Способ определения параметров колебаний объекта
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
СОЮЗ СОВЕТг КИХ СОлИАЛИСТИГ ",КЬ РЕСПУБЛИК 16 б 3451 А 2 п 9 ИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ Изобретной техникемашиностроленности длграфическойколебаний оЦелью иние точностиды колебачастотномуволн. На черинтенсивновремени всдвига межи в случае нэтими волнСпособразом.Освещанием и запиобьектной в теже предс сти восста случае от дуопорнойаличия час ами (б).осуществ тавлена зависимость новленной волны от сутствия частотного и объектной волны (а) тотного сдвига между ледующим об ют обьект сывают по огеренредствомму на м излуче опорной и торефрак лн голо ОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМРИ ГКНТ СССР К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВ(71) Куйбышевский государственный университет(54) С ПО СО Б ОП Р ЕД ЕЛ Е Н И Я ПАРАМ ЕТРОВ КОЛЕБАНИЙ ОБЪЕКТА(57) Изобретение относится к измерительной технике и может быть использованодля определения методом голографической ение относится к измеритель- и может быть использовано в ении и авиационной промышя определения методом голоинтерферометрии параметров ьекта,зобретения является повышеза счет определения амплитуний по относительному сдвигу опорной и обьектной(51)5 0 01 Н 9/00, 0 01 В 9/02 интерферометрии параметров колебаний обьекта. Цельюизобретения является повышение точности за счет проведения измерений по величине частотного сдвига, Обьект освещают когерентным излучением и записывают его голограмму на фоторефрактивным кристалле Восстанавливают голограмму третьей волной и регистрируют зависимость интенсивности восстановленной волны во времени, Осуществляют относительный частотный сдвиг опорной и объектной волн до получения на одном из соседних периодов целого количества максимумов и по величине сдвига и числу максимумов рассчитывают амплитуду колебаний объекта. 1 ил,тивном кристалле типа В 12 П 020, Восстанавливают голограмму третьей волной и регистрируют зависимость интенсивности восстановленной волны от времени. Осуще юеЪ ствляют сдвиг частоты опорной волны относительно объектной до получения на одном из соседних периодов этой зависимости це" лого количества максимумов. СдПри отсутствии сдвига частоты в опорной фь волне относительно объективной волны вос- (Лстановленный сигнал представляет собой а периодический сигнал с периодом, в два раза меньшим периода колебаний, и с локальными максимумами, количество которых на периоде пропорционально3 Ъ амплитуде колебаний. Создание частотного сдвига ш, приводит к "перекачке" локальных максимумов из одного периода зависимости интенсивности восстановленной волны от времени в соседний период, Связь амплитуды колебании с величинпй сдвига частоты обусловлена ел 1 чго как колеба1663451 Формула изобретения тельный процесс, так и сдвиг частоты приводит к изменению разности фаз опорной ипредметной волны и амплитуда колебаний гможет быть определена по формуле Составитель В,БахтинТехред М,Моргентэл Корректор Т.Палий Редактор М,Бандура Заказ 2259 Тираж 322 ПодписноеВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР113035, Москва, Ж, Раушская наб., 4/5 Производственно-издательский комбинат "Патент", г, Ужгород, ул,Гагарина, 101 4 +Знак "-" либо "+" выбирается в зависимости от того приводит сдвиг частоты к увеличению количества локальных максимумов или к уменьшению,Способ определения параметров колебаний объекта по авт. св. М 1370463, о т л и ч а ю щ и й с я тем, что, с целью повышенияточности, осуществляют относительный сдвиг частоты опорной и объектной волн до появления целого количества максимумов на соседних периодах зависимости интен сивности восстановленной волны от времени,
СмотретьЗаявка
4660127, 09.03.1989
КУЙБЫШЕВСКИЙ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ УНИВЕРСИТЕТ
АЛЯТИНА НИНА НИКОЛАЕВНА, ГАРАЩУК ВИКТОР ПЕТРОВИЧ, ЖУКОВА ВАЛЕНТИНА АЛЕКСАНДРОВНА, ИВАХНИК ВАЛЕРИЙ ВЛАДИМИРОВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01B 9/021, G01H 9/00
Метки: колебаний, объекта, параметров
Опубликовано: 15.07.1991
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-1663451-sposob-opredeleniya-parametrov-kolebanijj-obekta.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ определения параметров колебаний объекта</a>
Предыдущий патент: Весоизмерительное устройство
Следующий патент: Устройство для измерения температуры в скважине
Случайный патент: Система автоматического регулирования диаметра кристалла, выращиваемого из расплава