ZIP архив

Текст

Лд 156252 Класс Н 01 п 1; 2 д, 215 6 01(; 421, 11 в; СССР АНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЪСТВ Гпг97 той. и сная гртпа юбченко и В, Г. Нестерен СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ТЕМПЕРАТУРНЪХ ПОЛЕИ НА ПОВЕРХНОСТЯХ, НЕДОСТУПНЪХ ВО ВРЕМЯ РАБОТЬ 4530/26-10овете Министров СССРзнаков16 за 1963 г за79 гй ири С оварнык Заявлено 12 сентября 962 г. делам изобретений и открытв Бюллетене изобретений и т Комитет ппубликовано: ффицце 5 та диффузии от темпсрят рь Я - энергия активации процесса Ов - параметр, практически це за 1( газовая постоянная, Т в . Ябсс ехр - обоз ячецие экспоненты. Использование радиоактивцы:( цз и яя целостности Об ьекта, определить в образец при данной темпера"уре Т трудно определить Т. Радиоактивный элемент учетом условий покрытия идиффузвцсяшии )лОтня 5 ии де от температуртемпература,тонов дает возможность, не нару- глубину .; проникновения атомов ВТ незя время т. 3 ня 51 То д случа Выбира 10 т в каждо.1 ОтдсльгОм отжцгя. Известны способы определения температурнык полей на поверцостя(, недоступных во время работы. Предлагаемьш способ позволяет непрерывно измерять телПерятурное поле Ооъектя. я также снижает погрешность измерений.Способ заключается в том, что повер:(ность исследуемого объекта покрывают с;Оем какого-пиоо радиоактивного элемента, а зате наносят защитный слой нерадиоактивцого металлахарактеристику температурного пол объекта определяют по величине частного отношений интенсивностей 1 з- и у-излучений после и до отжцга.В гредлагаемом способе использована звестняя зависимость коЬв 156252Состав излучения большинства элементов сл 1 кцый. Так например, излучение Сова, использовавшегося при проверке описываемого способа, складывается из Д- и у-излучений.Наиоолее удобной характеристикой такого излучения является величина отношения интенсивностей Д- и у-излучений, т. е. У У, которая не зависит от числа радиоактивных атомов в системе, а изменяется и тем больше, чем вьше температура отжига. Поэтому, вводя величинуу.,К-. =, где - .з, У, - -величина отношения интенсивностей после Отжига, получаем величину У,-.Однозначно характеризующую температуру отжига, определяемую с помощью эталонирсвочной кривой К - 7, построенной для образцов из одного и того гке материала.П р едм ет иобретенияСпособ определения температурных полей на поверхностях, недоступных во время работы, отличающийся тем, что, с целью измерения температурного поля объскта и сиикения погрешности измерений, поверхность исследуемого объекта покрывают слоем какого- либо радиоактивного элемента, например Соко, с последующим нанесением защитного слоя нерадисактивного металла, а характеристику тем. пературного поля объекта определяют но величине частного отношений интенсивностей 13- и у-излучений после и до откига.Составитель И. Л, ОрловаРедактор Л. К. Ушакова Текред А. А, Камышникова Коррекзор В. П. ФоминаПоди. к печ. 1 О/Ч 11 - 63 г. Формат бум. 70 Х 108/1 б Объем 0,18 изд, л. Зак. 1826/8 Тирак 1226 11 сна - коп. ЦНИИПИ Государственного комитета по делам изобретений и открытий СССР Москва, 11 еитр, пр. Серова, д. . Типография, пр. Сапунова, 2.

Смотреть

Заявка

794530

МПК / Метки

МПК: G01K 17/20, G21H 5/00

Метки: 156252

Опубликовано: 01.01.1963

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-156252-156252.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">156252</a>

Похожие патенты