161506

Номер патента: 270106

Опубликовано: 01.01.1970

Авторы: Кеирим, Попов

МПК: G01T 1/18, G01T 1/36

Метки: излучений, ионизирующих, линейных, потерь, спектров, энергии

...газа, а тем самым и различными эффективностями для частиц с одинаковой первичной ионизацией, можно получить спектр первичных ионизаций, а из него в спек скоростей частиц, образующихся в тканеэквивалентных стенках счетчика. Для этого необходимо измерить в интересующем поле излуче. ния скорости счета каждого из упомянутых счетчиков, а затем, используя известные математические методы восстановления спектра (например, метод ортонормированных разложений), применяемых в спектрометрии нейтронов с помощью активационных детекторов, получить искомый спектр первичных ионизаций или скоростей заряженных частиц. Используя известную зависимость ЛПЭ заряженных частиц от их скорости для ткани, можно перейти к интересующему нас спектру ЛПЭ данного поля...

Номер патента: 795191

Опубликовано: 07.01.1982

Авторы: Васильев, Лабушкин, Саркисян

МПК: G01T 1/16

Метки: градуировки, излучения, преобразователя, фотонного, энергии

...элемент устанавливают под углом Вульфа-Брэгга к направлению излучения источника, а градуируемый преобразователь - соответственно под двойным (удвоенным) углом Вульфа-Брэгга и измеряют зависимость параметра выходного сигнала (например, его амплитуду) от величины уг. ла Вульфа-Брэгга, которая по известному "оотношению Брэгга пересчитывается в величину энергии излучения, Изменением угла отражения Вульфа-Брэгга достигается плавное изменение энергии регистрируемо 5 10 15 20 з зо 35 40 45 50 го излучения, причем возможна установка произвольного ряда значений энергии излучения с любым энергетическим интервалом между линиями. Этот интервал между линиями может быть выбран достаточно малым, чтобы уменьшить погрешность измерения...

Номер патента: 1080626

Опубликовано: 07.03.1988

Авторы: Герцен, Дашин, Дудкин, Маренный

МПК: G01T 5/10

Метки: заряженных, линейных, передач, спектров, тяжелых, частиц, энергии

...способ, обеспечивающий одностороннее травление детекторов, облученных тяжелыми.ионами с известными значениями ЛПЭ при помощи калиброванного источника и применяемыхв.качестве микрофнльтров. В процессе травления одна иэ сторон детектора контактирует с веществом, способным пРекращать травление. Это вещество может быть по отношению к травителю , нейтрализатором либо нейтральной средой. В процессе травления при образовании сквозного отверстия травитель контактирует с нейтрализатором нлинейтральной средой и в месте контактатравление прекращается, Использованиетакой улучшенной методики позволяетполучать небольшие отверстия 5, однородные по размерам (фиг.З), т.е. значительно повысить качество микро-.фильтров.Однако применение такого...

Номер патента: 1060035

Опубликовано: 07.02.1993

Авторы: Вербицкий, Комащенко, Круликовский, Мазин, Рыжиков, Силин, Фурсенко, Чалая

МПК: G01T 1/20

Метки: излучений, ионизирующих, регистрации

...изменение значения падения напряжения на сопротивлении нагрузки, к которому подключен вход опера"ционного усилителя,Входное Окно е 0 является частьюсцинтиллятора 3, через которую йонизирующее излучение попадает 9 объемсцинтиллятора. В используемых согласно изобретению полупроводниковыхсцинтилляторах которые ие йуедает" 38ся в защите от атиосФерного воздай"ствия, входное окно представляетиз себя механически обработайнуе етребуемой точйостье плоскость (какправило, торец цилиндра) иоиокрис" 4талла сцинтиллятора.Предложенное. устройство работаетследующим образом.В исходном состоянии между полу" ф проволником п-типа, которым являются сцинтиллятор 1 и низкоомный слой 2 сцинтиллятора, и полупроводником Р- типа, которым является...

Номер патента: 1066050

Опубликовано: 07.01.1984

Автор: Мильштейн

МПК: H05G 1/30

Метки: жестким, излучением, облучения, объектов, тормозным, установке, энергии

...причем отношениедозыого поля на этой глубине к максимуму дозного поля однозначно характеризует;рабочую энергию ускорителя, т.е. этот параметр можно испольэовать для регулирования энергииускоряемых электронов в установкедля облучения объектов жестким электромагнитным излучением,Способ реализуют в устансвке для облучения объектов жестким электромагнитным излучением, которая содержит ускоритель 1, например бетатрон, со средствами регулирования энергии электронов (не показаны) и мишенью (не показана) . В периферической части пучка (вне полезного пучка перед диафрагмой "(недоказана) установлен набор расположенных друг за другом по ходу пучка детекторов 2-7, разделенных слоями поглощающего ма териала 8-13. Предпочтительно детекторы 2-7...