Способ измерения температуры

СОЮЗ СОВЕТСКИХСОЦИАЛИСТИЧЕСКИХРЕСПУБЛИК 19) (я)5 601 й 4 А 25/52 ПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕН Маслен К 4 6 д ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИПРИ ГКНТ СССР АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВ(56) Тепловидение. Применение и особенности построения тепловизионных систем./Под общ.ред, Н.Д.Куртева. - М.,МИРЗА, 1986, с. 100-103,(54) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ТЕМПЕРАТУРЫ(57) Изобретение относится к области теплофизических измерений, в частности к способу измерения температуры объекта, и можетбыть использовано в электронной, электро-.технической и других отраслях промышленности при проведении тепловых исследований соответствующих обьектов, С целью повышения точности измерения возможноИзобретение относится к теплофизиче.ским измерениям, в частности к способу измерения температуры объекта. с известной излучательной способностью. и может быть использовано в электронной, электротехнической и других промышленностях при проведении тепловых исследований соответствующих обьектов.Цель изобретения - повышение точности измерения температуры объекта.Устройство для реализации предлагаемого способа содержит, например, цилиндрическую камеру, у одного из торцев которой планарно установлены транзистор и абсолютно черное тело (АЧТ), а в другой стеи способа за счет измерения температуры обьекта на уровне температуры окружающей среды, обьект и эталонный излучатель устанавливает в замкнутую полость, оптически связанную с приемной камерой, причем внутренняя поверхность полости имеет известную излучательную способность и диффузный характер отражения в спектральном диапазоне работы приемной камеры регистрирующей системы, регулируют температуру эталонного излучателя додостижения равенства плотностей полного теплового потока объекта и эталонного излучателя, затем измеряют температуру полости и соогветствующие тепловые потоки эталонного излучателя и объекта, а также разность между отраженными от объекта и эталонного излучателя собственных тепловых потоков полости, а иэ равенства между соответствующими потоками определяют температуру обьекта. торец введена приемная камера регистрирующей системы, Внутренняя поверхность камеры выполнена из дюраля (с целью уменьшения собственного излучения фона) и подвергнута пескоструйной обработке с размером частиц 1 - 5 мкм (соизмеримых со спектральным диапазоном работы приемной камеры регистрирующей системы),Устройство работает следующим образом.Изменяют температуру АЧТ до тех пор, дока полные тепловые потоки как обьекта, так и АЧТ станут равными. После этого, измерив температуру То АЧТ и температуру Тф камеры, численно решают соответствующее1654734 Составитель С. Ботуэ Техред М,Моргентал Корректор С.Черни Редактор М.Бланар Заказ 1948 Тираж 398 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР 113035, Москва, Ж, Раушская наб., 4/5 Производственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул.Гагарина, 101 интегральное уравнение с привлечением измеренной информации об оптических свойствах всей системы,Использование предлагаемого способа измерения температуры обьекта, например транзистора, являющегося регулирующим элементом электропреобразовательных устройств, при использовании приемной камеры, работающей в спектральном диапазоне 2-5 мкм, погрешность измерения температуры на уровне 333 К объекта с иэлучательной способностью 0,55 и излучательной , способностью фона 0,03 и 0,9 (при Тф " 303 К) составляет 0,51 и 0,36.Формула изобретен и я Способ измерения температуры объекта, включающий измерение температуры планарно расположенного с объектом в поле зрения приемной камеры регистрирующей системы эталонного излучателя, плотность собственного теплового потока которого равна плотности собственного теплового потока объекта, о т л и ч а ю щ и й с я тем, что, с целью повышения точности измерения, объект и эталонный излучатель уста навливают в замкнутую плоскость, оптйчески связанную с приемной камерой, регулируют температуру эталонного излучателя до достижения равенства плотностей полного теплового потока объекта и эталонного 10 излучателя, затем измеряют температуруполости, и собственные тепловые потоки эталонного излучателя и объекта, а также разность между отраженными от объекта и эталонного излучателя собственных тепло вых потоков полости, а из равенства междуразностью собственных тепловых потоков эталонного излучателя и объекта и разностью между отраженными от объекта и эталонного излучателя собственными тепло выми потоками полости определяют температуру объекта,