155507

Номер патента: 1562842

Опубликовано: 07.05.1990

Авторы: Добровольский, Кошуков

МПК: G01N 29/02

Метки: акустической, антенны, излучающей, кавитационно, опасных, поверхности, участков

...имппреобразователя в а как из эквивалентной ателя в воздухе (фиг Измеряют частоты резонанса Г, антирезонанса Г , напряжение резонанса Б и антирезонанса 11 каждого преобразователя в антенне в соответствии с ОСТ 5.8361-75 и РД 5,9122-73 соответственно,Определяют коэффициент трансформации и каждого преобразователя в антенне по формуле (в сочетании с РД 5.9122-73) од щих операций.Измеряют модуль импед преобразователя антенны ответствии с РД 5,0542-8Определяют сумму моду кого импедансаЕи и лученияЕз 1, так как из ной схемы преобразовател (Фиг.2).вытекает, чтоводи Е.ЕмЕ + 21 е- колебательная скорость точкиприведения преобразователя. Известно,что колебательная ско- сть( ---2 ГЕ Ст еорд Е, )где Р стическое давле преобразователя не; е точан 1,5%...

Номер патента: 456719

Опубликовано: 15.01.1975

Автор: Нуриев

МПК: B24B 49/02

Метки: активного, детали, поверхностей, размеров

...которых содержитизмерительную трехконтактную головку 1,усилитель 2 и формирователь 3 команд.15 Измерительные головки 1 установлены накаждой из одновременно обрабатываемой ступени шлифуемой детали 4. Выходы усилителей 2 соединены со входами сравнивающихустройств 5, выходы которых соединены с.10 электронным коммутатором 6 реверсивногодвигателя 7. Ротор реверсивного двигателя 7связан с механизмом поперечной подачи правильного а.пмазного наконечника 8, предназначенного для правки крута 9.25 Система активного контроля работает следующим образом,В исходном положении на позиции обработки устанавливается заготовка 4, к которойподводятся все измерительные трехконтакт 30 ные головки 1 (два контакта служат для уп 456719равления режимами, а третий...

Номер патента: 70554

Опубликовано: 01.01.1948

Автор: Веннер

МПК: B24B 1/00, B24B 19/08

Метки: архимедовой, криволинейных, круга, поверхностей, поверхностью, спирали, способу, торцевой, шлифования, этому

...круга и проходящей (на фиг. 1) через точку В.Предлагаемое приспособление для шлифования собрано на основной плите 4 (фиг. 3), снабженной цапфой 1 (точка В на фиг, 1) и имеющей направляющий паз 5 (фиг. 3 и 4) (ось А,А, на фиг. 1), по которой перемещается палец 3 (точка С на фиг, 1). Цапфа 1 расположена по оснаправляющего паза б в плоскости торца шлифовального круга 2. На цапфу 1 насажена поворотная плита б, несущая на себе салазки 7. Эги салазки во время работы двигаются вдоль направляющих поворотной плиты б (по оси А-А на фиг. 1). На салазках 7 смонтирован шпиндель 8 (полюс О на фиг. 1), несущий обрабатываемое изделие 9. Вращением винта 10 (фиг. б) осуществляется перемещение ползуна 1 (фиг, 5) поперек салазок 7, Движение ползуна...

Номер патента: 440729

Опубликовано: 25.08.1974

Авторы: Москаленко, Соколов, Фейзулла

МПК: H01G 15/00

Метки: антенны, выполнения, зеркала, параболической, поверхности, точности

...решаемой численно на ЭВМ, из которых первое уравнение этой системы выражает закон равенства углов падения и отражения на поверхности корректора, а второе - условие равенства длин путей от облучателя до любой точки поверхности расчетного параболоида.Устройство работает следующим образом.Частота СВЧ-генератора 6 дальномера 2 изменяется по синусоидальному закону колебания частотного модулятора 7, Часть мощности падающего сигнала ответвляется направленными ответвителями 8, 9, 10 соответственно на смесители 11, 12 и плавнопеременную линию задержки 13. Ероме того, на смесители 11 и 12 поступают следующие сигналы:а) отраженный сигнал от исследуемого зеркала 1 через циркулятор 14 поступает на смеситель 11;б) отраженный сигнал от линии...

Номер патента: 1246197

Опубликовано: 23.07.1986

Авторы: Воронин, Мелентьев, Пилипенко, Рабинович, Рыбаков, Смирнов, Утробин, Шанников

МПК: H01Q 13/10

Метки: антенная, исследования, поверхности, подстилающей

...решетки (ФАР) 1, установленные на ЛА 2, при этом угол между плоскостями плоских ФАР выбран из предлагаемого соотношения.Система работает следующим образом.Каждая из плоских ФАР 1 расположена так, чтобы нормали к их плоскостям направлялись на противоположные края сектора обзора (полосы обзора вдоль направления движения ЛА). Ширина луча антенной системы для исследования подстилающей поверхности при отклонении луча от нормали к ее раскрыву определяется соотношением где 8 - ширина луча по уровню полаь 5винной мощности;- рабочая длина волны;Е, - поперечный размер плоскойФАР 1;ф - угол между плоскостями плоских ФАР 1;ч - отклонение луча ат нормалик раскрыву.Тогда разрешающая способность оХ на подстилающей поверхности по поперечной...