161135
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 161135
Текст
ЯтДЗ дч-с Сру СЩ ИАЮСТК 1 ВСЕ РЕСБУьЯЯОПИСАБИЕ ИЗОБ РЕТЕНИЯ Т 161 И 5Класс 42 к, 3601 МПК б 01 п Заявлено 171 Ч.1961 (М 726487/26-8) ГОСУААРСТВЕННЫИКОМИТЕТ ПО ДЕЛАМИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙСССР УДК Опубликовано 09.111.1964. Бо;.л.тень ЛЪ 6 Подписная группа Л" 11 б В, А. Борисенко ПРИБОР ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ТВЕРДОСТИ МЕТАЛЛА В НАГРЕТОМ СОСТОЯНИИИзвестны приборы для измерения твердости металла в нагретом состоянии, содержащие герметичную камеру с высокотемпературным нагревателем, индентор с нагружателем и механизм вращения испытуемого образца.В предлагаемом приборе механизм вращения образца выполнен в виде подающего образсц винта и неподвижной в осевом направлении гайки, укрепленной в поворотной втулке, фиксируемой стопором, а также подвеской нажимного стержня иидентора на нитевсм подвесе и пропуском его через иапразляющее отверстие в поворотио укрепленной в камере шайбе, смещающей индентор относительно центра образца при ее повороте. Такое выполнение прибора позволяет увеличить число вдавливаний индентора в каждый образец путем вращения последнего и смещения относительно него индентора, а также упростить механизм вращения образца и крепление индентора.Сущность изобретения поясняется чертежом, изображающим предлагаемый прибоп, продольный разрез.Основными элементами предлагаемого прибора являются вакуумированная камера 1 с высокотемпературным нагревателем 2, индентор 3 с иагружателем 4 и механизм вращения испытуемого образца. Этот механизм выполнен в виде подающего образец винта 5 и не. подвижной в осевом направлении гайки б, ук. репленной в поворотной втулке 7, фиксируемой стопором 8. Нажимной стержень индентора 3 подвешен на нитевом подвесе 9 и пропущен;срез направляющее отверстие в ц 1 айбе 10, поворотно укрепленной в камере 1.1 Цайба смещает 11 нде 11 тор относительно центра образца при ее повороте. Рычаг 11 служит для загрузки и выгрузки образцов 12 и;1 столик 13. Смотровое окно 1-1 позволит производить с помощью пирометра измерение температур образца и нагревателя.Измерение твердости на приборе производится следующим образом.Столик 13 с винтом 5 опускается вниз, и рычаг 11 подает образец на столик, Затем вращением гайки б (от маховика 15) поднимают столик 13 с образцом вверх, причем последний устанавливают на расстоянии около 2.чя от наконечника индентора.После нагрева образца нагревателем 2 до заданной температуры и последующей определенной выдержки проводится нагружеиие образца 1 ля этого вновь столик 13 винтом 5 поднимают выше, образец упирается в индеитор и плавно поднимается с нагружателем 4, благодаря чему иа ием образуется отпечаток, размеры которого после извлечения образца из камеры 1 измеряют. По этим данным судят о его твердости. Для увеличения числа отпечатков образец вращают поворотом втулки 7, причем величину смещения индентора предварительно устанавливают поворотом шайбы 10.обретений и д. 4 дарст Типография, пр Сапунова Предмет изобретения Прибор для измерения твердости металла в нагретом состоянии, содержащий герметичную камеру с высокотемпературным нагревателем, индентор с нагружателем и механизм вращения испытуемого образца, о т л и ч а ющ и й с я тем, что, с целью увеличения числа вдавливаний индентора в каждый образец путем вращения образца и смещения относительно него индентора, а также упрощения механизма вращения образца и крепления индснтора, механизм вращения образца выполнен в виде подающего образец винта и непо,.южной в осевом направлении гайки, укрепленной в поворотной втулке, фиксируемой стопором, а пажимной стержень индентора подвешен на нитевом подвесе и пропущен через направляющее отверстие в поворотно укрепленной в камере шайбе, смещающей индентор относительно центра образца при ее повороте,
СмотретьЗаявка
726487
МПК / Метки
Метки: 161135
Опубликовано: 01.01.1964
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-161135-161135.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">161135</a>
Предыдущий патент: 161134
Следующий патент: 161136
Случайный патент: Реактор для проведения диффузии в производстве полупроводниковых приборов