ZIP архив

Текст

СОЮЗ СОВЕТСКИХ СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ РЕСПУБЛИККласс 21 а 4, 71 АВТО МУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ15831 ПК 6 01 г Заявлено 26.Х 1.1962803901,26-9) ГОСУДАРСТВЕННЫИКОМИТЕТ ПО ДЕЛАМИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИИСССР ЙК публиковано 1 ееХ.196 юллетеньИ СЫСФВЗВАЯИАТЕИТНфТКХБВЧЕСВАЯ Щ 11 ЯЧ", "ф СТРУКТФУ ---одписная группа Л 8. С. Шереш кии ИЧЕ СОЬ КОНТРОЛЯ ПЕР Определение периодически повторяющихсядефектов при контроле периодических структур, например замедляющих систем электронных приборов СВЧ диапазона затруднено исопряжено со значительным усложнением иудорожанием этих приборов.Отличительной особенностью предлагаемогоспособа контроля периодических структур является то, что световой поток, прошедшийчерез исследуемую структуру, оптически умножают и интегрируют. Для этого используют принцип получения спектра как взаимной корреляционной функции исследуемойструктуры и переменной эталонной частоты,получаемой с помощью двух дифракционныхрешеток одинакового периода, наложенныходна на другую и равномерно поворачиваемых одна относительно другой. Это позволяетбыстро и достаточно точно обнаружить периодические дефекты в шаге замедляющих систем электронных приборов СВЧ,На чертеже изображена схема устройствадля осуществления описываемого способа.Световой поток от источника 1 и конденсора 2 проходит через исследуемую структуру 3и две дифракционные решетки 4, после чегофокусируется объективом 5 на катод фотоумножителя б. Напряжение с нагрузочногосопротивления фотоумножителя подается насамописец 7.При повороте решеток одна относительнодругой меняется эталонный период, достигающий ряда значений от минимального до максимального, При совпадении эталонного периода с какой-либо периодичностью шага исследуемой структуры на фотоумножителе возникает импульс, который фиксируется самописцем в виде пика записи,.Если исследуемая структура, например спиральная или штыревая замедляющая система для приборов СВЧ, изготовлена точно, то на спектрограмме получится один пик записи. При наличии периодически повторяющихся дефектов появятся дополнительные пики, соответствующие периодам дефектов структуры,Описанный способ контроля является объективным, высокопроизводительным, не требует применения сложной аппаратуры и позволяет повысить качество электронных приборов СВЧ. едмет изооретения Спосоо контроля периодических структур, например спиральны.; нлн штыревых замедляющих систем для приборов СВЧ, с помощью светового потока, о т л и ч а ю щ н й с я тем, что, с целью быстрого и точного обнаружения периодических дефектов шага, световой поток, прошедший через исследуемую структуру, оптически умножают и интегрируют, используя в качестве эталонной периодической структуры с переменным периодом две дифракционные решетки одинакового периода, наложенные одна на другую н равномерно поворачиваемые одна относительно другой.

Смотреть

Заявка

803901

МПК / Метки

МПК: G01R 29/02

Метки: 158311

Опубликовано: 01.01.1963

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-158311-158311.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">158311</a>

Похожие патенты