Способ определения параметров разреженных газовых потоков

Э СОВЕТСКИХ ОЦИАЛиСТИчЕСКЕСПУБЛИК 44 А 1 О ю 601 СУДАРСТВЕННО ИЗОБРЕТЕН И ГКНТ СССР ОМИТ ВТОРСКОУУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ(56) Вьено Ж.й. и до. Оптическая голограф:я рэ:энтие и применение). - ММир, " УЭ, с,211.Фомин И.А. Спекл-интерферометрия, - М звука и техн 1 кэ, 1989, с.12 б.54) СПОСОБ 03 РЕДЕЛЕНИЯ ПАРМЛЕТГОВ РАЗРЕЖЕННЫХ ГАЗОВЫХПОТОКОВ 57) Иэобрегение относится к экспериментэльной ээродинэмике и может быть использовано для исследования параметров раз,меженных газовых потоков. Цепью изобретения является повью)ен:1 е точности и сокрэщение времени измерений, Способ заключается в Формировании лазерного светового потока с длиной волны Й лазером 1 и светового потока с длинойволны 3 лазером 2 и совмещении их осой зеркэлом 3 и полупрозрачной пластиной 4. Олине волны излучения Ь выбрэна е области энсм:выой дисперсии исследуемого газового по)ока, а длина волны излучения Ъ - вне ее из услоЬЛи,-Л 11воя -ф- 1- - ( 1. до А, - пинна поглощения атомов исследуемого газового потока в области эномвльной дисперсии; Ыд - доплеровское ее уацлренип. Лараллельный световой пучок, сформированный коллиматором 5, пройдя исследуемый газовый поток, диффузно рассеиваащуо матовую пластину, формирует нэ некотором рэсстоянии от нее две спекл-кэртины, когорые отображается на фотоплэстинке 8, Спекл-кэртинэ в спектральном диап леоне Ъ используется кэк зталоннэя при оиенке степени иска:ения гэзовым по 1 оксь) спеклкэртины, сформировэнной излучением с длиной волны А 1, 1 ил.4 Составитель В, ИванюкТехред М.МО ргентал Корректор И. Муска Редактор О, Стенина Заказ 2817 Тираж Подписное ВНИИПИ Гасударственного комитета па изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР 133035, Москва,Ж, Раушская наб 4/5 Производственно-издательский камбинат "Патент", г, Ужгород, ул,Гагарина, 101 Изобретение относится к экспериментальной аэродинамике и может быть использовано для исследования параметровгиперзвуковых разреженных газовых потоков, 5Целью изобретения является повышение точности и сокращение времени иэ;:,срений.На чертеже представлена схема устройства, реализующего способ. 30Оно состоит из синхронно излучающихна разных длинах волн импульсных лазеров1 и 2 с совмещенными с помощью зеркала 3и полупрозрачной пластины 4 осями.На оси излучения лазеров поспедовательно установлены коплимирующая система 5, матовая пластина 6, репродукционныйабьектив 7 и регистрирующая фотопластинка 8,Длинаволны излучения одного лазера 20Я 1 расположена в Области аномальной дисперсии исследуемого газового потока, адругого -Яг - вне ее и удовлетворяет условию(Ю Иг 25где А -линия поглощения атомов исследуемого азового потока в области аномальной дисперсии; ЬЛд - допперовгкое ееуширение. ЗОСпособ реализуется следующим.образом.Параллельный световой пучок, сформированный коллиматором 5, проходитисследуемый газовый поток, диффузнО рвс- %сеивающую матовую пластину 6 и формирует на некотором расстоянии от нее двеспекл-картинц (на длине волны Ь и Лг), которые отображаются с помощью репродукционного обьектива 7 на фотопластинку 8, 40При этом, поскольку дпина волны излуЧения Лг одного из лазаров расположенавне области аномальной дисперсии иссле-,дуемаго газового патака, сформированная в данном спектральном диапазоне спекл-картина не мадулируется газовым потоком и используется как эталонная при оценке степени искажения газовым потокам спеклкартины, сформированной излучением второго лазера с длиной волны 4 в области аномальной дисперсии газового потока.Одновременное облучение исследуемого газового потока излучением с двумя длинами волн и параллельная регистрация совмещенных в пространстве двух спеклкартин позволяют существенно сократить процедуру измерений и повысить точность.Формула изобретения Способ определения параметров разреженных газовых потоков, включающий просвечивание исследуемой среды лазерным импульсным световым потоком с длиной волныЯ 1 и регистрацию спекл-картины прошедшего излучения, сравнение полученной спекл-картины с эталонной и определение параметров разреженного газового потока, отличающийся тем,что,с цепью повышения точности и сокращения времени, измерений, формирование эталонной спекл-картины производят дополнительным просвечиванием исследуемой среды . лазерным световым потоком с длиной волны Мг; выбираемой из соотношенияЬ 4 ;- (Ыд Иг-Агде Ло -длина волны линии поглощения атомов исследуемого патока,ЛЯд - ВЕЛИЧИНа ДОПЛЕРОВСКага УШИРЕ- ния линии поглощения атомов исследуемого патака, а длину волны Я 1, выбирают в области аномальной дисперсии атомов исследуемого патака, при этом просвечивание исследуемого патока лазернцми световцми патоками с длинОЙ волны Я 1 и 1 г проводят одновременно.