Способ определения пригодности стекол для резистивных композиций
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 1548757
Авторы: Абдурахманов, Вахидова
Текст
)5 С 01 И 33/38 ТЕНИЯ ТЕЛЬСТВ УэССРВахидов Технические РИГОДНОСТИМПОЗИЦИЙя к областитронной течеИзобретение относи производства изделий ники, а именно для оп ности силикатного сте я к области ектронной техеделения пригод а при изготовмером60+2 С,лении тол Цельи и т Сцо иост б ос твляют следующим обэом ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМПРИ ГКНТ СССР ОПИСАНИЕ К АВТОРСКОМУ С(54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПСТЕКОЛ ДЛЯ РЕЗИСТИВНЬБ КО(57) Изобретение относитспроизводства изделий элек топленочных резисторов.обретения - повышение ст В корундовых тиглях варят стекломарки С-К, содержащее 33 мас,ЖБьО и 67 мас,7. РЪО. Проводят 12 варок. Полученное стекло каждой варкиизмельчают в агатовых барабанах напланетарной мельнице в течение 28 ч,На основе измельченного стекла готовят резистивные композиции с добавлением 20 мас.Х КпО в качестве проводящей Фазы, 18 мас,7 органическогосвязующего, содержащего 1 ч, ланолинаи 10 ч, циклогексанола сверх 1003 порошка,Методом трафаретной печати на керамических подложках (967 А 1 О ) с серебряно"палладиевыми контактами изго-,.ЯО 1548757 техники, Цель изобретения - повышениестепени точности, Для стекол с оптимальными электрическими параметрамирезистивных композиций регистрируютинфракрасные спектры, О пригодностистекол для резистивных композицийсудят по. совпадению их инфракрасныхспектров с эталонными. Инфракрасныйспектр стекол регистрируют на мелкойфракции, порошка, не оседающего надно при отмучивании в жидкости вние 5-15 мин, 2 з,п, ф-лы,тавливают пробные резисторы раз 5 х 5 мм . Температура вжигания 8 время вжигания 10+0,5 мин,Измеряют электрические характерис" тики пробных резисторов: величину сопротивления на комбинированном цифровом приборе П 1-300, температурный коэффициент сопротивления в интервале температур 20-155 С, коэффициент напряжения К при напряжении 50- 500 В с использованием источника пита ния УИП. Из стекол с оптимальными электри- и ческими параметрами резистивных композиций готовят порошки для регистрации инфракрасного спектра, Порошки отмучивают в дистиллированной воде (соотношение воды и стекла по массеф 10:1) в течение 5-15 мин, Затем мел- ффффф кую фракцию стекла, не осевшую на дно, отделяют фильтрацией, высушивают при 100+5 С до постоянного веса, Порошок стекла в количестве Зф 0,1 мг смешивают с КВг, и прессуют таблетки для ре1548757 Формула изобретения Составитель М,Слинько Редактор В,Данко Техред М. Ходанич Корректор М,ПожоПодписное Тираж 506 Заказ 140 ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР 113035, Москва, Ж, Раушская наб д. 4/5Производственно-издательский комбинат "Патент", г,ужгород, ул. Гагарина,101 гистрации инфракрасного спектранаспектрометре,Сравнивают инфракрасный спектр проверяемого стекла с эталонным и о при 5годности его для резистивных композиций судят по совпадению спектров,101, Способ определения пригодности стекол для резистивных композиций, включающий отбор образцов стекол, изготовление резистивных композиций оп ределение их электрических параметров 15 и сравнение:с эталонными, о т л и ч аю щ и й с я тем, что, с целью повышения степени точности, на образцах стекол с оптимальными электрическимипараметрами резистивных композиций регистрируют инфракрасные спектры, апригодность стекол для резистивныхкомпозиций определяют по совпадениюих инфракрасных спектров с эталонными2, Способ по п. 1, о т л и ч нющ и й с я тем, что регистрацию инфракрасных спектров осуществляют намелкой фракции порошка стекла, не осе.дающего при отмучивании в жидкостив течение 5-15 мин,3, Способ по п. 1, о т л и ч а ющ и й с я тем, что эталонный инфракрасный спектр снимают для каждоймарки стекла,
СмотретьЗаявка
4449386, 06.05.1988
ОТДЕЛ ТЕПЛОФИЗИКИ АН УЗССР
АБДУРАХМАНОВ ГУЛМУРЗА, ВАХИДОВА ГУЛЬБАХОР САЛИМОВНА
МПК / Метки
МПК: G01N 33/38
Метки: композиций, пригодности, резистивных, стекол
Опубликовано: 07.03.1990
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-1548757-sposob-opredeleniya-prigodnosti-stekol-dlya-rezistivnykh-kompozicijj.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ определения пригодности стекол для резистивных композиций</a>
Предыдущий патент: Способ определения скорости минерализации гумуса в почве
Следующий патент: Устройство для определения направления движения
Случайный патент: Шарошечное долото