Способ определения остаточных напряжений в объектах из поликристаллических материалов

Номер патента: 1543258

Авторы: Комар, Мигаль, Ульянов, Чугай

ZIP архив

Текст

СООЗ СОВЕТСКИХКЩЮЛДЕЕП 4 ИКРЕСПУБЛИК 43 1)5 С 01 Ь 1/ й 83 авАПОНИ илЛ Е.Б.с.1 О" ИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕН ститу ие слечес В.П. МигалН. Чугай 8,8) .М. Методы свойств кр с. 67.) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕ РЯЖЕНИИ В ОБЪЕКТАХ ЕСКИХ МАТЕРИАЛОВ ) Изобретение отн тальным методам о ИЯ ОСТАТОЧН ИЗ ПОЛИКРИ ТАЛерисится к экс ределения м ха О Изобретение относ к изме ительнои тех ся для изме ний в поликр х материалах исталлич бретения яется расшиможностейений в обласелью изе функцим опредимеющифическуюпособ зрхностьрископ нальных в ения напр пониженную У я Р ристалло-. имметрию,ключается вом, что н ов л ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТПО ИЭОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМПРИ ГКНТ СССР К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ"Монокристаллреактив" и Научнодовательский центр по технологким лазерам АН СССР(72) В.К. Комарь, В.А. Ульянов и О. (53) 531,781.2(08 (56) Меланхолин Н вания оптических М.: Наука, 1970,Меланхолии Н,М Методы исследова свойств кристалло (54НАПЛИЧ(57 ке и может использовать ния остаточных напряжеобъекта, помещенного вежду поляризатором и .ананических напряжений в прозрачныхкристаллических материалах и можетбыть использовано в квантовой электронике и оптоэлектронике, Целью изобретения является повышение эффективности путем определения напряженийв областях, имеющих пониженную кристаллографическую симметрию. Для этого на поверхность объекта помещаютматрицу одинаковых шариков, изготовленных из одноосного кристалла, оптическая ось которых перпендикулярнаповерхности объекта, фотографируютобъект в поляризованном свете, повиду и величине искажений ветвейизогир судят о распределении напряжений и областей с пониженной симметрией. Остаточные напряжения в областях с пониженной симметрией определяют путем поворота анализатора до полного восстановления коноскопическойкартины, а в остальных областях -путем измерения интенсивности светав центральной области коноскопической картины. лизатором, помещают матрицу микроконоскопов-компенсат оров из одноосного кристалла таким образом, что их ось перпендикулярна поверхности объекта, Затем на фотографии объекта по искажению изогир находят области с пониженной кристаллографической симметрией. Затем поворачивают анализатор до восстановления коноскопической картины и по углу поворота определяют остаточные напряжения в областях с пониженной кристаллографической симметЗаказ 394 Тираж 477 ПодписноеВИИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКИТ СССР 113035, Москва, И, Раушская наб., д. 4/5 Производственно-издательский комбинат "Патент", г.ужгород, ул. Гагарина,101 рией. В областях без нарушения кристаллографнческой симметрии измеряютинтенсивность света в центре коноскопической картины, по которой определяют остаточные напряжения в этихобластях,Формула изобретенияСпособ определения остаточных напряжений в объектах из поликристаллических материалов, основанный на наблюдении коноскопической картины с помощью прозрачного шарика, помещенного на поверхность объекта, расположенного в полярископе между поляризатором и анализатором, о т л ич а ю щ и й с я тем, что, с целью пОвышения эффективности путем определения напряжений в областях, имеющих пониженную кристаллографическую симметрию, на поверхность объекта помещают матрицу микроконоскопов-компенсаторов, изготовленных из одноосного кристалла в виде нескольких одинако-вых шариков, оптическая ось которых перпещщкулярна поверхности объекта,фотографируют объект и по характеру и величине искажений ветвей изогир судят о распределении напряжений в объекте и находят области с пониженной кристаллографической симметрией, причем остаточные напряжения в областях с пониженной кристаллографической симметрией определяют по углу поворота анализатора до пног восстановления киноскопической картины, а в областях без нарушения кристаллографической симметрии после поворота анализатора измеряют интенсивность света в центральной области коноскопической картины, по которой рассчитывают остаточные напряжения

Смотреть

Заявка

4302444, 31.08.1987

ХАРЬКОВСКИЙ АВИАЦИОННЫЙ ИНСТИТУТ ИМ. Н. Е. ЖУКОВСКОГО, ХАРЬКОВСКОЕ НАУЧНО-ПРОИЗВОДСТВЕННОЕ ОБЪЕДИНЕНИЕ "МОНОКРИСТАЛЛРЕАКТИВ", НАУЧНО-ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИЙ ЦЕНТР ПО ТЕХНОЛОГИЧЕСКИМ ЛАЗЕРАМ АН СССР

КОМАРЬ ВИТАЛИЙ КОРНЕЕВИЧ, МИГАЛЬ ВАЛЕРИЙ ПАВЛОВИЧ, УЛЬЯНОВ ВАЛЕРИЙ АНДРЕЕВИЧ, ЧУГАЙ ОЛЕГ НИКОЛАЕВИЧ

МПК / Метки

МПК: G01L 1/24

Метки: напряжений, объектах, остаточных, поликристаллических

Опубликовано: 15.02.1990

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-1543258-sposob-opredeleniya-ostatochnykh-napryazhenijj-v-obektakh-iz-polikristallicheskikh-materialov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ определения остаточных напряжений в объектах из поликристаллических материалов</a>

Похожие патенты