ZIP архив

Текст

Ло 156749 Класс 6 01 п; 421, Звв Подписная группа Ж 173 11.)ф "С;, БЬЛь".:" , С. М, Сутовский СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕИИЯ КАМЕ( ТВА О"1 ИСТКИ ЗАПЫЛЕИИЫХ ГАЗОВ ЭЛЕКТРОЛ ИТИс 1 ЕСКИХ ПРОЦЕССОВЗаявлено 23 июля,962 г. за768656,23-4в Комитет по телам изобретений и открытий ири Совете .пиастров СССР Опубликовано в Бюллетене изобретений и товарных знаков16 за 1963 г.ИЯВестен спосоо Оценки кячестВЯ Очистки Газов От тВердых частиц путем взвешивания контрольных фильтров, устанавливаемых до ц после устройства для очистки.ОписываехЫй способ оценки качества очистки запыленцых газов электролитическцх процессов отличается от известного большец точностью и меньшей трудоемкостью.Способ основывается ца способности кристаллов галоидных солей щелочных металлов приобретать в результате термической активации Ооъемный заряд (при возмо)кностц Выходя электронов цз кристалла). Термическая активация галоидных солей происходит непосредственно при электролизе расплавов, например прц электролцтцчсском получении магния,По предлагаемом способу две газовые кюветы с торцовымц стеклами устанавливаются до и после очистного устройства, Через кюветы и ОтИСТИОЕ уСТроцСТВО ццреуЛИруЕТ ГяЗОВЫИ ПОТОК. Ня СТЕНКяк 1.ЮВЕТ, покрытых пленкой токопроводящих жидкостей (НС 1 и Н ЯОт) осаждаются термически актпвированные галоцдные соли щелочных металл си, которые прцооретаОт Ооъех 1 ный заряд, а ня зяряженцый слой осаждается слой нейтральных чатцц (например, хлорцд ъ 1 агпця).Через некоторое время кюветы отключаются ц производится измерение оптической плотности стекол фотометром цлц нефелометром, Для ка)кдой кюветы измеряется примерная запылеццость двух стекол, что усредняет показания.Степень очистки определяется как отношение оптических плотностей обеих кювет.156749Предмет изобретенияСпособ определения качества очистки запыленных газов электролитических процессов с применением очистных устройств, о т л и ч а ю- щ и Й с я тем, что, с целью повышения точности определения и сокращения времени анализа, определение ведут путем измерения оптических плоносей пылевых рельефов сеол кювет, помещенных до и после очистного устройства.Составитель В. Кубасов Редактор Т. С, Малиновская Текред А. А. Камышникова Корректор Ю. М. Федулова Подп. к печ, 15/ЧП - 63 г. Формат бум, 70 Х 108/ы Объем 0,18 изд, л.3 ак. 1874/16 Тираж 825 Цена 4 коп.ЦНИИПИ Государственного комитета по делам изобретений и открытий СССРМосква, Центр, пр, Серова, д, 4Типография, пр, Сапунова, 2

Смотреть

Заявка

788656

МПК / Метки

МПК: G01N 21/59

Метки: 156749

Опубликовано: 01.01.1963

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-156749-156749.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">156749</a>

Похожие патенты