Способ испытаний электроаппаратуры на наличие короткозамкнутых элементов

Номер патента: 1476407

Авторы: Воронин, Калиниченко, Носов, Семенов, Турышев

ZIP архив

Текст

(51)4 С 01 ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИПРИ ГКНТ СССР ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ ко,рьппе К А ВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ(71) Запорожский индустриальный институт и Всесоюзный научно-исследова тельский, проектно-конструкторский и технологический институт силовых полупроводниковых устройств(56) Авторское свидетельство СССР390475, кл. С 01 К 27/18, 1971.Авторское свидетельство СССР711503, кл. С 01 К 31/28, 1978. (54) СПОСОБ ИСПЫТАНИЙ ЭЛЕКТРОАППАРАТУРЫ НА НАЛИЧИЕ КОРОТКОЗАМКНУТЫХ ЭЛЕ МЕНТОВ(57) Изобретение относится к электро испытательной технике и может быть использовано для испытания электро- аппаратуры при наличии короткозамкну тых элементов. Целью изобретения является повьппение производительноститруда при испытаниях. В устройстве,реализующем способ, если испытуемыйэлемент 1 не пробит, то ток, созданный в нем наведенной вторичной ЭДС,мал. При этом генератор 1 работает внормальном автоколебательном режимеи от источника 10 потребляется ток,который вызывает свечение индикатора8. Если испытуемый элемент 11, на вывод которого накладывается. разъемныймагнитопровод 5, пробит, то автоколебания в генераторе 1 срываются из-зауменьшения коэффициента обратной связи. При этом транзисторы генератора 1запираются, ток от источника 10 неФпотребляется и индикатор 8 не светится. На чертеже также показаны обмотки 2 и 3 обратной связи, выходная обмотка 4 генератора, разъемный магии- Стопровод 5, короткозамыкатель 6,внешняя часть 7 испытываемой электроаппаратуры и выключатель 9. 1 ил.Фаей147640 Формула изобретения Составитель А,ПржебельскийРедактор А. Ревин Техред Л. Олийнык Корректор Э.Лончакова Заказ 2152/46 Тираж 714 ПодписноеВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР113035, Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5 Производственно-издательский комбинат "Патент", г,Ужгород, ул. Гагарина,101 Изобретение относится к электроис" пытательной технике и может быть использовано для испытаний электроаппаратуры на наличие короткоэамкнутых элементов.Цель изобретения - повышение производительности труда при испытаниях.На чертеже изображена блок-схема устройства для осуществления предлагаемого способа.Устройство содержит генератор 1 тестовой ЭДС, первую 2 и вторую 3 обмотки обратной связи, выходную обмотку 4 генератора, разъемный магнитопровод 5, короткозамыкатель 6, внешнюю часть 7 испытуемой электроаппаратуры, индикатор 8, выключатель 9, источник 10 питания, испытуемый элемент 11, причем, обмотки 2, 3 и 4 на мотаны на магнитопроводе 5, который охватывает вывод элемента 11 между его корпусом и местом подключения короткозамыкателя 6 к выводу элемента 11, средняя точка обмотки 4 соеди иена с первым выводом индикатора 8, второй вывод которого соединен с первым выводом источника 10 через выключатель 9, а второй вывод источника 10 соединен с общей шиной генера тора 1.Устройство работает следующим образом.Если испытуемый элемент 11 не пробит, то ток, созданный в нем наведен 7ной вторичной ЭДС, мал. При этом генератор 1 работает в нормальном авто"колебательном режиме и от источника10 потребляется ток, который вызывает свечение индикатора 8. Если испытуемый элемент 11, на вывод которогонакладывается разъемный магнитопровод 5, пробит, то автоколебания в генераторе 1 срываются из-за уменьшениякоэффициента обратной связи, При этомтранзисторы генератора 1 запираются,ток от источника О не потребляетсяи индикатор 8 не светится. Способ испытаний электроаппаратуры на наличие короткозамкнутых элементов, заключающийся в том,что в испытуемом элементе наводят тестовую ЭДС, измеряют величину протекающего в нем тока, сравнивают величину измеренного тока с эталонным значением и по превышению величиной измеренного тока эталонного значения. судят о наличии короткого замыкания в испытуемом элементе, о т л и ч а ю щ и й - с я тем,что,с цельюповышения производительности трудапри испытаниях,меж-, ду выводами испытуемого элемента подключают короткозамыкатель, а тестовую ЭДС наводят. в выводе испытуемого элемента между его корпусом и методом подключения короткозамыкателя.

Смотреть

Заявка

4074724, 29.04.1986

ЗАПОРОЖСКИЙ ИНДУСТРИАЛЬНЫЙ ИНСТИТУТ, ВСЕСОЮЗНЫЙ НАУЧНО-ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИЙ, ПРОЕКТНО КОНСТРУКТОРСКИЙ И ТЕХНОЛОГИЧЕСКИЙ ИНСТИТУТ СИЛОВЫХ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ УСТРОЙСТВ

СЕМЕНОВ ВСЕВОЛОД ВСЕВОЛОДОВИЧ, КАЛИНИЧЕНКО АЛЕКСАНДР ПАВЛОВИЧ, НОСОВ ЕВГЕНИЙ ВЛАДИМИРОВИЧ, ВОРОНИН АЛЕКСАНДР ГЛЕБОВИЧ, ТУРЫШЕВ КОНСТАНТИН ОЛЕГОВИЧ

МПК / Метки

МПК: G01R 31/02

Метки: испытаний, короткозамкнутых, наличие, электроаппаратуры, элементов

Опубликовано: 30.04.1989

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-1476407-sposob-ispytanijj-ehlektroapparatury-na-nalichie-korotkozamknutykh-ehlementov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ испытаний электроаппаратуры на наличие короткозамкнутых элементов</a>

Похожие патенты