Отсчетное устройство для измерения малых линейных перемещений
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 149886
Автор: Пирогов
Текст
Класс 42 Ь, 8,ПИСАНИ ЗОБРЕТЕН ВИДЕТЕЛЬСТВ ВТОРСКО одписная группа164 Г. гов ОТСЧЕТНОЕ У ИЗМЕРЕНИЯ МАЛЫХ ЛИРОЙ СТВОЕЙНЫХ ПЕРЕМЕЩЕНИ Заявлено 8 итет по делам изобрекабря 1961 г. за Лоо 754757/26ний к открытий при Совете Министров СССР публиковано в Бюллетене изобретений % 17 за 1962 г,тсчетного устройства жестко прикреплен к Известны отсчетные устройства для измерения малых линейных перемещений пластины чувствительного элемента (датчика), включающие в себя стеклянную шкалу, жестко укрепленную на пластине чувствительного элемента, и микроскоп-микрометр.Отличительная особенность описываемого осостоит в том, что его проектирующий объективпластине чувствительного элемента.Устройство такой конструкции повышает точность измерений, Иа чертеже схематически изображено описываемое устройство.К свободному концу чувствительного элемента 1, линейное перемещение которого измеряют, жестко крепится проектирующий объектив 2 (отрицательная система), дающий уменьшенное изображение штрихов измерительной стеклянной шкалы 3. Располагают короткофокусный объектив 2 на рассстоянии от стеклянной шкалы, равном нескольким его фокусным расстояниям.На одной оси со шкалой и проектирующим объективом расположен микроскоп 4, включающий в себя объектив 5, окуляр б и шкалу 7 окуляра. Второй конец чувствительного элемента, измерительная шкала и микроскоп жестко закреплены на раме 8, Оптическая система дает изображение измерительных штрихов в плоскости шкалы окуляра. Все детали устройства расположены друг за другом на одной оси и жестко связаны между собой рамой 8. Сохраняя по оси постоянными расстояния между шкалой, объективом и микроскопом и смещая объектив в направлении, перпендикулярном его оси, на малые линейные величины, вызванные перемещением свободного конца чувствительного элемента, можно благодаря смещению изображения измерительного штриха относительно нулевой линии окуляра микроскопа наблюдать149886 визуально в микроскоп малые смещения свободного конца чувствительного элемента,Предлагаемое устройство может найти применение в качестве отсчетного приспособления в точных измерительных приборах и инструментах различного назначения. Предмет изобретения Отсчетное устройство для измерения малых линейных перемещений пластины чувствительного элемента, содержащее стеклянную шкалу, шкаловой микроскоп, а также короткофокусный объектив, проектирующий стеклянную шкалу в поле зрения шкалового микроскопа, отл и ч а ю щ е е с я тем,что, с целью повышения точности измерений, проектирующий объектив жестко прикреплен к пластине чувствительного элемента. Составитель М. А. Хеси осквина Техред А, А. Кудрявицкая Корректор Р. М, Рамазанов РЕдактор зд. л. коп. осквз, Петровка, 14 Типография ЦБТ 9 Подп. к печ. 25.Иг. Зак. 7760 ЦБТИ Комитета по дел МоскХ 108/и Объем 0,18Цена тий при Совете Министров С й пер., д. 2/6.
СмотретьЗаявка
754757, 08.12.1961
Пирогов В. Г
МПК / Метки
МПК: G01B 11/00
Метки: линейных, малых, отсчетное, перемещений
Опубликовано: 01.01.1962
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-149886-otschetnoe-ustrojjstvo-dlya-izmereniya-malykh-linejjnykh-peremeshhenijj.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Отсчетное устройство для измерения малых линейных перемещений</a>
Предыдущий патент: Способ производства никелевых анодов для электролитического получения никеля
Следующий патент: Установочный калибр
Случайный патент: Теплообменная поверхность