Вакуумный дефектоскоп обнаружения непроклеев

Номер патента: 1654650

Авторы: Волков, Григорьев, Панченко

ZIP архив

Текст

(19) (11 51)5 6 01 В 11/ ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕН К АВТОРСКО ВИДЕТЕЛ ЬСТВ С.В. ВолКонтроль иэделий И, 1967,ОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМРИ ГКНТ СССР(56) Ковальчук Л,МГорбунов А.И.качества склеивания многослойнывакуумным методом. - М,; ГОСИНМ 2 - 67 - 105.20, с.6,НЫЙ ДЕФЕКТОСКОП ОБНАЕПРОКЛЕЕВение относится к измеритель- и может быть использовано для щего контроля (дефектоскопии) делий, Цель изобретения - погрешностей и повышение ти контроля. Устройство устана участок контролируемой рхности, под чашей устройства(54) ВАКУУМ РУЖЕНИЯ Н (57) Изобрет ной технике не разрушаю клееных из уменьшение достовернос навливается клееной пове Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для обеспечения неразрушающегося контроля дефектоскопии клееных изделий.Цель изобретения - уменьшение погрешностей и повышение достоверности контроля,На чертеже изображена принципиальная схема предлагаемого дефектоскопа,Дефектоскоп включает корпус 1, пластину 2 для размещения светоприемников, матрицу 3 светоприемников, источники 4 света, световую панель 5, соединительный жгут 6 из электрических проводников, воздуховод 7 со штуцером для подключения к вакуумнОй линии и отключения от нее при помощи вентиля 8. Каждый из светоприемников матрицы 3 через блок 9 электронной обработки однозначно сопряжен с соответсоздается вакуум. Зоны непроклея прижимаются к матрице светоприемников и затемняют светоприемники, находящиеся над зоной непроклея. Светоприемники координатно сопряжены со светоиндикаторами световой панели, устройство снабжено блоком электронной обработки сигналов, В качестве светочувствительного элемента использован фотодиод и/или фоторезистор. Изменение светового потока регистрируется светоприемником, сигнал с которого поступает на электронный блок, Дефектоскоп обеспечивает повышение достоверности обнаружения дефектов, в том числе дефектов малой площади, При диаметре чаши, равном О, может быть обнаружен дефект значительно меньших в Ч п 1 раэ размеров за счет увеличения количества (щ) светоприемников в полости чаши. 1 ил,ствующим светоиндикатором на поле световой панели 5. Пластина 2 размещена вблизи выходного отверстия так, что между пластиной и контролируемой поверхностью обра- Л зуется зазор, подсвечиваемый источниками Ь 4 света, 0 лДефектоскоп работает следующим об- Ц 1 разом. ОУстановив корпус отверстием на контролируемую клееную поверхность и включив вакуум, наблюдают за показаниями светового индикатора. Если дефекты отсутствуют и клееная поверхность не отстает от конструкции детали, на световой панели индикаторы не светятся, Если имеется дефект, то обшивка отслаивается и приподнимается, устраняя зазор между отслоившейся поверхностью и светоприемником, Освещенность светоприемника падает, со, 1654650 Составитель А. Се Техред М,Морген Редак орректор М, Пожо Тирэж 392 Подписнарственного комитета по изобретениям и откр 113035, Москва, Ж, Раушская набЮ 5 эз 194 ВНИИ при ГКНТ СССР водственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул, Гагарина, 101 ответственно, уменьшается сигнал с затененного светоприемника. Сигнал усиливается в электронном блоке и преобразуется таким образом, чтобы на световой панели высвечивались световые индикаторы, сопряженные с затемненными светоприемниками, Количество чувствительных светоприемников выбирается исходя из требования выявления дефектов с заданными размерами - чем меньше размер выявляемого дефекта, тем больше светоприемников устанавливается нэ пластине,При диаметре корпуса, равном О, может быть обнауужен дефект значительно меньших в Ч гп рэз размеров за счет увеличения количества (е) светоприемников в полости чаши.Использование предлагаемого дефектоскопа значительно улучшает технологичность процесса контроля и повышает достоверность выявления дефектов и производительность контроля.формула изобретен ия 5 Вакуумный дефектоскоп обнаружениянепроклеев, включающий корпус в виде полой чаши с выходным отверстием, средство вакуумирования и индикатор непроклея, о т - лича ющийся тем,что,с цельюумень шения погрешностей и повышения достоверности контроля, индикатор непроклея выполнен в виде источников света, расположенных по внутренней боковой поверхности стенок чаши со стороны выходного 15 отверстия, пластины с полем светоприемников, обращенных светочувствительной поверхностью в сторону выходного отверстия, и световой панели с полем светоиндикаторов, каждый из которых координатно сопря жен с соответствующим светоприемником.

Смотреть

Заявка

3913704, 17.06.1985

ПРЕДПРИЯТИЕ ПЯ В-2141

ПАНЧЕНКО ПЕТР ВАСИЛЬЕВИЧ, ГРИГОРЬЕВ ВИКТОР ЕФИМОВИЧ, ВОЛКОВ СЕРГЕЙ ВЛАДИМИРОВИЧ

МПК / Метки

МПК: G01B 11/28

Метки: вакуумный, дефектоскоп, непроклеев, обнаружения

Опубликовано: 07.06.1991

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-1654650-vakuumnyjj-defektoskop-obnaruzheniya-neprokleev.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Вакуумный дефектоскоп обнаружения непроклеев</a>

Похожие патенты