгород, ул,Гагарина, 101 Аотр Апад (й 1 Во О 2 ) (2) где Во - коэффициент отражения ультразвука от границы бездефектного соединения;а 1 и а - соответственно удельные площади поверхности границы соединения слоев в пределах контура ультразвукового пучка, занятые беэдефектным соединением и дефектом, причема 1+ а 2=1, (3)Измерение Аоад осуществляют на участке контролируемого соединения слоев материала, где внутренний слой отсутствует, либо используют данные калибровочных измерений, Измеренное отношение Аотр/Апад, представляющее собой значение измеренного коэффициента В 1 в случае, когда преобразователь имеет равномерную ближнюю зону, протяженность которой превышает толщину наружного слоя, совпадает со значением, заданным выражением (2), т,е.В 1 = (1- Щ) Во- М, (4) откуда вытекает расчетное соотношение (1). Формула изобретенияСпособ ультразвуковой дефектоскопиидвуслойных материалов. заключающийся втом, что излучают ультразвуковым преобра 5 зователем колебания со стороны наружнойповерхности материала, принимают отраженные от границы соединения слоев ультразвуковые колебания и измеряют ихамплитуду и фазу, по которым определяют10 наличие и площадь дефектов на границе соединения слоев, отл и ч а ю щи й с я тем,что, с целью расширения номенклатуры контролируемых материалов за счет обеспечения контроля материалов, у которых15 акустическое сопротивление наружногослоя выше, чем у внутреннего слоя, и повышения точности определения размеровдефекта, используют ультразвуковой преобразователь с равномерной ближней зо 20 ной излучения-приема, протяженностькоторой превышает толщину наружногослоя материала, измеряют амплитуду сигнала, падающего на границу соединения слоев, по измеренным параметрам определяют25 коэффициенты отражения ультразвука отэтой границы и от бездефектной границысоединения слоев исследуемого материала,по величинам которых судят о наличии ивеличине площади дефекта,

Смотреть

Заявка

4656528, 28.02.1989

НАУЧНО-ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИЙ ИНСТИТУТ ФИЗИЧЕСКОЙ И ОРГАНИЧЕСКОЙ ХИМИИ ПРИ РОСТОВСКОМ ГОСУДАРСТВЕННОМ УНИВЕРСИТЕТЕ

ЛИПОВКО-ПОЛОВИНЕЦ ПЕТР ОСМАНОВИЧ

МПК / Метки

МПК: G01N 29/00

Метки: двуслойных, дефектоскопии, ультразвуковой

Опубликовано: 15.09.1991

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-1677612-sposob-ultrazvukovojj-defektoskopii-dvuslojjnykh-materialov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ ультразвуковой дефектоскопии двуслойных материалов</a>

Похожие патенты