159724

Номер патента: 342514

Опубликовано: 01.01.1972

Авторы: Таксар, Терехов, Тумулькан, Федорков, Федотов, Янушковский

МПК: G01B 15/02, G01N 23/02

Метки: листовых, пленок, плотности, поверхностной, толщины

...нечувствительные области регистрации детекторов ядерного излучения) . Поскольку в области б, прилегающей к источнику, поток обратнорассеянного от газовой среды р-излучения наиболе интенсивный, то доля нерегистрируемых из общего числа отраженных частиц значительна и применение даже идеально широкого детектора, охватывающего Области б и 7, пе позволяет устранить завиоимость числа регистрируемых частиц от изменения плотности отражающей среды. В результате становится нецелесообразным строить подобные устройства.Такиы образом, точность измерения толщмны или поверхностней плотностями листовых материалов и пленок сильно зависит от геометрии взаимного расположения источника излучения и детектора в тех случаях, когда изменяются параметры газовой...

Номер патента: 429399

Опубликовано: 25.05.1974

Авторы: Кацнельсон, Фурман

МПК: G02B 5/28

Метки: изготовлении, оптического, покрытия, слоев, толщины

...коэффициентом пропускания Т (Хо) при величине Хо, близкой 100%. В процессе осаждения слоев фиксируют максималь- НОЕ Рмаис И МИНИМаЛЬНОЕ Р,иЗНаЧЕНИЯ ВЕЛИ чины, получаемой на отсчетном приборе фотометрического устройства.Если полученное в результате измерений отношение Рмакс/бармин)уо (уО - расчетная величина, зависящая от показателей преломления 25 веществ, образующих покрытие), то слои напыляют до экстремального значения пропускания. Согласующий слой, т. е. первый слой системы, наносимой при Хо, напыляют либо до р=д, в том случае, когда он состоит из ма териала с низким показателем преломления,429399 Составитель В. ВанторинТехред Л. Акимова Корректор А. Васильева Редактор Т, Фадеева Заказ 207/14 Изд.860 Тираж 537...

Номер патента: 526768

Опубликовано: 30.08.1976

Авторы: Кацнельсон, Фурман

МПК: G01B 11/06

Метки: детали, изготовлении, оптического, покрытия, слоев, толщин

...производят при напылении слоя на уже готовую систему слоев.Непосредственно на деталь наносят первый простой диэлектрический пропускающий интерференционный фильтр к-го порядка, состоящий из двух одинаковых многослойных зеркал, разделенных слоем диэлектрика. Зеркала представляют собой двухкомпонентные системы из чередующихся непоглощающих слоев диэлектриков с высоким и низким показателями преломления, оптические толщины которых равны между собой. Оптическая толщина разделительного слоя в 2 к раз больше оптической толщины слоев зеркал.О том, что оптическая толщина достигла требуемой величины, делают заключение, регистрируя минимумы светопропускания для слоев с высоким показателем преломления и максимумы - для слоев с низким показателем...

Номер патента: 1635228

Опубликовано: 15.03.1991

Авторы: Голубев, Карлова, Локшин, Миклин, Шул

МПК: G01N 1/28, H01J 37/28

Метки: «и—или», волокна, высокопористых, исследований, кварцевого, количественных, микроскопах, образцов, оптическом, основе, подготовки, проведения, растровом, электронном

...материала на основе супертонкого кварцевого волокна, пропитанного тем же связующим Роливсан МВи протравленного в плавиковой кислоте в течение 5 мин (Ь/б 10),Вытравливание кварцевых волокон на поверхности шлифа увеличивает контраст получаемых изображений по меньшей мере вдвое за счет искусственного создания контраста по микрогеометрии, причем все структурные характеристики образца сохраняются неизменными (фиг, 1).Напыление тонкого слоя металла на поверхность шлифа не только предотвращает зарядку диэлектрического образца зондом РЭМ, но в случае напыления тяжелых металлов (Ац или Аи) способствует дальнейшему увеличению контраста.Высокое качество получаемых таким образом изображений поверхности позволяет применять такой,...

Номер патента: 527642

Опубликовано: 05.09.1976

Автор: Суюшев

МПК: G01N 21/46

Метки: интерферометр, исследования, оптически, плотности, поля, прозрачных, средах, флуктуаций

...Аналогичныеоптические Фурье - преобразователи, состоящие из линзы 11 и экрана 12, могут бытьрасположены последовательно с зеркалами1 О6, при этом эти зеркала должны быть полупрозрачными,Интерферометр работает следующим образом.Пучок света от источника 1 проходит ч15рез коллимирующую систему 2 и разделяется зеркалом 3 на два пучка А и Б, которые, отразившись от зеркал 4, проходят через исследуемую среду 5, где пересекаются,После прохождения через среду световые20пучки с помощью системы зеркал 6 и 7вновь соединяются. Узкополосный монохроматический фильтр 10 выделяет узкую спектральную линию, линза 8 производит оптическое Фурье- разложение суммарной комплекс 25ной амплитуды интерферирующих пучков, Наплоскости экрана 9 регистрируется...